Фотометрическое устройство

822 б 7 Класс 42 Ь, 17,СССР ОА У С АВТОРС ЕЛЬС Докуки ЙЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО ФОТ анвлено 4 марта 1949 г. аа Л% 393683 в Гостехнину ССС тометрические устройства, в которых два луча света от е источника попеременно проходят через испытуемую ды, а затем падают на один и тот же участок фотоИзвестны фоодного и того жи эталонную среэлемента.Описываемое устройство отличается от известных тем, что для устранения влияния старения ламп и нестабильности напряжений источников тока фотоэлемент включен на Вход резонансного усилителя, который настроен на частоту, вдвое меньшую частоты освещения фотоэлемента.В фотометрическом устройстве для определения прозрачности среды используется один источник света. Направляемый от источника свет поочередно проходит через исследуемую и эталонную среды на один и тот же участок фотоэлемента. Прозрачность среды при этом определяется по величине тока на выходе усилителя. В устройстве применена отрицательная обратная связь. Для осуществления отрицательной обратной связи, с осью миллиамперметра усилителя жестко связана пластинка, поставленная на пути эталонного пучка света,На фиг, 1 изображена общая схема фотометрического устройства; на фиг. 2 и 3 - формы импульсов положительного потенциала.На один и тот же участок поверхности фотоэлемента поочередно падает два световых луча от одного и того же источника света: 1 - эталонный луч и 2 - луч, прошедший через исследуемую среду. Поочередность падения лучей достигается с помощью вращающегося диска о с прорезями или с помощью колеблющейся на камертоне пластинки. Оба луча имеют одинаковое поперечное сечение и освещают фотоэлемент 4 одно и то же число раз в секунду. Продолжительность освещения фотоэлемента для одного импульса одинакова для обоих лучей.Фотоэлемент, находясь в сеточной цепи первого каскада резонансного усилителя, подает на сетку лампы импульсы положительного напряжения У, (форма.на фиг, 2), что соответствует случаю равенства интенсивностей исследуемого и эталонного лучей (интенсивность эталонного луча всегда неизменна).о 8226Если итесвость 1 сследуемого луча умецьи;илясь, то Бызывае.Гьс им 1(ъг(ульсь. юлой телього сеточцогО няпряжения тОже умень с 51 (фг. 3),. Ы этом случае на сетку лампы будут поочередно подаг)аться большйе и малые импульсы Напряжения.1 хрГГЯя ааря)/сени 51 /(. сеточных импульсов (фиг. 2) содержиг сОстявл 5 юу 10 с,чсто Ои другис Высшие гярлоническге (В этом СЛГС, 1(1 У;ЬСЫ НЯЦР 51 ЖСЦЦЯ СГа, И /С БЬ;ГЬГВЯЕМЬЕ ЛУ ЧОХГ СВЕТ 1, прохОд 51 пм (.рсз этялоццую и исследуемую среды, рдБны) .1 эяз,Гич 115 иг 7 СГГСГ 1 ость лучей Гызьгяет изменение кривой цапряжепц 5 С ( (фгг. В этом слу 120 0 Я содержит пе только состал 51 ющу 10 с чгсто)к)( . 1.0 и с( стаВляющу 10 ( частотой /2. Состягляощая Г/2 ИСЦОЛЬЗУЕТС 5 Б СХЕМЕ,с 3 0Я011 (.11;т е тгэ, Г 3 с т Г) О е11ь и 1 21 1с тот ъ / /5 ь 0 Д 10Р е 1 с 11 0 БЬД(,15 ОТ И ) С(ГИВ(1 СТ СОСТБ;15 ОНс 0 ПЯПР 51 ЖЕИ 51 С 1 СТОТОИ )/).1г Бы хо ге у си.птсл 5 имеетс 5 Быцр 51 митель, Вьгр 5 хл 5110 ц 1 у слсГН- цый ереме иьй тОК, с астото 1/о. .1 Ялсе этот Быпряхле 111 Й 7 Ок О дается ц 1 МГл.(1 Миеретр д, пя выстуяк)ищ 1 Оси Которого жестко:52- креплегг круг,1251 тонкая плястпцкя 6.Г 1 р улеБОм положении милламперметра д (Одина ковя 51 ицтенсивпость лмчец) пластинка 6 рясОло)кссг 1 пяряллельцо;уу(Б Ге 1 тре луча) и це закрывает его.Если ицтенсиВНОсть лучей рязличня, тО ця Выходе усилител 5 0- яв;Гяотся у силеные сигна;ы с частотой ),/2, которые Быгр 51 млгпотс 51, и Быпрямлеццый ток, Вращая ось миллиамперметра, вращает одновременно круглун) пластинку, уменьшающуго сечение луча до тех цор, пока световые потоки обоих лучеи почти не сравняются. При этом сетовой потокОудег Вседг емГОГО больше 1 отокаи герсз хиллиг 1 мперметр будет проходить пебол пой компенсационный ток, ио величине которого и определяют интенсивность луча .Шкя.72 миллиямиерметря синусоидяльд, тг 1 К кяк у 0. иоворотг его оси связан с сечением лучаПо закону синуса.Пределы поворота оси милламперметра от 0 до 90.Иячальгое нулевое положение миллиамперметра соответствует полной прозрачности, а угол поворота 90 соответствует полной Непрозрачности.Так как схема использует один фотоэлемент, дифферецциальныи метод (усилитель реагирует на разность интенсивности лучей) и отрицательную обратную связь, то результаты измерения почти не зависят от старения фотоэлемента и ламп, а также и от яодного и накального напряжений.Вместо фотоэлемента может быть поставлено фотосопротивление или термстор, в зависимости от того, для каких лучей исследуется прозрачность.Вместо миллиамперметра 5 может быть включен миллиамперметр 7 со шкалой, градуированной по току, что допускает измерение без обратной связи.Предмет изобретения1. Фотометрическое устройство, в котором два пучка света от одного и того же источника света попеременно проходят через испытуемую и эталонную среды, а затем падают на один и тот же участок фотоэлемента, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью устранения влияния старения ламп усилителя и нестабильности напряжений источников тока,Ло 82267 фотоэлемент включен на вход резонансного усилителя, настроенного на частоту, вдвое меньшую частоты освещения фотоэлемента.2. Форма выполнения фотометрического устройства по п. 1, отлнч а ю щ а я с я тем, что, с целью осуществления отрицательной обратной связи, с осью миллиамперметра усилителя жестко связана пластинка, поставленная на пути эталонного пучка света. Исаа цно саета,иг,2 фи Редак 1 ор А И Дьпнельман Техн. ред. А. А Кудрявицкая К онов к пся, 9.961 г. Формат к 220 Заказ 7330 при Комитете по делам изо а, Центр, М. Черкасский пе бум. 70)(108 1/16 Объем 0,34 п. л,Цена 5 коп.бретений и открытий при Совете Министров СССРд. 2/6 Г 1 одТираЦБТИ Гор. Алатырь, типография2 Министерства культуры Чувашской АССР,