Устройство для измерения зарядов частиц порошков
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
ОЮЗ СОВЕТСКИХОЦИАЛИСТИЧЕСКИЕСПУБЛИК 817043 А 1 й 29/2 1)5 ГОСУДАРСТВЕННОЕ ПАТВЕДОМСТВО СССР .(ГОСПАТЕНТ СССР) Н ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗ РЯДОВ ЧАСТИЦ ПОРОШКО (57) Использование; изобре к испытательной технике и пользовано для иамерени частиц в химической, пище раслях промышленности. С тения: повышение чувст автоматизации измерений ных частиц порошков метод на измерении координаты о в электрическом поле, Пос достигается тем, что устрой МЕРЕНИЯ ЗА(71) Институт физической химии АН СССР (72) Н.С,Михович, В,Н,Корпусов, В,М,Муллер, Ю.П.Топоров и М,Л.Шешина(56) Красногорская Н.В, "Электричество нижних слоев атмосферы и методы его измерения, Л.,Гидрометиздат", 1972, с.324.КитаевА.В., Алейникова И,Н., Котляровская Г.Г., Пронин В,А, Новости медицинской техники, Труды ВНИИ медицинского обору. дования, вып.3, 1965, с.143,ение относится может быть ис электризации ой и других отщность изобревительности и арядов отдельом,основанным седания частиц тавленная цель тво для измере(2) 20 откуда т 1=Ь/Че. ния заряда частиц порошков, содержащее корпус 1, осадительные электроды 2, на которых крепятся предметные стекла 3, дополнительно содержит узел формирования плоских световых горизонтальных полей, мноИзобретение относится к испытательной технике. в частности к устройствам для измерения электрических свойств порошков. Может быть использовано в химической и пищевой промышленности, а также в технологии строительных материалов для измерения электризации частиц порошков в технологических процессах,Цель изобретения - повышение чувствительности и обеспечения автоматизации измерений заряда отдельных частиц при использовании способа, основанного на определении координаты оседания частиц в электрическом поле.Пример конкретного выполнения На чертеже показана схема устройства. Устройство содержит следующие основные узлы; вертикальную камеру-корпус 1, осади- тельные электроды 2, на которых с помощью специальных держателей крепятся предметные стекла 3, узел формирования плоских световых полей, включающий источник света 4, щелевые диафрагмы 5 и зеркала б, систему фотоприемников ФЭУ 7,Основное отличие предлагаемого устройства от прототипа - это наличие в нем узла, с помощью которого плоский пучок света последовательно пересекает рабочий обьем измерительной камеры в горизонтальной плоскости, проходя через прорези между электродами, заполненными оптически прозрачным материалом (стеклом).Заряд частицы в данном устройстве определяется по координате оседания падающих со скоростью седиментации частиц в поле конденсаторов. Выведем формулу для расчета заряда частицы.Уравнение движения заряженной частицы массой щ в направлении электрического поля имеет следующий вид; гп =ц Е - Злр О Ч, (1) бЧо е где Ч - скорость частицы, ц - заряд частицы,Е - напряженность электрического поля в конденсаторе.,и - вязкость воздуха, О - диаметр частицы,гократно пересекающих обьем измерительной камеры, и ряд фотоприемников 7, фиксирующих пролет осаждаемых частиц черезсветовые поля. 1 ил. Решая уравнение (1) при начальном условии т=О, Ч=О, находим горизонтальную составляющую скорости частицы; Ч(т) = (1 - е ),где г = 3 - время релаксации,и)Злр О10 Частица осядет на один из электродов,когда она пройдет в горизонтальном направлении за некоторое время ть путь, равный полуширине измерительного отсека Ь.Интегрируя выражение(2) по с от 0 до в, 15 получаем Ь = ч (т - г(1 - е , (3) Ц =- З д 11 О ЬеГ 1; - е 11 - е )3 Время ь определяется из соотношения где Чв - скорость седиментации частицы,Ь - координата центральной горизонтальной линии1-го предметного стекла, на которое оседает частица,Таким образом, для определения заряда частицы, используя формулы (4) и (5), необходимо знать координату оседания частицы(предметное стекло). скорость седиментациии диаметр частицы. Предлагаемое устройство позволяет получить эти данные.