Прибор для определения твердости металлов методом вдавливания
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 67056
Автор: Беркович
Текст
Класс 421 е, 2367056 С С С Р ПИСАНИЕ ИЗОБРЕТ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВ ений Госплана СССР Зарегистрировано в Баро из р-.ллтт"р;11 БерковичИЯ ТВЕРДОСТДАВЛИВАНИЯ Е. С. ПРЕДЕЛЕН ЕТОДОМ В МЕТАЛЛОВ ИВОР г 0 8815 (318573) 42 года Заявлено аркотаавиапротя за октяоряОпуб пковано 30 сентября 1946 г Существующие приборы для определения твердости металлов основаны на вдавливании в исследуемое металлическое тело острия в виде алмазной пирамиды особой формы и под определенным да 1 влением. Для рассматривания полученных отпечатков и определения их формы и размеров обычно используется микроскоп, причем для удобства проведения испытаний микроскоп и приспособление для вдавливания, иначе называемое индентором, часто объединяются в одном приборе, дающем возможность последовательно устанавливать над местом испытания либо индентор, либо объектив микроскопа.Особенность предложенного, согласно изобретения, прибора заключается в том, что индентор и объектив микроскопа установлены на общей каретке, перемещаемой по направляющим, скрепленным с тубусом микроскопа с тем, чтобы можно было использовать механизм аксиальной подачи микроскопа; одновременно для оказания давления на индентор во время производства отпечатка. На чертеже фиг. 1 и 2 изобракают в двух проекциях предлагаемый прибор. Он состоит из микроскопа, приспособленного для непосредственного крепления на испытываемом изделии 1 при помощи вилки с зажимом 2, прижимающим изделие к нижней поверхности столика 3 микроскопа. Тубус 4 микроскопа несет направляющие 5 для салазок 13, на которых установлены индентор 6 и объектив 7, Салазки служат для установки по оси тубуса либо индентора 6, либо объектива 7 с осветителем.Тубус микроскопа состоит из винтового окуляр-микрометра 8, н.-1 жимной шайбы 9, служащей для продольного перемещения тубуса в направляющих 10, с пружиной 11, заключенной в неподвижном стакане 1 г,При производстве отпечатка корпус 1 гндентора 6 передвигают по салазкам 6 до тех пор, пока ось его совместится с осью тубуса. Затем нажимают шайбу 9. При этом весь тубус вМесте с индентором будет опускаться вниз, преодолевая сопротивление пружины 11 до соприкосновения пирамидального ост6.7056 фиг рия индентора б с изделием 1 и возвращается в исходное положение под действием пружины 11 после прекращения давления на шайбу 9. Пружинная головка индентора устроена таким образом, что независимо от силы нажима на шайбу 9 тубуса, давление на алмазное острие остается постоянным, причем величина его устанавливается по шкале на головке индентора.После получения отпечатка и подъема тубуса под действием пружины 11 взамен головки индентора под тубусом устанавливается объектив 7 микроскопа, при помощи которого рассматривают и измеряют полученный отпечаток. Предмет изобретения Прибор для определения твердости металлов методом вдавливания., снабженный жестким индентором, установленным на тубусе микроскопа так, что над местом испытания устанавливается либо индентор для выполнения отпечатка, либо объектив микроскопа для обмера отпечатка, о тл и ч а ющ и й с я тем, что индентор и объектив микроскопа установлены на каретке, перемещаемой по прямолинейным направляющим., прикрепленным к тубусу, с целью использования механизма аксиальной подачи микроскопа для оказания давления на индентор во время производства отпечатка,
СмотретьЗаявка
8815, 23.10.1942
Беркович Е. С
МПК / Метки
МПК: G01N 3/42
Метки: вдавливания, металлов, методом, прибор, твердости
Опубликовано: 01.01.1946
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-67056-pribor-dlya-opredeleniya-tverdosti-metallov-metodom-vdavlivaniya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Прибор для определения твердости металлов методом вдавливания</a>
Микроскоп для наблюдения малоконтрастных объектов
Номер патента: 102350
Опубликовано: 01.01.1956
МПК: G02B 21/14
Метки: малоконтрастных, микроскоп, наблюдения, объектов
...од)ге)ковы с р)3;)морд:. и)обрдженця кольцевой дпдФрдгмы.Вращая анализатор, мОжнО цзмнять соотношение пнтенс)гв)е)стсй прямопрокодяц(ей и диФФра)провацной состдвляюп(ик )г тел)1 еутем повыгиатг коещ)дстпостг цз)- ораженця. Можно такж) получать Фа;Ов- кон)ристе)ое ггзоорахенце О)ъекто, 3 ь);(я 1 Омпенсатором некотору)О разность ,.(д, прямопрокодящего и .(НФФрдгировдццц О ЦУЧЕ(ОВ.Прп раооте ло скеме н)ер)1)ернццон, - го )пгкроскоп) )ц)имсняегся щ )свая - дФрагма (вместо кольцевой) с рядом щ- лей )г стеклянндя пластинка ГвОсто Фдзовой) с вытравленными на. нй 3)3)рикдзпг. Нанесенным(1 такци ооразом, ч)л) )п)11 перекрываются изооражением и(елей щелевой дпаФрагмы, Световая волн, прокодя неоднородный прозрачный ооъект, деФормпрустся в...
