Способ измерения теплоемкости и малых эффектов при импульсном нагреве
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
. 4610043подбором цорщосФи Ьикронагревателя е и 6",жительности(.13. мсек 1) иэвестнои тешиследуемом образце (в котором Э; резудьтем:; вой мошноста,. Измеренное в экспериментете его нагрева твые эффекты, .с 1 в 1 язан " превышение температур исследуемого и эта иыв.соструктурными превращейщми внеМ, ,лопни;о образпов относительйо первоначальуха. Реализовались и он, практически, ие "Е. йоВоустановившегося их значения, равногоотличается от эталонного обраэпа) добива- температуре измерения, в результате поглоются совпадения ранее полученной термо- щения ими одищковой радиационной энергииграммы, Измеренная разность тепловых. облучщощего ик импульса лазера позволяетмощностей микронагревателя в исследуе- ,определить величину,С При равномерном,мом образце в этих двух аксйерицеитах . р распределении енергидГ в сечении пучка из;после соответствующего пересчета даетлучения лазера или другого импульсного исо ь алость поп ения как величины так и точника световой энергии (лампа-вспышка и,ьа, а ра (знака) тепловых эяэков (С др ) одинаковая величина поглощаемой обИзвестный способ измерения Сидар тру резцами энергии достигается созданием одидсемкддй 1 тре ует громоздко и сложно аппйтребует громоздкой и сложной ахдп 5 юковой герметрии исследуемого н эталоннодрйтуры, силовой и контральйо-измерительной, Го обраЖов и нанесением на ик поверкносзьдля обеспечения необходимого режима иэмере тонкого зачерняюшего покрытия, напримерниц, а результаты измерения получаются со, платиновой черни, имеющей стабильные онэн 1 дчительной погрешностью,Помимо этих нет 111 еские харктериптики в широком темпедддсгадков в известном способе имеются не- М ратурном интервале. Предварительно опредедосд 2 атки пр 1 пдципиальиого хцрактера, влияю- ленные взвешиванием массы образцов нарешие 11 реняе всего на точность результатов ду с измеренными превышениями температу"измерения малых тепловых еЦектов, связан Ры образцов в результате поглошения иминые сддлддтельиостьде,сад,1 одо измерительного импульса радиационной тепловой энергии;йреддесса,оцдугддмыдддд огдледдед 111111411 в вьдде 1 д позволяют по известной величине С эталон.ждддмннк аддыебадидесддого ре 1 дцдд.,да ь ддроцессе ного образца определить ведднчину 11 ооглошениэ 2 дередддди и дде 206 КОдддмО"дьдО 11 сцОльэоьання ной им 1 гепловой лучистой энергии, а с испольдд 111 иэд;доредддддд обрддэ 11 едд зддачддгеддии;1 х разме- эованием последней вычислить С исследуярддв, це ддродгедддддеа 11011 адурации, При иэго- мого образца при температуре измерения,дмддедддддд т 1111 од е обдндздда, сверлепддн39 Теплоемкость образца С определяетсяров ддем еддд;Рсдддй н дцдугддх дддщахмехаддидескедд обработки, деформируюших ис 1 дддеддуе 12 дьдйд ме гаад, сддимоедся значительная С ,часдь ддмедедддддхся или Искусстиенддо соэданРою (Т +дТ)М фа м а11 днх в нем ддэддряжений. Кроме тод о, для по д,де Ц.,111 ТЭ 1лу депвя еиутшльдх по величине теддловых эфмэфед 1 1 огд ьС образны стремятся сделать нодвоэм 1 дн 1111 н.г 11 д,дассивддд,дм 11, чдо, в свою оче н, следовательно,рель. 1 дгрдддшчивает диапазон возможных ви пд ТмСддедд 11 ед 1 юрд,дании и 11 х величины, например, с ффдп (Тм+(2),ид,пиддэеьеддиел 1 эддерд ии взрыва,11 л 11 повышения то.ности получаемых ре где Я - количество радиационной эддергииЗУ 11 Ь"Гагоо ИзмЕрЕныя, сОКраШення трудееМКо . на еДИницу облучаемой поверхности 1стп 11 эмерддтельддого процесса и его унроше Т - максимальный подьем температурьва "фния, а также для расширения возмон 1 ностей образца эталона. 