Устройство работает следующим образом. Измеряемая частица поступает черезвходное отверстие в конденсатор (измерительный отсек), образованный двумя осади 45 тельными электродами. Входное отверстиепредставляет собой узкую щель, и частицачерез нее поступает в измерительный отсекпо плоскости симметрии конденсатора. Падающая в измерительном отсеке частица проходит горизонтальные пучки света, При этом1817043 рой неопределенности в определении координаты оседания частицы. Считается, что эта координата соответствует центральной горизонтальной линии стекла, на которое оседает частица, Эта погрешность может быть снижена уменьшением расстояния между пучками света. Кроме того, остается возможность точно определить координату, просмотрев предметное стекло, на которое частица высадилась. Формула изобретения Составитель Ю.ТопоровТехред М,Моргентал Корректор С,Лисина Редактор Заказ 1721 Тираж ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул,Гагарина, 101 на выходе ФЭУ, регистрирующих рассеянный частицей свет, появляются электрические импульсы. Частица будет пересекать пучки света до тех пор, пока не осядет на одном из предметных стекол осадительного 5 электрода.По количеству зарегистрированных электрических импульсов может быть вычислено предметное стекло, на которое осадилась частица, а следовательно, и координата ее осе дания, Измерение интервала времени между импульсами позволяет определить скорость седиментации, а далее по известной зависимости и размер частицы. (Знак заряда частицы может быть установлен по характеру 15 изменения амплитуды электрических импульсов, регистрируемых ФЭУ, или путем после, дующего просмотра предметных стекол на уровне оседания),Таким образом, предлагаемоеустройст во позволяет определить заряд. размер и знак заряда отдельной частицы по методу осаждения ее в электрическом поле, что дает возможность повысить чувствительность измерений, а также автоматизировать обра ботку данных(количество электрических импульсов и частота их следования) с помощью мини-ЭВМ, связав ее через соответствующий интерфейс с предлагаемым устройством. 30Основная погрешность при определении заряда частицы возникает из-эа некотоУстройство для измерения зарядов частиц порошков, содержащее камеру, в которой размещены два вертикальных электрода, на каждом из которых укреплено и предметных стекол, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения чувствительности и обеспечения автоматизации измерений заряда отдельных частиц, оно снабжено узлом формирования плоских световых горизонтальных полей, включающим источник света и оптически связанные с ним через щелевые диафрагмы, расположенные соосно в прорезями в электродах, заполненными оптически прозрачным изолирующим материалом, 2 п зеркал, а также и фотоприемников, выходы которых подключены к блоку обработки сигналов., причем фотоприемники расположены на стенке, перпендикулярной электродам и смещены от оси камеры,
СмотретьЗаявка
4919540, 18.03.1991
ИНСТИТУТ ФИЗИЧЕСКОЙ ХИМИИ АН СССР
МИХОВИЧ НИКОЛАЙ СТЕПАНОВИЧ, КОРПУСОВ ВИКТОР НИКОЛАЕВИЧ, МУЛЛЕР ВЛАДИМИР МАКСОВИЧ, ТОПОРОВ ЮРИЙ ПАВЛОВИЧ, ШЕШИНА МАРИНА ЛЬВОВНА
МПК / Метки
МПК: G01R 29/24
Метки: зарядов, порошков, частиц
Опубликовано: 23.05.1993
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1817043-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-zaryadov-chastic-poroshkov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения зарядов частиц порошков</a>
Предыдущий патент: Датчик для измерения напряженности электрического поля в электролите
Следующий патент: Способ определения места повреждения кабеля
Случайный патент: Способ получения производных пирроло (2, 1-с)(1, 4) бензодиазепин5-она