Устройство для измерения нараметров нагружения
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
392326 Союз СоветскихСоциалистическихРеспублик исимое от авт. свидетельст аявлено 19.Х 1.1971 ( 1715344/25-28) М. Кл. 6 01 Ь 7/18 исоединением заявки-осударственныи кемитеСовета Министров СССРла делам изобретенийи открытий риоритет Опубликовано 27,Ч 11,1973. Бю ДК 531,71:531,1теньта опубликования описания 14.Х 11.1973 Авторы зобретен. Больших, А, А. Титов и И, И. Шишорин Заявите Научно-исследовательский и конструкторский институтспытательных машин, приборов и средств измерения ма ЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ НАГ УСТРОЙ С Я,Импульсы с выхода схемы совпадений подводят к модулирующему электроду или катоду электроннолучевого нуль-индикатора 0 (вход 7). Изобретение относится к области измери. тельной техники и может быть использовано для измерения параметров нагружения при циклических испытаниях материалов на испытательных машинах или при динамических испытаниях различных объектов, например, на вибростендах.Известно устройство для измерения параМетров нагружения - нагрузок и(или) деформаций при циклических испытаниях материалов, содержащее тензометрические датчики параметров нагружения, компенсационную схему измерения величины интересующего,па. раметра и схему измерения параметров нагружения в заданной фазе, включающую ком. мутатор и формирователь импульсов отметки фазы.Предлагаемое устройство отличается от известного тем, что оно снабжено фотоэлектрическим преобразователем, например фотодиодом, включенным на вход формирователя импульсов отметки фазы, а коммутатор выполнен в виде последовательно включенных задающего генератора, фазосдвигающего каскада, импульсного усилителя и стробоскопического осветителя, в зоне луча которого установлен фотоэлектрический преобразователь,Это расширяет частотный диапазон измерений и позволяет осуществить бескоптактные измерения,На фиг. 1 изображена блок-схема предаемого устройства; на,фиг. 2 - блок-схеоммутатора. 5 Устройство (фиг. 1) содержит тензометри.ческие датчики параметров нагружени включенные в мост 1, который питают генератором 2 несущей частоты, Выходное напряжение моста подано на вход компенсатора 8, пи таемого также генератором несущей частоты.Напряжение небаланса моста усиливают усилителем 4 и подводят ко входу отклонения луча по вертикали (вход У) электроннолучевого нуль-индикатора 5. Напряжение несущей15 частоты через,фазовращатель 6 подводят ковходу отклонения луча по горизонтали (вход Х) электроннолучевого нуль-индикатора. Формирующий каскад 7 формирует из синусоидального напряжения несущей частоты, пи тающего мост, импульсы, следующие с такойже частотой. Эти импульсы подведены на один из входов схемы 8 совпадений. На второй вход схемы совпадений подведены импульсы, сформированные каскадом 9, управляемым 25 коммутатором 10.Коммутатор (фиг. 2) содержит задающий генератор 11, который может быть синхронизирован внешним сигналом Ь;р.Напряжение с,генератора подается на фазосдвигающий каскад 12 и далее на импульсный усилитель 13, питающий стробоскопическую лампу 14, установленную в рефлекторе 15, с помощью которого излучение лампы направляют на исследуемый объект. Лампа оснащена фотоэлектрическим преобразователем 1 б, например фотодиодом,Сигнал с фотоэлектрического преобразователя подается на вход каскада 9, формирующего импульсы отметки фазы деформирования или нагружения.Фазосдвигающий каскад 12, установленный в цепи управления стробоскопической лампой, может быть выполнен,по одной из известных схем как на электровакуумных, так и на полупроводниковых приборах с учетом необходимости его согласования как с генератором 11, так и с импульсным усилителем 13.Работа с устройством заключается в следующем. Направляют излучение лампы стробоскопа на испытываемый объект: образец материала, установленный в захваты машины для испытаний на усталость, оснащенной соответствующими преобразователями; изделие, установленное на столе вибростенда и оснащенное соответствующими преобразователями и т. п. Наблюдая объект через оптическую трубу с визиром, например катетометр, и регулируя фазу вспышек стробоскопа, фиксируют изображение объекта в заданной фазе деформирования или нагружения. Поскольку этому же моменту времени соответствует вспышка стробоскопической лампы, постольку на выходе каскада 9 сушествует коммутирующий импульс, длительность которого определяется параметрами этого каскада, а на вьгходе схемы совпадений существуют пачки импульсов, повторяющиеся с частотой изменения измеряемой величины (нагрузки или дефор мации), Так как эти импульсы подают намодулирующий электрод пуль-индикатора, на изображении циклограммы появляется отметка. Если при этом производят компенсацию небаланса моста до момента совпадения края 10 отметки (в вертикальном измерении) с горизонтальной прямой, проходящей через верши.ны треугольников (изображение циклограммы на экране нуль-индикатора), то отсчет со шкалы компенсатора соответствует величине 15 нагрузки (или деформации) в заданной фазедеформирования (или нагружения). Предмет изобретения20 Устройство для измерения параметров пагрухкения - нагрузок и(или) деформаций прн циклических испытаниях материалов, содержащее тепзометрические датчики параметрав нагруженпя, компенсационную схему измере ния величины интересующего параметра исхему измерения параметров нагружения в заданной фазе, включающую коммутатор и формирователь импульсов отметки фазы, ог,гичагоигеесл тем, что, с целью расширения ча стотного диапазона и проведения бесконтактных измерений, оно снабжено фотоэлектрическим преобразователем, например фотодиодом, включенным на вход формирователя импульсов отметки фазы, а коммутатор выпол нен в виде последовательно включенных задающего генератора, фазосдвигающего каскада, импульсного усилителя и стробоскопического осветителя, в зоне. луча которого установлен фотоэлектрический преобразователь,302320 Составитель И. федоров Техред Т. Курилк Корректор Редактор О,76/7ЦНИ ака Подл ясноССР Типография, лр. Сапунова,Изд.816 осударственного комитета по делам изобретений Москва, Ж, РаушскаТираж 755 Совета Министро открытий наб., д. 4/5
СмотретьЗаявка
1715344
Научно исследовательский, конструкторский институт испытательных машин, приборов, средств измерени масс
витель А. С. Больших, А. А. Титов, И. И. Шишорин
МПК / Метки
МПК: G01B 7/16
Метки: нагружения, нараметров
Опубликовано: 01.01.1973
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-392326-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-narametrov-nagruzheniya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения нараметров нагружения</a>
Предыдущий патент: Способ измерения ползучести железобетонных конструкций
Следующий патент: Способ измерения углового положения ротора явнополюсной электрической машины
Случайный патент: Устройство для формования отбортовки