Способ измерения коэффициентов пропусканияи коэффициентов отражения оптическихматериалов

ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз СоветскикСоциалистическимиРеспублик(51)М. Кл. С 01 3 1/04 Государственный комитет СССР по делам изобретений и открытий(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТОВ ПРОПУСКАНИЯ И КОЭФФИЦИЕНТОВ ОТРАЖЕНИЯ ОПТИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ Изобретение относится к области фотометрии и может быть использованодля измерения поглощающих и отражающих свойств оптических элементов и материалов.Известен способ измерения коэффициентов пропускания оптических материалов и коэффициентов отражения оптических материалов.10При реализации этого способа световой пучок источника при помощи светоделительного покрытия разделяют наизмерительный и эталонный пучки пропускают измерительный пучок через.исследуемый материал или отражают его 15от исследуемого зеркала, проводятвременное разделение пучков, подаютих на приемник излучения и сравнивают выходные сигналы приемника,Недостатком известного способаявляется малая чувствительность,Наиболее близким по техническойсущности к изобретению является способ измерения коэффициентов пропускания и коэффициентов отражения оптических материалов заключающийся втом, что световой пучок источникапространственно разделяют на измерительный и эталонный, пропускают измерительный пучок через исследуемый оптический материал или отражают егоот исследуемого оптического материала, производят временное разделениепучков, подают их на фотоприемник исравнивают выходные сигналы фотоприемника,Недостатком способа является то,что световой пучок источника два раза проходит через светоделительноепокрытие, в результате чего интенсивность излучения в измерительноми эталонном пучках оказывается в двараза меньше, а на приемнике излучения в четыре раза меньше, чем интенсивность излучения источника, чтоприводит к снижению точности измерений и уменьшению диапазона измеряемых коэффициентов пропускания оптических материалов и коэффициентов отражения зеркал.Целью изобретения является повышение точности и расширение диапазона измерений.Поставленная цель достигаетсятем, что по предложенному способу,при осуществлении которого световойпучок источника пространственно разделяют на измерительный и эталонный,пропускают измерительный пучок черезоптический материал или отражают егот оптического материала, проводятвременное разделение пучков, подаюткх на фотопркемник и сравнивают выходные сигналы Фотоприемника, пространственное и временное разделениесветовых пучков производят одновременно путем сканирования,Способ реализуется следуюшим образом. Оптическое 1 злучение от источника подают на отражающее покрытие,путем сканирования отражающим покрытием проводят пространственное и временное разделение светового пучка источника на измерительный и эталонныйпучки, пропускают измерительный пучокчерез исследуемый материал кли сваривжают его от исследуемого зеркала, подают оба пучка на пркемник излученияи сравнивают выходные сигналы приемника,На чертеже представлен вариантсхемы устройства на котором можетбыть реализован предлагаемый способ,Устройство состоит из источникаоптического излучения 1, сканирующего отражающего покрытия, выполненно -го в виде зеркала 2 рефлекторов 3 и4 измерительного и эталоннОго пучковсоответственно, линзы 5 и приемникакзлучения 6.Устройствз работает следующим образом.Световой пучок ксточника поступает на сканирующее зеркало 2. В момент времени, когда зеркало 2 нахо -дится в положении, обозначенном начертеже сплошными линиями, световойпучок источника 1 отражается зеркалом 2 на рефлектор измерительновопучка 3, и после прдхождения исследуемого образца 7, Фокусируется линзой 5 на приемник излучения б. В момент времени, когда зеркало 2 находится в положении, обозначенном начертеже пунктирными линиями световойпучок источника отражается зеркалом2 на рефлектор эталонного пучка 4 кФокусируется на приемник излученияб, Таким образом, путем сканированияотр.,жающим покрытием, выполненным ввиде зеркала, одновременно производится как пространственное, так ивременное разделение светового пучкаисточника на измерительный и эталонный пучки. При этом интенсивностьизмерительного и эталонного пучковк интенсивность излучения на приемнике равны интенсквности источника излучения 1, Отсюда следует, что интенсивность измерительного и эталонногоФормула изобретения Способ измерения коэффициентов пропускания и коэффициентов отраженияоптических материалов, при которомсветовой пучок источника пространственно разделяют на измерительный иэталонный, пропускают измерительныйпучок через оптический материал или40 отражают его от оптического материала,проводят временное разделение пучков,подают их на Фотоприемник и сравнивают выходные сигналы Фотоприемника,о т л и ч а ю ю и й с я тем, что, с4- целью повышения точности и расширениядиапазона измерений, пространственное и временное разделение производятодновременно путем сканирования.Источники информациио принятые во внимание при экспертизе1. Волькенштейн А.А КирилловА.Ф., Кувалдин Э.В, Импульсная фотометрия. Л., "Машиностроение", 1975,с. 151-157,2. Патент ФРГ Р 1281170,кл, С 01 3 1/04, опублик. 1968прототип) 5 1 О 15 7 25 пучков оказывается в два раза выше,а интенсивность излучения на приемнике - в четыре раза выше, чем при реализации известного способа. Сравниваявыходные сигналы приемника излученияб от измерительного и эталонного пучков определяют коэффициент пропускания исследуемого образца 7. При этомза счет того, что интенсивность измерительного к эталонного пучков сравнительно высока, обеспечивается высокаяточность и широкий диапазон измере,ний,При измерении коэффициентов отражения зеркал, исследуемый образец 7убирают, а вместо рефлектора измерительного пучка 3 устанавливают исследуемое зеркало.Таким образом, одновременное пространственное и временное разделенкесветового пучка источника, проводимое путем сканирования отражающимпокрытием, позволяет увеличить в двараза интенсивность излученкя в измерительном и эталонном пучках и в четыре раза интенсивность излучения наприемнике, что сушественно повышаетточность и расширяет диапазон измерений. Кроме того, установка для реализации способа оказывается более проста, что дает экономический эффект,853414Составитель А,ШУровРедактор Л.Утехина Техред А. Савка Корректор Ю.Макаренко Заказ 5621/14 Тираж 907 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д, 4/5 Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4