Способ определения содержания элемента в поверхностном слое земли

верси лучения 1 х дмента. Опрента произной толщидщРК +Оп нов и воны Ь по соотношениям; 1 п ний атом дп Рхя гамма;чений вя нейтотона; ,и 1 оглощени ского излуимодействи и атома ЕЛЕНИЯ ПОВЕР(57) Иненнония; р опре А гпях 1 хС 2ОРР к исследованию адиационными для определети Земли. Ы Ы Сгп ыи номер средь; ые коэффициенты поронного и рентгеноде,аимодействия нейтами и атомами опреюстрируется черте- ставлена геометрия ют следующим обраповерхностью воды ка нейтронов 1 косают надчик 1 пот ГОСУДАРСТВЕННОЕ ПАТЕНТНОЕВЕДОМСТВО СССР(71) Казахский государственный унтет им. С.М.Кирова(72) Е, В, Кол ом ее ц, В, Н, Се востьШ.Д, Фридман(56) Авторское свидетельство СССРМ 1427983, кл. 6 01 й 23/00, 1983,Авторское свидетельство СССРМ 830241, кл. О 01 й 23/00, 1979,ОСОБ ОПРЕД СОДЕРЖАЛЕМЕНТА В ХНОСТНОМЕМЛИпользование: для контроля загрязти почвы и воды, Сущность изобретегистрируют на поверхности среды Изобретение относится или анализу материалов р методами и предназначено ния загрязнения поверхнос Цель изобретения - дополнительное определение содержания элемента в поверхностном слое меньшей толщины,Сущность изобретения заключается в том, что регистрируют на поверхности среды потоки нейтронов 1 п и протонов 1 Р космического излучения и потоки захватного гамма-излучения Г на ядрах определяемого элемента и характеристического излучения 1 для атомов определяемого элемента. Определение содержания элемента производят в двух слоях различной толщины по соотношениям: потоки нейтронов 1 и и прото ского излучения и потоки захва лучения 1 на ядрах определя и характеристического из атомов определяемого эле ление содержания элеме дят в двух слоях различ С 2 - ", где А -Агпрйх 1 хор 1 рномер среды, гпр-масса прмассовые коэффициенты инейтронного и рентгеновсреде; снап, ор - сечения взаронов и протонов с ядрамделяемого элемента, 1 ил. где А - средний атомнвр - масса протонар,рпих - массовглощения гамма-, нейтвского излучений в среОп, Ьр - сечения взронов и протонов с ядрделяемого элемента.Изобретение иллжом, на котором предизмерений.Способ осуществлязом.Располагили суши дат омического излучения и датчик 2 захватного гамма-излученияядер определяемого элемента, датчик 3 потока протонов р космическо. го излучения и датчик 4 характеристического излучения х атомов определяемого элемента. Производят регистрацию указанных потоков, Определяют содержание элемента в первом С и втором С 2 поверхностных слоях по соотношениям: Атп хх; Сг -Ър а,Ь Ниже приведен пример конкретного выполнения.При определении содержания хлора в почве получены следующие значения потоков излучения: У - 1,7 ф 10 нейтр(см . с,ср); ,г - 2,6 10 фотон/см .с.ср (с энергией 8,55-3 2Мэв), р - 104 протонов/см,с.ср: х - 3,5 ф 10 фотон/см.с.ср (с энергией 2,82 Кэв).Известно, что ,и = 0,022 см/г р;0,008 см /г, р=500 см/г,%-3,2 10 см; игр= 9 10 см; Аг 20, глр 1,7 10 г, Отсюда С 1=0,005, С 2= 0,01. Причем глубина первого слоя (99 физлучения) составляет150 г/см а второго -,и +Р,Их =0,01 г/см .Таким образом, способ обеспечивает дополнительное измерение содержанияА гпяххл ОррСр -атомный номер среды;стона;ссовые коэффициенты понейтронного и рентгенов среде;я взаимодействия нейтросоответственно ядрами иемого элемента. где А - средний вр - масса прэлемента в дополнительном слое меньшей толщины.ф о р мул а и зоб рете н ия Способ определения содержания эле мента в поверхностном слое Земли,включающий регистрацию на ее поверхности потока нейтроновкосмического излучения, потока захватного гамма-излученияядер определяемого элемента и опреде ления содержания элемента в поверхностном слое, от л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью дополнительного определения содержания элемента в поверхностном слое меньшей толщины; регистрируют на поверх ности потоки протонов р космического излучения и характеристическое излучение Ьхатомов определяемого элемента, а содержание элемента в первом и втором поверхностных слоях определяют по соотношениям 201833807 Составитель И. Гавленкоехред М,Моргентал Корректо Козориз ктор Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 1 Заказ 2683 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ С 113035, Москва, Ж, Раушская наб 475