Способ обнаружения поверхностныхдефектов b электропроводных изделиях
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 834486
Автор: Дятлов
Текст
Сойз Советскиж Соцнапистическнн РеспубликОПЙСАНЙЕЙЗОБРЕТЕБЙЯх АВУОРСЙОИУ сВМДеУельстВУ, .СССР но делам изобретений н открытий(Ут) заявител 4) СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНЫХ ДЕФЕКТОВ В ЭЛЕКТРОПРОВОДНЫХ ИЗДЕЛИЯХ Изо шаюше аточн скопии для оп хноретение ому контроле к спосои можетеделениятных дефе тносится к неразю материалов и избам тепловой дефбыть использовантрещин и другихктов в электропрнапример металл р,у"делий ектооповер вод ких х издели и ефекагрееленйя способ определения д вом поверхностного н регистрации распред его поверхности Г 13 позволяет найти мверхностных дефекможности определитжения трещин и дрефектов.эким к предлагаеобнаружения повев в электропроводанный на регистраерхности контролиагреве его поверхой частоты, повтомпературы той же нопределениищего разностьи сигнала, хаю величину те е в уги момурх" ных ции руе- носриой агре- сиг- иэмерак-. мпе" ности ризую атур, редню Известентов посредства изделия итемпературыо. Этот способтоположение поно не дает возглубину располоповерхностных дНаиболее блиявляется способностных дефектоизделиях, основтемпературы повмого изделия, нти токами высокрегистрации теваемой поверхнала; характеренных темпертеризующего с ратуры нагреваемой поверхности, причемглубину расположения трещины или по-верхностного дефекта определяют какфункцию отношения первого сигнала ковторому 2,Поскольку величина первого сигнала, характеризуемого разность изме-,ренных температур, зависит не толькоот глубины расположения дефекта, нои от глубины проникновения токов высокой частоты в изделие, что не учитывается, то прочность измерений поизвестному способу мала.Цель изобретения - повышение точности определения глубины расположения поверхностных дефектов.Поставленная цель достигается тем,что поверхность изделия нагреваюттоками высокой частоты при частотеэлектромагнитного поля, обеспечивающей минимальное проникновение. электромагнитного поля в иэделие, сравнимоес допустимой глубиной некритическогоповерхностного дефекта, по наличиюперепада температур в области дефекта, затем непрерывно измеряют величину перепада температуры в областидефекта и одновременно уменьшаютчастоту электромагнитного поля дотемпературы поверхности изделия вобласти дефекта не начнет уменьшаться,и по значению частоты электромагнитного поля, при которой наблюдаетсяуменьшение перепада температур судят,о глубине расположения поверхностногодефекта. Соотношения между частотами электромагнитного поля и глубиной проникновения электромагнитного поля в изделие определяют по известным формулам. При этом глубина расположения поверхностного дефекта сравнима с глубиной проникновения электромагнитного поля в изделие при совпадении частоты электромагнитного поля с частотой, при которой наблюдается уменьшение перепада температур в области дефекта,Мгде Ч,частота, обеспечивающая минимапьное проникновениеэлектромагнитного поля визделиеу.допустимая глубина некрити-,ческого поверхностного дефектаукоэффициент материала изделия, учитывающий электрические и магнитные свойстваматериала изделия;глубина расположения поверхностного деФекта или трещины; 35частота, при которой умень- .шается .перепад температуры,К П р и м е р , Проводят контроль алюО миниевых изделий в виде пластин размерами 10 х 20 х 100 мм, имеющих трещины на поверхности с наибольшей площадью. Регистрацию температуры поверхности пластин осуществляют известным спосо-бом с помощью радиометра. Нагрев токами высокой частоты осуществляют с помощью индуктора с источником энергии в виде лампового генератора. Температура нагрева не превышает температуру окружающей среды более, чем на 5-8 С. Регистрируют температуру поверхности пластины, на которой имеется поверхностная трещина. Затем нагревают эту поверхность токами высокой частоты при частоте Ч. 8-10 Гц, которую. выбирают по приведенной уже формуле, принимая допустимую глубину трещины а 10 фсм и учитывая, что 60 для алюминия К составляет 1,78 10 ь, Затем повторно регистрируют температуру той же нагреваемой поверхности пластины. Определяют разность измеренных температур поверхности 65 и по наличию перепада температур в области трещины определяют ее месторасполржение. Затем непрерывно измеряют величину перепада температур в области трещины и одновременно уменьшают частоту электромагнитного поля до тех. пор, пока измеряемый перепад температур не начинает уменьшается. Частота Ч 2, нри которой наблюдается уменьшение переада температур, составляет 1,25 10 Гц. Позначению этой частоты с помощью приведенной формулы определена глубина расположения трещины 6 (0,08 см),При разрушающих испытаниях партии таких пластин в количестве 6 шт,.(путем последовательного шлиФования и наблюдения поверхности в микроскоп) установлено достаточно хорошее совпадение результатов измерений глубины. трещин (расхождение не. более 20 полученных результатов при разрушающих испытаниях и по предлагаемому сповобу). При использовании известного способа погрешность превышает 30.Предлагаемый способ обеспечивает повышение точности определения глубины расположения поверхностных дефектов, что позволяет своевременно обнаружить критические деФекты и тем самым увеличитьнадежность изделий.Формула изобретения.Способ обнаружения поверхностныхдефектов в электропроводных иэделиях,заключающийся в регистрации темпера-.турной поверхности контролируемогоизделия, нагреве поверхности изделиятоками высокой частоты повторной регистрации температуры той же.нагреваемой поверхности и определенииразности измеренных температур по"верхности, о т л и ч а ю щ и й с ятем, что, с целью повышения точности определения глубины расположенияповерхностных дефектов, поверхностьизделий нагревают токами высокойчастоты при частоте электромагнитногополя, обеспечивающей минимальноепроникновение электромагнитного поляв иэделие, сравнимое с допустимойглубиной некритического поверхност.ного дефектапо наличию перепада температур в области дефекта определяютместоположение дефекта, затем непрерывно измеряют. величину перепадатемпературы в области дефекта и одновременно уменьшают частоту элект"ромагнитного поля до тех пор, покаизмеряемый перепад температуры повер;ности изделия в области дефекта неначнет уменьшаться, и по значениючастоты электромагнитного поля, прикоторой наблюдается уменьшение перепада температуры, судят о глубинерасположения поверхностных дефектов,Заказ 4058/65 Тираж 9.07 Подписное БНИИПИ .Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раумсхая наб., д. 4/5ве %щ Филиал ППППатент 1, г. ужгород, ул. Проектная, 4Источники информации, принятые во внимание при экспертизе,1. Нераэрущающий контроль элементов и уэлов радиоэлектронной аппаратуры. Под.ред. Б,Е.Бердичевского.М фСоветсткое радио, 1976,с 128.2. Патент США 9 4109508;кл. 6 01 Н. 25/72, 1978 (прототип).
СмотретьЗаявка
2831474, 19.10.1979
ДЯТЛОВ ВЛАДИМИР АЛЕКСАНДРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 25/72
Метки: изделиях, обнаружения, поверхностныхдефектов, электропроводных
Опубликовано: 30.05.1981
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-834486-sposob-obnaruzheniya-poverkhnostnykhdefektov-b-ehlektroprovodnykh-izdeliyakh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ обнаружения поверхностныхдефектов b электропроводных изделиях</a>
Предыдущий патент: Способ измерения влажности гранули-рованных материалов
Следующий патент: Способ определения момента обра-зования микродефектов b металличес-ких изделиях
Случайный патент: Аналоговое множительное устройство