Способ отстройки дефектоскопа отвлияния мешающего фактора
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 832444
Автор: Волков
Текст
832444 . Союз СоветскикСоциалистичесиикРеспублик ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУбО Х 27/90 Гоеударственный комитет Опубликовано 23.05.81. Бюллетень19Дата опубликования описания 28.05.81ло делам изобретений и открытий(72) Автор изобретения Б. И. Волков Уральский филиал Всесоюзного дважды ордена Трудового Красного Знамени теплотехнического научночц;следовательского института им. Ф. Э. Дзержинского(54) СПОСОБ ОТСТРОЙКИ ДЕФЕКТОСКОПА ОТ ВЛИЯНИЯ МЕША 1 О 1 ЦЕГО ФАКТОРАИзобретение относится к средствам и методам неразрущающего контроля и может найти применение при дефектоскопии металлических изделий вихретоковым дефектоскопом на наличие и измерение глубины поверхностных несплошностей, например трешин, при одновременной возможности отстройки от влияния мешающего фактора, например зазора.Известен способ согласно которому для более надежной отстройки от мешающих факторов, например изменения проводимости и магнитной проницаемости, два преобразователя возбуждают переменным током одинаковой частоты, снимают сигналы с преобразователей и поочередно через коммутатор подают на вычитающую схему. По разностному сигналу судят об измеряемом параметре 1,Недостатком известного устройства является неточность измерения в связи с дис кретностью коммутации сигналов.Известен также способ дефектоскопии изделий, заключающийся в том, что в зоне контроля дефектоскопа помещают дополнительную катушку, при помоши ЭДС которой автоматически регулируют чувствитель 2ность дефектоскопа, воздействуя ею на управляющие цепи усилителя 2 .Однако вследствие нелинейной зависимости влияния мешающих факторов, например зазора, на выходное напряжение катушки, повышение точности имеет ограниченный зарактер.Наиболее близким техническим решением к предлагаемому является способ отстройки дефектоскопа от влияния мешающего фактора, заключающийся в том, что сигнал вихретокового преобразователя суммируют с добавочным напряжением той же частоты, амплитуду и фазу которого меняют в зависимости от величины мешающего фактора, выделяют в соответствующих каналах дефектоскопа активную и реактивную 15 составляющие суммарного напряжения и пореактивной составляющей судят о величине измеряемого параметра 3.Недостатком известного способа является невысокая точность измерения в процессе контроля изделия, так как регулировку добавочного напряжения производят в дискретные моменты времени ручным способом.Цель изобретения - повышение точности измерения.5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 Формула изобретения Указанная цель достигается тем, что предварительно определяют закономерность изменения составляюших суммарного напряжения от величины мешающего фактора, вводят эту закономерность в качестве опорного напряжения в канал выделения активной и в канал выделения реактивной составляющих суммарного напряжения, сравнивают текушие значения составляющих суммарного напряжения со значениями опорных напряжений этих каналов, выходными напряжениями которых изменяют амплитуду и фазу добавочного напряжения.На чертеже приведена блок - схема устройства, реализующего предлагаемый способ.Устройство содержит источник 1 переменного тока, фаьоврашатель 2, преобразователь 3, сумматор 4, формирователь 5 суммарного напряжения, канал 6 измерения амплитуды (активной составляюшей суммарного сигнала), канал 7 измерения фазы (реактивной составляющей суммарного сигнала), формирователь 8 регулирующего сигнала канала 6, формирователь 9 регулирующего сигнала канала 7, блок 10 регулировки амплитуды добавочного напряжения, блок 11 регулировки фазы добавочного напряжения и индикатор 12.Источник 1 соединен с преобразователем 3, который соединен с одним входом сумматора 4, и с последовательно соединенными фазовращателем 2, блоком 10 и блоком 11, соединенным с другим входом сумматора 4. Через последнюю цепь на другой вход сумматора поступает добавочное напряжение, Выход сумматора 4 соединен с формирователем 5, выходы которого соединены с каналом 6, на выходе которого включен формирователь 8, соединенный выходом с управляюшим входом блока 10. Параллельно входам канала 6 включены входы канала 7, на выходе которого включен формирователь 9, соединенный выходом с управляющим входом блока 11. Выход формирователя 5, определяющий величину мешающего фактора, например зазора, подключен к управляющим входам формирователей 8 и 9. Напряжение питания поступает от источника 1 через фазовращатель 2 предварительной установки фазы, блоки 10 и 11 на другой вход сумматора 4, на первый вход которого поступает сигнал от преобразователя 3, который питает источник 1. Суммарный сигнал с сумматора 4 поступает на формирователь 5, где формируются три сигнала: сигнал Х, пропорциональный активной составляющей суммарного напряжения, сигнал У - пропорциональный реактивной составляющей суммарного напряжения, сигнал Е - пропорциональный величине зазора преобразователь-изделие.