Способ дефектоскопии магнитных изделий

Номер патента: 868559

Авторы: Бобров, Веремеенко, Каплан, Майзенберг

ZIP архив

Текст

Сеоз СоветскихСоциалистическихРеспублик ОПИСАпИЕИЗОВРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВ ЕИЛЬСТВУ 1 ц 868559(51)м. Кл з 501 и 29/04 Государственный комитет СССР ио аелам изобретений и открытий(54) СПОСОБ ДЕФЕКТОСКОПИИ МЬГНИТНЬИ ИЗДЕЛИЙ Изобретение относится к нераэрушающему контролю и может быть использовано для выявления деФектов в иэделияхиз магнитных материалов.5Известен способ дефектоскопии магнитных изделий, заключающийся в реги.страции статических магнитных полейрассеяйия от дефектов 11.Наиболее близким по техническойсущности к предлагаемому являетсяспособ дефектоскопии магнитных изделий, основанный на модуляции статических магнитных полей рассеянияультразвуком, Он заключается в том,что иэделие намагничивают, возбуждают ультразвуковые колебания и регистрируют электромагнитные поля рассе.яния от дефектов 2.Недостатком данных способов является невозможность выявления внутренних дефектов.Цель изобретения - расширениеФункциональных возможностей,Указанная цель достигается тем,что возбуждают ультразвуковые колебания с вектором поляризации нормальнымк поверхности изделия над дефектнойзоной, а регистрацию электромагнитного поля рассеяния ведут при напряженности поля подмагниыивания, соответ- ЗО ствующей максимуму магнитоупругойсвязи,На фиг. 1 представлен вариант реализации данного способа с помощьюповерхностной волны; на Фиг. 2 - тоже, с помощью зигзагообразно распространяющейся объемной поперечной волны,На схемах реализации способа (.Фиг.1 и 2) показаны контролируемое изделие 1, преобразователь 2 для излучения ультразвуковых колебаний в контролируемом изделии, возбуждающийгенератор 3, усилитель 4 для усиле,ния регистрируемых приемником 5 электромагнитных полей и индикатор 6. Способ заключается в следующем.При намагничивании контролируемых изделий на гранях внутренних дефектов формируются эффективные вторичные заряды, которые, в свою очередь, формируют вторичные магнитные колебания, излучаемые преобразователем, распространяясь в контролируемом иэделии, производят акустическую модуляцию поверхностных вторичных зарядов, обусловленйую магнитострикцией и приводящую к возникновению электромагнитных полей рассеяния, которые регистрируют 868559ся приемником, усиливаются усилителем и поступают на индикатор.Такая акустическая модуляция обеспечивается ультразвуковыми колебаниями с определенной поляризацией, при кото- рой вектор поляризации нормален к поверхности иэделия над дефектной зоной т.е. в ультразвуковой нолне содержит- ся нормальная к поверхности изделия компонента смещения.С другой стороны коэФФициент магии тоупругой связи, определяющий эффективность акустической модуляции магнитных зарядов, экстремально зависит от величины напряженности магнитного поля, что обуславлинает необходимости регистрации электромагнитных полей 15 рассеяния при напряженности поля подмагничинания, соответствующей максимуму магнитоупругой связи.На Фиг. 1 показано выявление внутреннего дефекта с помощью поверхност О ной волны, в которой вектор смещения имеет как касательную, так и нормальную компоненту, с помощью которой осуществляетя модуляция вторичных магнитных зарядов.25На фиг. 2 показано выявление дефекта с помощью зигзагообразно распространяющейся объемной поперечной волны.Угол ввода данной волны в изделие выбран таким образом, чтобы у вектора смещения была значительная нормаль-ЗО ная к поверхности изделия компонента,При данном варианте контроля расстояния между излучателем 2 и приемником 5 Фиксировано, и электромагнитные поля рассеяния дефекта регистрируются в тот момент, когда дефектная зона в процессе перемещения иэделия относительно преобразователей оказывается под приемником 5.формула изобретенияСпособ дефектоскопии магнитных изделий, заключающийся в тсм, что изделие намагничивают, возбуждают ультразвуковые колебания и регистрируют электромагнитные поля рассеяния от дефектов, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью расширения Функциональных возможностей, возбуждают ультразвуковые колебания с вектором поляризации нормальным к поверхности изделия над дефектной зоной, а регистрацию электромагнитного поля рассеяния .ведут при напряженности поля подмагничивания, соответствующей максимуму магнито-упругой связи.фИсточники информации принятые во внимание при экспертизе 1. Зацепин Н.Н., Щербинин В.Е.868559 Янович Состав ителРедактор М.Андреева Техред А д. 4/5 Патент" ужгород, ул. Проектная, 4 Филиа Заказ 8312/61ВНИИПИ Гопо делам 113035 т М Тираж 910арственного комитетаэобретений и открытийва, ЖРаушская на рректорМ. Пожо дписное

Смотреть

Заявка

2373097, 14.06.1976

ВСЕСОЮЗНЫЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ПО РАЗРАБОТКЕ НЕРАЗРУШАЮЩИХ МЕТОДОВ И СРЕДСТВ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА МАТЕРИАЛОВ

МАЙЗЕНБЕРГ МИХАИЛ ИОСИФОВИЧ, КАПЛАН МИХАИЛ ДАНИЛОВИЧ, ВЕРЕМЕЕНКО СТАНИСЛАВ ВЛАДИМИРОВИЧ, БОБРОВ ВЛАДИМИР ТИМОФЕЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 29/04

Метки: дефектоскопии, магнитных

Опубликовано: 30.09.1981

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-868559-sposob-defektoskopii-magnitnykh-izdelijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ дефектоскопии магнитных изделий</a>

Похожие патенты