Двухканальный дефектоскоп

Номер патента: 270320

Авторы: Научно, Недавний

ZIP архив

Текст

ВОЕсоювнар 1и Й 6 н т и О - т 8 ии ч О с иззу баб иот аМ 27 ОЗ 20 И Е ИЗОБРЕТЕНИЯСоюз Советских Социалистических РеспубликК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Зависимое от авт. свидетельства4 Ж 4 07 Заявлено 14,Ч 1.1965 ( 1296775/25-28)с присоединением заявкиПриоритетОпубликовано 08.Ч.1970. Бюллетень16Дата опубликования описания 10 Л 111.1970 МПК 6 01 п 23120УДК 620.179,152 (088.8) Котситет по целее изобретений и открытий при Совете Министров СССРАвторизобретения О. И. Недавний Научно-исследовательский институт электронной интроскопии при Томском политехническом институте имени С. М. Кирова Заявитель ДВУХКАНАЛЬНЫЙ ДЕФЕКТОСКОП Известен двухканальный дефектоскоп, содержащий источник ионизирующего излучения, детекторы излучения, сравнивающее и регистрирующее устройство. Он имеет тот недостаток, что величина регистрируемого на пряжения пропорциональная начальной интенсивности излучения.Для повышения точности определения размера дефектов предлагаемый дефектоскоп снабжен двумя логарифмическими преобра зоватслями, вход каждого из которых соединен с выходом соответствующего детектора излучения, а выходы - с входами сравнивающего устройства. Каждый из логарифмических преобразователей содержит диод, соеди ненный через 1 х,С-цепочку с усилителем, и триггер Шмидта, подключенный к выходу усилителя. Кроме того, для устранения остаточного напряжения ча конденсаторе КС-цепочки логарифмических преобразователей при ис пользовании бетатрона, параллельно КС-цепям присоединены нормально разомкнутые ключи, управляемые от схемы синхронизации бетатрона. 25На фиг, 1 показана блок-схема описываемого дефектоскопа; на фиг, 2 - пример конкретной реализации изобретения с учетом, что источником излучения является бетатрон; ча фиг, 3 - схема подключения ключей. 30 Дефектоскоп содержит источник излучения 1, детекторы излучения 2 и 3, соединенные со входами сравнивающего устройства 4 через логарифмические преобразователи 5 и б. Выход сравнивающего устройства псдключен к регистрирующему устройству 7.Логарифмические преобразователи выполнены на основе использования амплитудно- временной трансформации, осуществляемой по логарифмическому закону, и содержат диоды 8 и 9, КС-цепи, состоящие из конденсаторов 10, 11 и разрядных сопротивлений 12, 13, усилители 14 и 15 и триггеры 1 б и 17 Шмидта. Выходы триггеров подклю цены ко входам сравнивающего устройства 18. Выходы сравнивающего устройства через диоды 19, 20 и интегрирующие цепи, состоящие из конденсагоров 21, 22 и сопротивлении 23, 24, подключены ко входам балансного катодного повторителя 25, к выходу которого подключен самопишущий прибор 2 б.Для устранения остаточного напряжения на конденсаторе КС-цепи в моменты, предшествующие генерации импульсов излучения, параллельно ей присоединен нормально разомкнутый ключ, управляемый от схемы синхронизации бетатрона.При таком выполнении схемы дефектоскопа величина регистрируемого сигнала определяется лишь размерами дефекта в изделии, онане зависит от колебаний начальной интенсивности излучения и достигается линейность шкалы, что следует из формулыУ=К и,Лх,где У - регистрируемое напряжение;р - коэффициент ослабления излученияматериалом изделия;Лх - размер дефекта;К - коэффициент пропорциональности.Дефектоскоп работает следующим образом, Излучение источника 1 проходит через исследуемое изделие и регистрируется детекторами излучения 2 и 3. С выходов детекторов импульсы подаются на,входы логарифмических преобразователей б и б, где они подвергаются амплитудно-временной трансформации, осуществляемой по логарифмическому закону, и подаются на входы сравнивающего устройства 4 и далее на регистратор 7. Амплитудно- временная трансформация импульсов осуществляется с помощью преобразователя, показанного на фиг. 2. Импульсы от детектора поступают через диоды 8 и 9 на КС-цепи Сюй, С 1 Л 1 з, далее через усилители 14 и 15 на триггеры Шмидта 16 и 17, а с выходов триггеров на сравнивающее устройство 18, выполненное в виде дифференциального усилителя на двойном триоде. Импульсы, которые снимаются с анодных цепей двойного триода, имеют длительность, определяемую соотношениемт=КС пЛх,где КС - постоянная времени логарифмических преобразователей; р - коэффициент ослабления излучения материалом изделия;Лх - размер дефекта в направлении просвечивания.Импульсы с выхода дифференциальногоусилителя 18 через диоды 19 и 20, интегрирующие цепи, состоящие из конденсаторов 21, 22 и сопротивлений 23, 24, и через балансный 10 катодный повторитель подаются в самопишущий прибор 2 б, например потенциометр ЭПП,9. Предмет изобретения15Двухканальный дефектоскоп, содержащий источник излучения, например бетатрон,два детектора излучения, сравнивающее и регистрирующее устройства, отличающийся тем,20 что, с целью повышения точности определенияразмеров дефектов, он снабжен двумя логарифмическими преобразователями, вход каждого из которых соединен с выходом соответствующего детектора излучения, а выходы -25 с входами сравнивающего устройства,2. Дефектоскоп по п. 1, отличающийся тем,что каждый из логарифмических преобразователей содержит диод, соединенный черезКС-цепочку с усилителем, и триггер Шмидта,30 подключенный к выходу усилителя,3, Дефектоскоп по пп. 1 - 2, отличающийсятем, что, с целью устранения остаточного,напряжения на конденсаторе КС-цепочки логарифмических преобразователей при использовании бетатрона, параллельно КС-цепям присоединены нормально разомкнутые ключи, управляемые от схемы синхронизации бетатрона.".оставитель Л, гришина Редакто Т, Н. Караиова Техред 3. Н, Тараиеико Корректор М. П. РомашЗаказ 2176/4 Тираж 480 Подписно ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Москва Ж, Рашская наб., д. 4/5графин, пр. Сапунова,

Смотреть

Заявка

1296775

О. И. Недавний, Научно исследовательский институт электронной интроскопии при Томском политехническом институте имени С. М. Кирова

МПК / Метки

МПК: G01N 23/18

Метки: двухканальный, дефектоскоп

Опубликовано: 01.01.1970

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-270320-dvukhkanalnyjj-defektoskop.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Двухканальный дефектоскоп</a>

Похожие патенты