Способ контроля неортогональности падения электронного пучка на накопительную мишень электроннолучевой трубки

Номер патента: 514375

Автор: Рауш-Гернет

ZIP архив

Текст

(111 54375 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Со оз Советских Социалистических Республик) Заявлено 31,08 явкис присоединение судврственный комитет 3) Приоритет убликовано 15.05,76. Бюллетень М Совета Министров СССпо делам изобретенийи открытий 85.832 53) УД(088 Дата опубликовант писания 30.07,76(54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ НЕОРТОГОНАЛЬНОСТИ ПАДЕНИЯЭЛЕКТРОННОГО ПУЧКА НА НАКОПИТЕЛЬНУЮ МИШЕНЬЭЛЕКТРО Н НО-ЛУЧ ЕВОЙ ТРУБКИ юбо" 4 аМ о большой а - длина оси; Ь - шири д - расст М - мас экран1 зоораження и где на изображения; ояние сетка-мишенштаб увеличения из е контрольного ус бражения наойства,об расширяет а все трубки Изобретение относится к области производства и испытания электронно-лучевых трубок,Ортогональность падения электронного пучка на мишень является необходимым условием хорошего качества записи и точного воспроизведения информации, записываемой и сохраняемой на мишени, Очень важным является возможность быстро оценивать неортогональность падения электронного пучка на мишень по величине и направлению в любых точках мишени,Известен способ измерения наклона пучка к мишени в специально изготовленных макетах передающих трубок, использующих вторично- электронное усиление обратного пучка (суперортиконов), имеющих выравнивающую сетку перед мишенью, со стороны секции считывания, состоящий в определении взаимного смещения компонент изображения.Применение этого способа ограничено классом приборов с обратным пучком и выравнивающей сеткой и требует изготовления специальных макетов, не давая возможности контролировать ортогонализацию пучка в трубках непосредственно в эксплуатационной аппаратуре,Предлагаемый спос класс приборов практически н с накопительными мишенями.Целью изобретении является обеспечение возможности проведения контроля в л и точке мишени действующей трубки.Это достигается тем, что по предлагаемомуспособу считывают накопленные на мишени заряды от ионных следов падающего и отраженного электронного пучка и по полученному на контрольном устройстве взаимному расположению изображений следов судят о наклоне электронного пучка относительно мишени, 10 Для получения численных величин, характеризующих наклон пучка к мишени в трубках с выравнивающей сеткой, измеряют на экране контрольного устройства размеры и направление ориентровки полученного изображения, 15 причем направление наклона соответствуетнаправлению большой осн изображения, а угол наклона пучка к нормали я определяют по формулеа б На фиг. 1 приведена схема формирования0 ионного отпечатка при наличии выравниваюмишень электронно-лучевой трубки, состоящий в определении взаимного смещения компонент изображения, отл и ч а ю щи йс я тем, что, с целью обеспечения возможности проведения 5 контроля в любой точке мишени действующейтрубки, считывают накопленные на мишени заряды от ионных следов падающего и отражеш ого электронного пучка и по полученному на контрольном устройстве взаимному распо ложению изображений следов судят о наклонеэлектронного пучка относительно мишени,2, Способ по п. 1, отличающийся тем,что, с целью получения численных величин, характеризующих наклон пучка к мишени в 15 трубках с выравнивающей сеткой, измеряютна экране контрольного устройства размеры и направление ориентировки полученного изображения, причем направление наклона соответствует направлению большой оси изобра жепия, а угол наклона пучка к нормали определяют по формуле а в"= ым 25 где а - длина изображения по его большой оси; 30 Формула изобретения 1, Способ контроля неортогональности падения электронного пучка на накопительнующей сетки и потенциала поверхности мишени, равного потенциалу катода электронной пушки; на фиг. 2 - типичная форма ионного отпечатка для этого случая прп наличии наклона пучка.Отпечаток имеет вид характерной фигуры из двух симметричных крыльев, направление которой по большой оси соотгютствует направлсшпо наклона пучка.Электронный пучок 1, приближаясь к мишени 2, пересекает сетку 3, приближается к мишени в точке 4, отражается от мишени в виде отраженного пучка 5. Ионы, образующиеся в объемах б (участок прямого пучка) и 7 (участок отраженного пучка), оседая на мишень, образуют соответственно крылья 8 и 9 ионного отпечатка,Максимальная ширина крыльев б соответствует сечению пучка в плоскости сетки, длина фигуры а - расстоянию между точками пересечения сетки крайними электронами пучков. При воспроизведении видеосигнала на экране видеоконтрольного устройства измерения проводятся с учетом масштаба увеличения.Применение описываемого способа к трубкам, не имеющим выравнивающей сетки, дает возможность определить неортогональность пучка и направление наклона без непосредственного измерения угла наклона. Ь - ширина изображения;д - расстояние сетка-мишень; М - масштаб увеличения изображения на экране контрольного устройства,51437 фиг г Составитель В. Белоконь Техред Е. Подурушина корректор О. Тюрина Редактор И. Шубина Типография, пр. Сапунова, 2 Заказ 16491 Изд. М 1440 Тираж 963 Подписное Ц 11 ИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж.35, Раушския наб., д. 4,5

Смотреть

Заявка

1957252, 31.08.1973

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ М-5273

РАУШ-ГЕРНЕТ ЭРИК МИХАЙЛОВИЧ

МПК / Метки

МПК: H01J 9/42

Метки: мишень, накопительную, неортогональности, падения, пучка, трубки, электронного, электроннолучевой

Опубликовано: 15.05.1976

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-514375-sposob-kontrolya-neortogonalnosti-padeniya-ehlektronnogo-puchka-na-nakopitelnuyu-mishen-ehlektronnoluchevojj-trubki.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ контроля неортогональности падения электронного пучка на накопительную мишень электроннолучевой трубки</a>

Похожие патенты