Способ определения концентрации микрочастиц в фоторезистах
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 803637
Авторы: Дубова, Жалковская, Олейник, Хайруллина
Текст
ьоюз ьовбГбННХЗО 3637 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ СоциапистичесйИХ Республик(23) Приоритет -СССР по делам изобретений и открытий(72) Авторы изобретения Ордена Трудового Красного Знамени институт физики АН Белорусской ССР(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОНЦЕНТРАЦИИ МИКРОЧАСТИЦ В ФОТОРЕЗИСТАХ1Изобретение относится и полупроводниковой текнике и может бьть использовано для контроля качества фоторезистиьвнык материалов, применяемык при изготовлении полупроводниковык приборов.Известен способ для контроля стспсни очистки фоторезистон, основанныи 11 а нанесении на окисленную кремниевую подложку фотсрезиста, проведении процесса фоголитографии при исключении операции экс. поыирования, по 1 мещении подложки в контактное у 1 стройство фотослоем ввсрк, паложении на подложку фотобумаги, смоченной дистиллированной водой, подаче напряжения в течение определенного врсмса 1 и, проявлении фотобумаги, закреплешш, промывании, сушке 11.В этом способе подсчитывают кол,иьсство отпечатков проколов в слое фоторезиста.Недостатками этого способа являются низкая точность (30 О), а такькс иизка 51 экспрессность.Известен также способ определения концентрации микрочасгиц в фоторсзистак, оснонаивный на освещении кьоветы с фоторезистом коллимированным излучением и измеренни потока излучения, прошедшего через кювету с фоторезистом 21,Недостатком этого способа является низкая экспрессность, так как измерения иеоб. 2кодимо производить в 25 - 30 точкак с последующей обэаботко данныи иа ЭВМ, начто потребуется 15 - 20 мип.Цельо изобретения является повышение5 точ;ости и экспрсссиости.Поставленная цель достигается тем, чтов извсстном способе опоедсления концентрации микрочастиц в фоторсэистак, основанном иа освещении кюветы с фоторезистом10 коллимирсванным излучением и измере 1 гиипотока излучения, прошедшего через кювету с фоторезистом, измеряют поток излучения, рассеянный в иатьравлении 40,5 С отоси прямопрошедшего потока в телесном уг 15 лс 0,01 о=0,005 стсрадиаи, и ио отношсшио рассеянного и прямопрошсдшего потоков определяют концентрацию микрочастиц,На чертеже представлен градуировочныйграфик зависимости отношения потоков из 20 лучеия рассеянного в направлении у=4 втелесном угле Ле = 0,015 стерадиан и пря(У)моирошсд 1 исго через фоторезист в зависимости от концеь 1 грации микрочастиц в25 фоторезпсте ХВыбор направления наблюдения рассеянного излучения в интергале у =4+ О,Г ив телесном угле Лсо -0,015 в0,005 стерадианобусловлен тем, что для у)4" и м 0,0075ЗО стерадиап нс прослеживается корреляция=- 0,4, т. с. 312 п 1 тс,1 но Выше,П р и м ср. Г)оторсзпт, рдзл:пы:, ирок помсПдк)т в кювы,О,пцпид ло ф:10 рсзист(1 в кО)сс 1 ), с 3 ндо Г (,)о Гор(Зист 1331 чснисм 1)13 срд , 11 36 - ( сПно.волны ,=б 32,3 нм и раско пмо(.Г,о 2,ПЗ:)СРЯ 0 ПОГОНИ НР 5 МОПРОН О ЧСР 3фоторсзист излучения 1)(0) н рассяниог )Р( в П 2 пр 2 в;1 снин " 3 1 лсном ) )1(0,015 радиан, По от ошснию потоков 1)Р(0) из градуировочного графика о: рд:ЯО г конЦснтрапию де Пи 13 (1 ОорсЗ 1Х(3. При построении грд;унро 3но рдфика ЗИ 2 чснн 51 кони сит) Пни опр,Г 51, ипо известному спосоо)., 1)151 дтоо ПЗм(р -Заказ 128 Изд 6 114 НИИПИ Государств по делам изобре 3035, Москва, Ж, Тираж 88енного комитета СССтений и открытийРаушская наб., д. 4/5 одписно Загорская типография Упрполиграфиздага Мособлисполкома ФПФПФП.Р 11.7 Ф П -11 1.7 ФПФП33 1 О 2,2 10 о 1,7 10 2,1 1 Оц 2.7 10 2,4 1 О
СмотретьЗаявка
2787964, 27.06.1979
ОРДЕНА ТРУДОВОГО КРАСНОГО ЗНАМЕНИ ИНСТИТУТ ФИЗИКИ АН БССР
ДУБОВА Г. С, ОЛЕЙНИК Т. В, ХАЙРУЛЛИНА А. Я, ЖАЛКОВСКАЯ Л. З
МПК / Метки
МПК: G01N 21/00
Метки: концентрации, микрочастиц, фоторезистах
Опубликовано: 23.02.1982
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-803637-sposob-opredeleniya-koncentracii-mikrochastic-v-fotorezistakh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения концентрации микрочастиц в фоторезистах</a>
Предыдущий патент: Способ получения гидроксилсодержащих моноили полисульфидов
Следующий патент: Способ получения высокооктанового бензина
Случайный патент: Временной селектор