Сигналы Х и У с формирователя 5 поступают на формирователи 8 и 9 каналов 6 и 7,где формируются сигналы, пропорциональ не, соответственно вмплнтуле А =тхттув и фазе д = агс 1 д - ф - суммарного напУряжения. Сигнал, пропорциональный амплитуде, из канала 6 и сигнал 2, пропорциональный величине зазора, с формирователя 5 поступают на формирователь 8. Аналогично, сигнал Х с формирователя 5 и сигнал из канала 7 поступают на формирователь 9. В формирователях 8 и 9 вырабатывается эталонное напряжение, амплитуда и фаза которого меняются в зависимости от сигнала Х с формирователя 5, т.е. в зависимости от величины зазора преобразователь - изделие по определенному, напередзада нному закону. В формирователях 8 и 9 осуществляется сравнение амплитуд и фаз суммарного и эталонного напряжений и на основе разностей сравниваемых величин производится формирование управляющих сигналов, которые с выходов формирователей 8 и 9 поступают, соответственно, на блок 10 и блок 11 регулировки амплитуды и фазы добавочного напряжения. Индикатор 12 подключается к выходу канала 7.При установке преобразователя 3 на контролируемый объект формирователь 5 вырабатывает сигнал У., пропорциональный величине зазора преобразователь-изделие, а формирователи 8 и 9 формируют сигналы управления, обеспечиваюшие установку определенной амплитуды и фазы добавочного напряжения и, тем самым, заданный режим настройки. Изменение величины зазора в процессе контроля (сканирования) приводит к изменению режима настройки и не обходи мости его корректировки, что осуществляется путем непрерывного сравнения параметров суммарного напряжения с эталонным напряжением, формированием управляющих сигналов в формирователях 8 и 9 и изменением амплитуды и фазы добавочного напряжения в блоках 1 О и 11 так, что количественная связь между глубиной трещины и фазой суммарного напряжения остается неизменной. Закономерность изменения параметров эталонного напряжения в зависимости от величины зазора определяется при предварительных исследованиях и закладывается в формирователи 8 и 9, Корректировка режима настройки осуществляется только при изменении величины зазора.Изменение величины зазора между преобразователем и изделием в пределах 0 - 2 нй практически не сказывается на точности при определении глубины трещин в ферромагнитном материале в диапазоне 0 - 15 мм. Способ отстройки дефектоскопа от влияния мешающего фактора, заключающийся в том, что сигнал вихретокового преобра832444 Составитель А. Матвеев Техред А. Бойкас Корректор Ю.Макаренко Тираж 907 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5 Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4Редактор Н. ЕгороваЗаказ 3163/32 5зователя суммируют с добавочным напряжением той же частоты, амплитуду и фазу которого меняют в зависимости от величины мешающего фактора, выделяют в соответствующих каналах дефектоскопа активную и реактивную составляющие суммарного напряжения и по реактивной составляющей судят о величине измеряемого параметра, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения предварительно определяют закономерность изменения составляющих суммарного напряжения от величины мешающего фактора, вводят эту закономерность в качестве опорного напряжения в канал выделения активной и в канал выделения реактивной составляющих суммарного напряжения, сравнивают текущие значения составляющих суммарного напряжения со значениями опорных напряжений этих каналов, выходными напряжениями которых изменяют амплитуду и фазу добавочного напряжения. Источники информации,принятые во внимание при экспертизе
СмотретьЗаявка
2478104, 12.04.1977
УРАЛЬСКИЙ ФИЛИАЛ ДВАЖДЫ ОРДЕНАТРУДОВОГО КРАСНОГО ЗНАМЕНИ ТЕПЛО-ТЕХНИЧЕСКОГО НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬ-СКОГО ИНСТИТУТА ИМ. Ф. Э. ДЗЕРЖИНСКОГО
ВОЛКОВ БОРИС ИВАНОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 27/90
Метки: дефектоскопа, мешающего, отвлияния, отстройки, фактора
Опубликовано: 23.05.1981
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-832444-sposob-otstrojjki-defektoskopa-otvliyaniya-meshayushhego-faktora.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ отстройки дефектоскопа отвлияния мешающего фактора</a>
Предыдущий патент: Устройство для контроля дефектов втонких магнитных пленках
Следующий патент: Накладной вихретоковый преобразователь
Случайный патент: Привод рабочих органов хлопкоуборочной машины