Микрообъектив для отраженного света

ОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(22) Заявлено 010278 (21) 2575273/18-10 Союз Советских Сощивлистических Республик(51)М. Кл. С 02 В 21/02 с присоединением заявки М Государственный комитет СССР по делам изобретений и открытий(54) МИКРООВЪЕКТИВ ДЛЯ ОТРАЖЕННОГО СВЕТА ту 31,Изобретение относится к области оптико-механического приборостроения и может быть использовано, например, в металлографических и рудных микроскопах.Известны микрообъективы отраженного света, работающие в светлом поле. Значительное влияние на качество изображения таких микрообъективов оказывает рассеянный свет, образующийся эа счет однократного отражения от оптических поверхностей объектива (так называемые рефлексы первого порядка). Наиболее заметно действие рефлексов при изучении слабоотражаю щих объектов, В этом случае. рефлексы настолько снижают контраст изображения, что наблюдение тонкой структуры слабоотражающего объекта невозможно даже при применении объектива 20 с совершенной коррекцией аберраций 11,Применение просветляющих покрытий хотя и уменьшает величину рефлексов в 2-3 раза, однако, не устраняет рас сеянный свет в достаточной степени.Известны также микрообъективы отраженного света, где уменьшение коэффициента засветки достигается за счет того, что часть объектива, являясь общей для объективов всего комплекта, помещается в тубуее микроскопа и, не участвуя в работе осветительной системы, не образует рефлексов первого порядка 21 . Однако конструктивно эти объективы выполнены достаточно сложными, состоят иэ большого числа линз. Кроме того, такие микрообъективы не являются взаимозаменяемыми с существующими микро- объективами и не могут применяться в уже существующих моделях микроскопов.Наиболее близким по технической сущности является объектив, содержащий два склеенных компонента, разделенных воздушным промежутком, при этом первый и второй компоненты выполнены в виде положительных склеен-. ных плоско-выпуклых. линз, обращенных плоскими поверхностями к объекОднако он обладает значительными рефлексами от оптических поверхностей, что ухудшает контраст изображения. Микрообъектив имеет недостаточную коррекцию аберраций внеосевых точек объекта: максимальная волновая аберрация лучей основного цвета, об20 30 35 разующих изображение точки края поля зрения С= 9 мм, превышает 1,1 Л"Целью изобретения является повышение контраста изображения.Поставленная цель достигается тем,что в микрообъективе, содержащем двадвухсклеенных компонента, разделенных .5воздушным промежутком, первый компонент выполнен в виде склеенного издвух менисков отрицательного мениска,обращенного вогнутостью к объекту,первая и третья поверхности которого в ,.апланатические, а поверхностьсклейки - концентрическая апертурному лучу, при этом разность показателей преломления материалов менисковсоставляет не менее 0,2, а воздушный промежуток между первым и вторымкомпонентом составляет не менее 0,1фокусного расстояния объектива, причем отношение оптических сил первогои второго компонентов находится впределах от -0,5 до -0,7,На чертеже показана оптическаясхема предлагаемого объектива.Микрообъектив отраженного светасостоит.из двух склеенных компонентов 1 и 2, разделенных воздушным 25промежутком. Отрицательный компонент1 включает отрицательную 3, положительную 4 линзы и выполнен в видесклеенного мениска, обращенного вогнутостью к объекту. Причем первая5 и третья б поверхности - апланатические, а поверхность склейки 7концентрическая апертурному лучу.Разность показателей преломлениялинз 3 и 4 составляет не менее 0,2.Воздушный промежуток между компонентами,1 и 2 составляет не менее 0,1фокусного расстояния объектива, Положительный компонент 2 включает отрицательную линзу 8 и положительную 40линзу 9. Отношение оптической силыкомпонента 1 к оптической силе компонента 2 составляет -0,5 - -0,7.Апертурная диафрагма 10 микрообъективанаходится вблизи компонента 2. 45. Первый отрицательный компонент 1проецирует изображения объекта впереднюю фокальную плоскость положительного компонента 2 с увеличением,равным отношению показателя преломления линзы 4 к показателю преломлениялинзы 3Второй положителЬный компонент 2 и дополнительная система (начертеже не показана) создают изображение объекта в задней фокальнойплоскости дополнительной системы.При наблюдении непрозрачных объектов в режиме светлого поля пучок света осветительной системой (на чертежене показана) и микрообъективом направляется на изучаемый объект. При этом часть светового потока отражается от оптических поверхностей линз 3,4,8 и 9 и накладывается на свет, отраженный от объекта. Световой поток, отраженный оптическими поверхностями линз 3 и 4 компонента 1, рассеивается в значительном телесном угле, что существенно снижает коэффициент засветки.Микрообъектив отраженного света имеет достаточно высокое качество изображения по всему полю зрения и значительно уменьшенный коэффициент засветки. Величина коэффициента засветки предлагаемого объектива в пять раз меньше коэффициента засветки известного объектива аналогичного назначения, причем это соотношение практически не изменяется при уменьшении диаметра апертурной диафрагмы осветителя.Применение предлагаемого объектива обеспечит при удобстве эксплуатации возможность наблюдения и исследования ряда слабоотражающих объектов. Кроме того, благодаря малой чувстви - тельности к децентрировке каждого компонента и упрощению процесса сборки и юстировки микрообъектива, микрообъЕктив обладает большей эффективностью для серийного производства. Формула изобретенияМикрообъектив для отраженногосвета, содержащий два двухсклеенныхкомпонента, разделенных воздушнымпромежутком, о т л и ч а ю щ и й с ятем, что, с целью повышения контрастаизображения, первый компонент выполнен в виде склеенного из двух менисков отрицательного мениска, рбращенного вогнутостью к объекту, перваяи третья поверхности которого - апланатические, а поверхность склейкиконцентрическая апертурному лучу,при этом разность показателей преломления материалов менисков составляетне менее 0,2, а воздушный промежутокмежду первым и вторым компонентамисоставляет не менее 0,1 фокусногорасстояния объектива, причем отношение оптических сил первого и второгокомпонентов находится в пределах от-0,5 до -0,7.Источники информации, принятые вовнимание при экспертизе1, Панов В.А. и др. Оптика микроскопов, Л Машиностроение, 1976,с, 112.2. Патент США Р 3428390,кл. 350-171, 1969.3, Скворцов Г.Е. и др. Микроскопы,Л Машиностроение, 1969, с. 500-501.666506 С о ст ав ит ел ь М. Ле беде в Техред И.Асталош Корректор С .Шекмар иппова дактор каз 3180/37 Тираж 587 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д, 4/5нт, г.ужгород, ул.Проектная,4илиал ППП