Устройство для определения геометрических размеров ленточного электронного потока приборов м-типа

Номер патента: 532140

Авторы: Белолипцев, Беляченко, Юркин

ZIP архив

Текст

)о (.з 20 9 ь 93,4 З 5 60 исследовании потоков прпборог М-типа с малой (меньше 3 мм) высотой дрейфа. В рассматриваемой конструкции устройства исследования электронных потоков представляется возможным нанести па поверхность отрицательного электрода продольные антиэмисспонныс канавки, подобные тем, которые имеются на отрицательном электроде реального прибора. На крайних подвижных частях анода и отрицательного электрода закреплены изоляторы, входящие в отверстия в выступах коллектора. Наличие раздвижного дрейфа позволяет исследовать ленточный электронный поток во многих сечениях по длине и в течение одного эксперимента снимать его трохоидальность.На фиг. 1 схематически представлено предлагаемое устройство; на фиг. 2 - вид Л - Л на отрицательный электрод; на фпг. 3 представлено сечение по Б - Б на фиг. 1.В пространстве дрейфа 1 расположен исследуемый электронный поток 2. Дрейф образован анодом и отрицательным электродом,Анод дрейфа состоит из трех частей; неподвижной 3, подвижной клинообразной вставки 4 и подвижной части 5. Отрицательный электрод состоит из неподвижной части 6, подвижной клинообразной вставки 7 и подвижной части 8. К неподвижной части 6 отрицательного электрода контактной сваркой присоединены две пластинки 9, подобные пластинки 10 приварены к боковой поверхности подвижной части 8. Указанные пластинки образуют закраины на отрицательном электроде. Изоляторы 11 жестко закреплены в подвижных частях анода и отрицательного электрода, входят в отверстие выступов верхней 12 и нижней 13 половин коллектора 14, таким образом осуществляется механическая связь и электрическая развязка коллектора и электродов дрейфа. Фиг. 2 поясняет взаимное расположение частей электрода. Фиг. 3 показывает работу возвратной пружины 15 и закраин 9 и 10,После изготовления и сборки анод и отрицательный электрод дополнительно шлифуют, Таким образом достигается расположение поверхностей неподвижной части 6, подвижной клинообразной вставки 7 и подвижной части 8 в одной плоскости. Для снижения вторичной эмиссии на рабочую поверхность, обращенную к электронному потоку, частей 6, 7 и 8 отрицательного электрода наносят продольные канавки,Устройство работает следующим ооразом.Геометрические размеры электронного потока 2, его положение относительно анода и отрицательного электрода дрейфа определяются путем перемещения щели 16 коллектора 14 от анода к отрицательному электроду пли обратно. При этом наблюдается изменение тока, перехватываемого частями коллектора,Тк по,(сп)(с тока и( верх)(ей 12 )(ло(пп(с кол,шторе) прп псрсмс 1 ци)пп сго ог а)(ода 1, отрицательному электроду означает достижение щелью 16 верхней границы потока, а прекращение тока на нижнюю 13 половину коллектора означает переход щели через нижнюю границу потока. Построив коллекторную характеристику, мжкно получить сведения об электронном потоке при фиксированном значении длины дрейфа, Если коллектор 14 перемещается в направлении увеличения длины дрейфа вправо, то его выступы через изоляторы 11 тянут за собой подвижные части 5 анода и 8 отрицательного электрода, Под дейс(вием прркины 15 подвижный клин 7 отрицательного электрода и соединенный с ним через изоляторы подвижный клин 4 анода начинает скользить своей боковой поверхностью по торцу неподвижной части, другая боковая поверхность клина скользит по скосу боковой поверхности подвижной части электрода, таким ооразом создается новый участок дрейфа с большей длиной. При новой длине дрейфа вновь измеряются параметры пучка, Последовательно меняя длину дрсйфа, можно получить сведения о цпклоидальности пучка. Возврат в исходное состояние с малой длиной дрейфа осуществляется в обратном порядке,Это устройство дает более полное представление о ленточном потоке приборов М-типа, так как позволяет исследовать макеты приборов с малыми высотами дрейфа. Кроме того, в исследуемых макетах представляется возможным делать антиэмиссионные канавки, т. е. условия эксперимента максимально приблизить к процессам, протекаю(цим в реальной конструкции прибора. Формула изобретения Устройство для определения геометрических размеров ленточного электронного потока приборов М-типа по авт. св. М 504149, отл и ч а ю щ ее с я тем, что, с целью повышения точности измерений, между подвижной и неподвижной частями анода и отрицательного электрода ввсдены клинообразные вставки, подвижные в направлении, перпендикулярном направлению перемещения подвижных частей, причем сопряжение граничащих сторон всех трех частей анода и отрицательного электрода выполнено таким образом, что их рабочие поверхности образуют плоскость. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:1. Куликов М. Н. и др. Радиотехника и электроника, том. Х 111, Хд 5, стр. 935, 1968.2. 1. И, Александров и др. Методы экспериментального исследования структуры электронных пучков О- и М-типов, обзоры серия Электроника СВЧ, В 8(108), 1973 г532140 а Техред Л. Кочемирова убина Тираж 963 овета Министроткрь:тнйая наб., д. 4,5 Изд. М 1659 Государственного ко нтста С но делам нзобрстенн 13 н 13035, Москва, Ж, РаупгсНИИ Типография, пр. Сапунова Редактор Заказ 2324 оставитель Е. Громо пг 70 б орректор Л. Орлова ПодписноеСССР

Смотреть

Заявка

2143111, 10.06.1975

САРАТОВСКИЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ

БЕЛЯЧЕНКО ВЛАДИМИР ПАВЛОВИЧ, БЕЛОЛИПЦЕВ АНАТОЛИЙ ИВАНОВИЧ, ЮРКИН ЮРИЙ НИКОЛАЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: H01J 39/00

Метки: геометрических, ленточного, м-типа, потока, приборов, размеров, электронного

Опубликовано: 15.10.1976

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-532140-ustrojjstvo-dlya-opredeleniya-geometricheskikh-razmerov-lentochnogo-ehlektronnogo-potoka-priborov-m-tipa.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для определения геометрических размеров ленточного электронного потока приборов м-типа</a>

Похожие патенты