41- разность темперадуу. по видам воздействия н их величине на нс- образка и эталона при температуре Тсддеддуемд,д 11 образец, создающих в нем струкмтуреые ддэд,деддеддия предлагается измерение Ф и э массе образца и эталона соотвеьлЪ иВ - массе об аз1ственнщдед 1,11 деддк г,. гдд н величины тепловддх эффекто 11 в эаг цснмости от изменения темпэратуро . Рэ тешоемкость образца и этад1 Ирд,д с дк.дде дд эован 11 ем эталонного образца про.вддч 1111 методом воздействия теплового рад " При пределении тепловых эффектовП и определении теплов1 и 1171 ддгдгс импульса 2 Для исследования исполюв Тзудит малые образцы простейшей конфигурар р а + ,С С.цип (тоддкие 1-2 мм прямоугольные пластинкн РазмеРом Вд 110 мм или два полУдиска Еэ 3, кое 10 мм), облучаемых радиационнымфмобримпульсом (например, излучение оптическо Если 111 вйъ что легко выполнить приФ 60 ф Фго квантового генератора короткой прпдол-подготовке эксперимента, то" Оф Л.йракннна актов г Ив Тв аз ф 1 фЯЯцнийп ПодннсновСССР осудаоставиаОГО комнтдта Сооо делам йзобратеннФ и о Москва, 333035, Раушснаа ТАЮТ яаб Проектная, 4Филиал ПП 3 ф, Удсгород ) 3 СюС (4)Ро, р.э + дТ С юС ЬЧ. ТмЭИзмерение величины и характер тепловых нафактов, реализуюшихда в образце, претерневаюшем при нагреве структурные и фаэое Превращений; - сводитсй к регистрацииалых разностей температур исследуемого и яталонного образцов (облучаемых коротким Импульсом радиационной энергии), осуществ-. ляемой, например, тонкой дифференциальной тврм опарой, Серия измерений, проведенныхинтервалами через; несколько градусов(Р 7 фС) тпозволЯет по полУченным РезУльтР там построить графическую зависимость величины и характера тепловых эффектов в диапазоне температур измерения, ПолученС; ;ные предлагаемым способом , и ЛСбу р дут истинными, так как в этом случае при облучении малых образцов импульсом радиа-. . пионной энергии короткой продолжительности :преодолевается больнп 1 нство трудностей; отсутствуют тепловые контактные сопрстнвления на границах источников и стоков теллаза счет чрезвычайно малой продолжительности нарастания температуры на образцах домаксимального значения н чрезвычайно малого времени регистрации этого приращениятемпературы образцов,.теплообменом образа..цов с окружающей средой можно пренебречь,,а измерительный процесс в первом .рпбли-.жении можно считать аднабатнческим. Способ измерения тецлоемкости и малых гепловых эффектов рн импульсном нагреве эталона и исследуемого образца по рвэцрститемператур, отличающнйс я тем, что, с целью повышения точности измерений, эталон и исследуемый образец облучают одним импульсом, например, лазерного излучения, прячем О 5 раэцы выпочнены в виде плоских тел одинаковой геометрии н снабжены тонким эачерняющнм покрытием со ствбильнымн оптическими характеристиками в измеряемом диапазоне температур,
СмотретьЗаявка
1838373, 19.10.1972
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ М-5539
КАНЧЕЕВ ОЛЕГ ДМИТТРИЕВИЧ, ЧУМАК ЭДУАРД ИВАНОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 25/20
Метки: импульсном, малых, нагреве, теплоемкости, эффектов
Опубликовано: 25.11.1974
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-451004-sposob-izmereniya-teploemkosti-i-malykh-ehffektov-pri-impulsnom-nagreve.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения теплоемкости и малых эффектов при импульсном нагреве</a>
Предыдущий патент: Способ определения плотности теплового потока
Следующий патент: Электролит для определения дефектов диэлектрических пленок
Случайный патент: Способ размножения промышленных цветочных культур