Прибор для взятия микроскопических проб металлов или иных материалов посредством сверла

Номер патента: 67876

Опубликовано: 01.01.1947

Автор: Казанский

МПК: G01N 21/21, G02B 27/28

Метки: исследования, микроскопа, минералов, оптического, поляризационного, прибор, столике, федорова

...будет больше, и в цепи фотоэлементов возникнет электрический ток. Направление тока и величина его будет определяться отношением разности потенциалов фотоэлементов, т. е. разностью освещенностей последних, иначе говэряотклонением главного сечения оптической индикатрисы от положения биссектрисы угла а в плоскости Я.Аналогичное явление будет иметь место, если линия пересечения главного сечения с горизонтальной плоскостью Р не будет делить пополам угол между проекциями осей 2 и Р на плоскость Р, т. е. не будет совпадать с биссектрисой угла 201Для определения угла оптических осей минерала поворотом столика на 45 главное сечение индикатрисы совмещается с вертикальной плоскостью, проходящей через ось Р. 1 отоэлемент тубуса с осью Я...

Номер патента: 78907

Опубликовано: 01.01.1949

Автор: Брук

МПК: G06G 7/161

Метки: величин, виде, времени, двух, заданных, изменяющихся, напряжений, перемножения, прибор, электрических

...При этом среднее значение напряжения на входе усилителя равно нулю. Это должно иметь место и при уф О, так как при большом коэффициенте усиления р напряжение на входе усилителя будет мало. Поэтому при положительном сигнале +у на входе продолжительность 12 соприкосновения подвижного контакта реле с одним неподвижным контактом возрастет за счет сокращения длительности 1, соприкосновения с другим неподвижным контактом, При отрицательном сигнале - у будет иметь место обратное явление (фиг. 2).Из условия равенства нулю (в среднем) напряжение на входе усилителя составит:М 78907 2 1Так как Уа постоянная величина, топропорционально у.12+ 1Если второй подвижной контакт реле, жестко связанный с первым и изолированный от него, будет совершать...

Номер патента: 10759

Опубликовано: 31.07.1929

Автор: Скоморохов

МПК: G02B 21/34

Метки: микроскопа, предметному, столику, установки, шлифов

...неудобно рассматривать при существующей конструкции столика с помощью микрометрических винтов, так как для исследования представляется небольшая поверхность, всего 5 мм (при малых увеличениях), и два в т мм (при больших увеличениях), вследствие чего приходится шлиф передвигать рукой, что вызывает при малых увеличениях царапание" шлифа, а при больших (с масленной иммерзией) потерю цельности впечатления изучаемой структуры (обстоятельство особенно важное при, исследовании цементации, закалки и т, и.), Также затрудняется наводка на фокус при фотографировании; Кроме того, так как в заводской практике приходится пользоваться - шлифами всевозможных размеров, то возникает необходимость частой сиены колец, что затрудняет работу. Согласно...

Номер патента: 90058

Опубликовано: 01.01.1950

Автор: Волжинский

МПК: G02B 21/30

Метки: микроскопу, нагревательный, столик-термостат

...микроскопа.Регулировка температуры производится автоматически с помощью двух биметаллических пластинок 9 (фиг. 2), винта 10 и реле 2, включенного в цепь батареи. Контроль температуры производится с помощью термометра 11, укрепленного в корпусе столика-термостата.Для крепления на подвижном столике микроскопа к основанию столика-термостата привинчиваются клеммы 12. На основании столика укреплены также выдвижные салазки 13 для микроскопируемого препарата 14, находящегося в жидкости,вдвигается внутрь столика термостата. В гнездо 1 д фиг, 2) эоонитовой колодки 1 б, находящейся на основании столика-термостата, наливается вода для насьпцения влагой воздуха, окружающего микрообъект.Для работы с малым увеличением в отверстие подвижных дисков...

Номер патента: 115957

Опубликовано: 01.01.1958

Авторы: Колодяжный, Цуринов

МПК: G02B 21/28, G02B 21/30

Метки: измерений, кристаллооптических, микроскопу, столик

...и обеспечивает возможность работы в диапазоне температур от минус 160 до плюс 250" при любом повороте ис"чедуемого кристалла вокруг опти- ческОЙ Осп микроскопа. Это достигается тем, что часть корпуса стол 1- ка, жестко скерпленная с лимбом микроскопа, выполнена поворотнои относительно нагревательных и охлаждающих устройств.На чертеже изображен предлагаемый столик в разрезе.Столик выполнен из двух частей: пеподв 11 жной 1 и поворотной 2. На неподвижноЙ части столика смонтирован электрический нагреватель 3 и охлажда 1 сщее устройство 4, к которому по патрубку 5 подается жидкий азот. Поворотная часть столика жестко скреплена с лимбом микроскопа Для обеспечения возможности полных кристаллооптических измерений, внутри его установлена линза...