Устройство для определения интегралов типа свертки

" 06 9/О осударстеенный комитетСовета Министров СССРпе делам изобретенийи открытий(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ИНТЕГРАЛОВ ТИПА СВЕРТКИост На чертеже приведена схгаемого устройства. едлаО двух 1 и р ду 3 и нно мно и с здает Изобретение относится к устройствам аналоговой обработки информации в ре-, альном масштабе времени и может быть использовано для фильтрации сигналов распознавания образцов, корреляционной обработки и т. д.Известно устройство для определения интегралов типа свертки, содержащее источник напряжения питания и расположенные на оДной оптической осй источник све та, модулятор, дефлектор, первый свето- , прозрачный ", электрод с нанесенным на . него информационным фоторезистивным слоем, второй светопрозрачный электрод с нанесенным на, него безинерционным фоторезистивным слоем, диэлектрическую подложку и проекционную систему. Приконгруэнтном перемещении распределений напряжения по поверхности структурыпроисходит текущее (в том числе в ра диальном 1 масштабе,времени) изменениезначений интеграла свертки, соответству-, ющее заданному типу обработки сигнала.Цель изобретения - исключение взаимного влияния обрабатываемых сигналов при сравнительно простой структуре устройства, Это достигается тем, что устройство1 содержит металлическую непрозрачную для света пленку островковой структуры, размещенную между электрически связанным инерционным и безинерционным слоями, причем первий и второй светопроз- . рачные электроды подключены к источнику напряжения питания.Кроме этого, фоторезистивные слои изготовлены изматериалов с разнесенными областями спектральной чувствительно содержит сэндвич"-структуру из фоторезистивных слоев: инерционного безинерционного 2, заключенных межрозрачными для света электродами 4, между которыми приложено постопитающее напряжение. Дляооканального ,устройства для обработся система одномерных элект. Толщина фотопроводящих слоев выбирается такой, чтобы обеспечилась модуляция проводимости каждого слоя на всю его глубину, падающим на слой светом; сэндвич"-структура может быть нанесена на диэлектрическую подложку 5. Для исклк чения взаимного влияния сигналов и весовой функции из-за проникновения оптических сигналов в "чужие" слои, для инерционного и безинерционного фотопроводящего слоя выбираются полупроводниковые ма териалы с различными спектральными областями чувствительности, или же между ними помещают пленочные непрозрачные йля света металлические островки,Йсточ ник света 6 и оптическая система 7 формируют световой пучок 8, который проходит через модулятор 9. Пропускание модулятора управляется обрабатываемым сигналом Я (), поступающим на управляющий вход модулятора 10. Дефлектор 11 электрооптического или иного типа и оптическая система 12 обеспечивают сканирование изображения, промодулированного сигналом, по поверхности инерционного фоторезистивного слоя 1, Проекционная си стема 13, содержащая движущийся оптический транспорант 14, (например, кольцо кинопленки) проецирует на безинерцион ный фоторезистивный слой 2 сквозь прозрачную подложку 5 движущееся изображение весовой функции.Устройство работает следующим образом.Ввод информации осуществляется последовательно при помощи сканирующего по поверхности, фоторезистивного слоя 1 в направлении Х с постоянной скоростью 0 оптического изображения или луча, промодулированного сигналом 3 ( 1 ). Сигнал записывается на слое 1 в виде рельефноиндуцированной лучом фотопроводимости Проводимость беэинерцнонного фоторезистивного слоя 2 модулируется с помощью движущегося оптического транспоранта 14, 1 формирующего на слое 1 пространственное распределение напряжений -О (х- О 1 ). Для получения непрерывной обработки в реальном масштабе времени зону обработки на "сэндвич-структуре располагают так, чтобы ее фронт совпадал с фронтом записи сигнала (или отставал от него на постоянную величину д ) и осуществляютоих цикличное перемещение по структуре с одной и той же скоростью З, направленной вдоль направления сканирования .МПространственная протяженность зоны обработки= Чф выбирается намного меньше длины структуры. Поэтому, когда фронт,записи доходит до конца структуры и переносится обратным ходом развертки в начало, информацйя, записанная в слое 1 напредыдущем цикле, оказывается полностьюстертой благодаря затуханию фотопроводи мости, Таким образом, инерционный слой 1оказывается подготовленным к следующейзаписи,Движение изображения весовой функцииорганизовано так, что когда фронт его до ходит до конца структуры, он одновременно.появляется вначале, Такое движениеможет быть осуществлено при помощи оптического сканирования двумя разнесенными иэображениями весовой функции, По 20 мере выхода одного изображения за пределы кадра, в кадр входит второе изображение той же весовой функции.Результирующий сигнал снимается в виде тока 1 ( 1 ) между электродами 3 И и 4.формула иэо бретения301. Устройство для определения интегра-лов типа свертки, содержащее источник напряжения питания и расположенные на одной оптической оси источник света, моду лятор, дефлектор, первый светопрозрачныйэлектрод с нанесенным на него инерционным фоторезистивным слоем, второй светопроэрачный электрод с нанесенным нанего безинерционным фоторезистивным 6 слоем, диэлектрическую подложку и проекционную систему, о т л и ч аю щ е е с ятем, что, с целью исключения взаимноговлияния обрабатываемых сигналбв, устройство содержит металлическую непрозрачнуюдля света пленку островковой структуры,размещенную между электрически связанными инерционным и беэинерционным слоями, причем первый и второй светопрозрачные электроды подключены к источнику ф) напряжения питания.2. Устройство по п. 1, о т л и ч а ющ е е с я тем, что фоторезистивныеслои изготовлены из материалов с разнесенными областями спектральной чувстви- Ь тельности..Рожко тор Т.Баранова зд, М Ц сно Рр Заказ ЗЕЮЦНИИ Государственного комитета С по делам изобретений и Москва, 113035; Раущска тне Патент, Москва, Г 5 ета Министров СС крытийнаб., 4 ережковская наб., 24