Электромагнитный дефектоскоп

Номер патента: 526816

Авторы: Борохович, Добровинский, Зайченко, Иванов

ZIP архив

Текст

Государственный комитет Совета Министров СССР ло делам изобретенийи открытий(088.8) нь3 олико Дата опубликования описания 24.08 2) Авторы изобретен 3 айченк(71) Заявител нзенскии политехническии институт(54) ЭЛЕКТРОМАГИИТНЫЙ ДЕФЕКТОС Изобретение относится к неразрушающим методам контроля магнитных материалов и может быть использовано для дефектоскопии и стальных лент, рельсов и т. д.Известны электромагнитные дефектоскопы для контроля вытянутых в длину изделии, со 5 держащие две измерительные системы, которые способны обнаруживать и продольные, и поперечные дефекты. 11.Однако в таких дефектоскопах в качестве индикаторного оконечного блока используют мостовые измерительные схемы, что не позволяет получить надежные количественные данные о дефектах изделия.Наиболее близким по технической с щности к предложенному изобретению является15 электромагнитный дефектоскоп, содержащий последовательно соединенные и инду ктивные датчики, и независимые измерительные каналы с Ь,ключевыми схемами на выходе, первый блок из и схем совпадения и выходной блоккоторый соединен также с тактовыми входами ключевых схем. 21Однако этот дефектоскоп не позволяет измерять размеры дефектов и их местоположение.Целью изобретения является повышение точности и надежности контроля.Это достигается тем, что дефектоскоп снабжен вторым блоком из и схем совпадения, 30 включенным между й измер стельными каналми и выходным олоком, при этом один вхокаждои пг-ои где пг = 1, ,а, и) из и схем совпадения первого и второго олоков подключен к единичному выходу своей ти-ои клю свои схемы, вторые входы схемы совпадения первого олока подключены к нулевому выход 1 пт - т-ои кгпочевоп схемы, а второго олока - к ну левому выходу тп - ,-1-ои ключевои схемы.г 1 а чертеже представлена блок-схема электромагнитного дефектоскопа.дефек 1 оскоп содержит и индуктивные датчики 1 - 1", ) становленные поперек оси движения контролируемого материала на чертеже не показан), измерительные каналы 2 - 2", ключевые схемы 3 - 3",первый блок схем ч - Р совпадений и второй олок схем 5 - 5" совпадения двумя входами для оценки начала и конца трещин и выходной блок б автоматики. выходы датчиков 1 - 1" через измерительные каналы 2 - 2" соединены с входами соответствующих ключевых схем 3 - 3", в качестве которых могут использоваться триггеры, ждущие мультнвибраторы, запоминающие регистры, На тактовые входы ключевых схем 3 - 3" и выходного блока б подают тактовые импульсы. Единичные выходы ключевых схем 3" подсоединены к соответствующим схемам 4" и 5" совпадения блоков 4 и 5, вторые входы схем 4" совпадения блока 4 подключены к нулевым выходам ключевых схем 3" - , на единицу младших по номеру, а вторые входы схем 5 совпадения блока 5 подсоединены к нулевым выходам ключевых схем 3"+, на единицу старших по номеру, за исключением первой схемы 4 совпадения первого блока 4 и последней схемы 5" совпадения второго блока 5.Оба их входа соединены параллельно и подключены соответственно к единичным выходам первой 4 и последней 5 ключевой схемы.Выходы блоков 4 и 5 схем совпадений подключены к выходному блоку 6, представляющему собой блок автоматики с анализатором на основе сочетания запоминающего регистра, логических схем и блока цифрового отсчета для цифровой регистрации, определения размера трещины и автоматической маркировки дефектного места,Дефектоскоп работает, следующим образом.При движении магнитного материала типа стальной ленты по сигналам тактовых импульсов датчики 1 - 1" начинают, контролировать состояние стальной ленты, Допустим, краевая трещина такого размера, что появятся импульсы от первой 3 до А-ой 3" ключевых схем.Для определения начала трещины необходимо выбрать младшую из числа сработавших ключевых схем, что осуществляется блоком 4 схем совпадения. Сигнал будет только на выходе схемы совпадения 1, а на выходах всех остальных схем сигналы отсутствуют.Конец трещины определяется блоком 5 схем совпадения. Сигнал будет только на выходе й-ой схемы 5" совпадения с единичного выхода й-ой сработавшей ключевой схемы 3" и с нулевого выхода 1+1 несработавшей ключевой схемы 3"+.На всех остальных схемах блокав 4 и 5 совпадений сигналы отсутствуют. Размер трещины, равный ширине участка от первого до Й-го датчика 1 - 1, регистрируется блоком 6.Использование новых связей двух, каналовсхем совпадений и запоминающих триггеров 5 позволяет измерять и регистрировать местоположение начала и конца трещины движущейся стальной ленты. Результаты измерения не зависят от угла наклона трещины к оси ленты, Одновременная регистрация участка 10 опроса позволяет определить и вторую координату местоположения трещины, что повышает точность и надежность контроля изделия.15 Формула изобретенияЭлектромагнитный дефектоскоп, содержащий последовательно соединенные и (где и= 1, 2, 3 lг, и) индуктивные датчики, и не зависимые измерительные каналы с и ключевыми схемами на выходе, первый блок из и схем совпадения и выходной блок, который соединен также с тактовыми входами ключевых схем, отличающийся тем, что, с 25 целью повышения точности и надежности конгроля, он снабжен вторым блоком из и схем совпадения, включенным между и измерительными каналами и выходным блоком, при этом одичав вход каждой т-ой (где т = 1, 2, 3 й, 30 и) из и схем совпадения первого и второгоблоков подключен к единичному выходу своей т-ой,ключевой схемы, вторые входы схемы совпадения первого блока подключены к нулевому выходу т - 1-ой ключевой схемы, а 35 второго блока - к нулевому выходу т+1-ойключевой схемы.Источники информации, припятые во внимание при экспертизе:40 1, Патент Швеции347.356, кл. б 01 М27/86, 19702. Авт. св,336,588 кл, 6 01 Х 27/86, 1970626816 Составитель А. МатвеевТехред В. Рыбакова Корректор А, йзесова Редактор О. Юркова Типография, пр. Сапунова, 2 Заказ 1953/9 Изд, ЬЪ 1578 Тираж 1029 Подпис кое ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Микистров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 45

Смотреть

Заявка

2045620, 15.07.1974

ПЕНЗЕНСКИЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ

БОРОХОВИЧ АЛЕКСАНДР ИСААКОВИЧ, ДОБРОВИНСКИЙ ИСААК РУВИМОВИЧ, ЗАЙЧЕНКО ВЛАДИМИР ВАСИЛЬЕВИЧ, ИВАНОВ ВЛАДИМИР АЛЕКСАНДРОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 27/86

Метки: дефектоскоп, электромагнитный

Опубликовано: 30.08.1976

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-526816-ehlektromagnitnyjj-defektoskop.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Электромагнитный дефектоскоп</a>

Похожие патенты