Приспособление к предметному столику микроскопа для установки мелких объектов сложной конфигурации, например, кристаллов
Номер патента: 122306
Опубликовано: 01.01.1959
Автор: Генделев
МПК: G02B 21/26
Метки: конфигурации, кристаллов, мелких, микроскопа, например, объектов, предметному, сложной, столику, установки
...плиты-основания 1 с отверстием 2 в центре для присоединения к предметному столику таким образом, чтобы оно свободно поворачивалось вокруг вертикальной осн микроскопа. На плите монтирован подъемный винт 3, несущий державку 4 для кристалла. Поворачивание державки вокруг своей оси обеспечивается винтом 5, соединенным с обоймой движка б, который может перемешаться на любой заданный угол по транспортиру 7. Вертикальное перемещение транспортира осуществляется подъемным винтом 3 с консольчо укрепленным на нем транспортиром. Вспомогательный ползунок 8 служит для точной установки движка б на транспортире 7 под любым углом. Для сообщения державке 4 поступательного перемещения в направлении ее оси она сочленена с винтом 9, монтированным также в...
Устройство для измерения механических напряжений в объектах из ферромагнитных металлов
Номер патента: 1307249
Опубликовано: 30.04.1987
Авторы: Врублевский, Жидков, Огар, Пронченко, Сероштан
МПК: G01L 1/12
Метки: металлов, механических, напряжений, объектах, ферромагнитных
...свойствами ( р,рг, у, су ), с зазором, магнитное сопротивленйе которого постоянно и равно К, (рис. 2). Кри вые 1 соответствуют малому реактивному сопротивлению Хи большому активному сопротивлению К , вносимым в параллельный контур, и относятся к случаю нахождения преобразователя 55 49 2у поверхности металла "А", кривые 11 - большому Хи малому Всопротивлениям и соответствуют случаю установки преобразователя у поверхностиБ. На некоторой частоте Го превышающей обе резонансные частоты й, и Г , частотные характеристики переРг фсекаются. Фазовый угол контуров ( вК обоих случаях одинаков, не зависит от свойств металлов "А" и "Б" и равен о Для исключения влияния на частоту работы автогенератора возможного ответвления в...
Устройство для измерения механических напряжений в объектах из ферромагнитных металлов
Номер патента: 1657979
Опубликовано: 23.06.1991
Авторы: Врублевский, Кружков, Огар, Пронченко, Селиванов, Сероштан
МПК: G01L 1/12
Метки: металлов, механических, напряжений, объектах, ферромагнитных
...градуировочному его значению, котороеустанавливается между преобразователем и объектом перед измерением механических напряжений, Контроль величины емкости образцового конденсатора 8позволяет учесть влияние внешних факторов на величину емкости между преобразователем и объектом и, следовательно, на точность установки магнитногосопротивления зазора, Конденсатор 8подключается к блоку контроля 5 клюом 9. Электропронодящее покрытие 4крепится к полюсам магнитопронода 1,например, к клеммам 1 И,Для уменьшекия влияния на точность 25измерения механических напряженийвихревых токов, создаваемых рабочиммагнитным потоком н электропронодномпокрытии 4 толщина Ь покрытия 4 недолжна превышать величины ), 1, гдеглубина проникновения нихреныхтоков н...
Акустический микроскоп для оперативного просмотра объекта
Номер патента: 1777071
Опубликовано: 23.11.1992
МПК: G01N 29/04
Метки: акустический, микроскоп, объекта, оперативного, просмотра
...пучок возвращается кначалу второй или следующих строк-полосок участка объекта, сканируемого в предыдущем кадре. Так как развертка луча начинается всегда с одного места экрана, то10 15 20 30 35 40 новый кадр будет начинаться с изображения новой первой полоски сканируемого участка. Освободившиеся в конце кадра строки будут заполнены иэображением продолжения сканируемого участка в направлении кадрового сканирования, Если процесс сдвига при обратном ходе кадрового сканера продолжить, то на экране "побежит" чередованием кадров изображение целой полосы объекта, Для реализации этого процесса в схему микроскопа введены новые элементы.Схема счета и формирования 26, получая от блока синхронизации 17 импульсы, синхронные с импульсами начала...