Способ измерения интегрального спектра протяженного объекта
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
(51)5 С 01 Л 3/12 ИЗОБРЕТЕЛЬСТВУ НИЯ ОПИСАН 1 "1-у 3 ЯЯ ф ягг.Ьяд.Р у К АВТОРСКОМУ С, И, Ганд ГОСУДАРСТВЕННОЕ ПАТЕНТНОЕВЕДОМСТВО СССР(71) Главная астрономическая обсерватория АН УССР(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯНОГО СПЕКТРА ПРОТЯЖЕНТА(57) Использование; в астрономических исследованиях спектра Солнца и других протя-Мф;Изобретение относится к астрономическим исследованиям спектра Солнца и может быть использовано для измеренияинтегральных спектров других ярких протяженных объектов,Цель изобретения состоит в повышенииточности измерения интегрального спектрапротяженного обьекта, достигаемой вреЗультате совмещения высокого спектрЭльного разрешения, корректного интегрирования излучения по всей поверхностипртяженного обьекта и использования фотоэлектрической регистрации излучения,Изобретение поясняется чертежом,Наблюдения спектра Солнца как звезды согласно заявляемому способу реализуются на интегральном спектрофотометре,1802299 А женных обьектов. С помощью питающеи оптической системы получают изображение протяженного обьекта на входной щели спектрального прибора, Проводят сканирование изображения обьекта по входной щели и принимают монохроматическое излучение от выделенной входной щелью части изображения. Этот прием монохроматического излучения для различных длин волн ведут с одинаковой апертурой, Для каждого монохроматического интервала проводят полный цикл сканирования с постоянной скоростью вдоль направления дисперсии спектрального прибора с накоплением сигнала. Регистрацию сигнала осуществляют после завершения полного цикла сканирования изобракения, Повышение точности достигается за счет линейности регистрации, 1 ил,схема которого показана на чертеже и состоящемиз питающей оптики АЦУ1, устройства сканирования Солнца 2, главного 3 и вспомогательного 4 зеркал, монохроматора двойной дифракции, выполненного по вертикальной схеме Эберта-Фасти и включающем входную щель 5, находящуюся в фокальной плоскости главного 3 и коллиматорного 6 зеркал, дифракционную решетку 21, диафрагму рассеянного света 22, камерное зеркало 7, устройство сканирования спектра сканирующий эккер) 8 с промекуточной щелью 9, находящейся в фокальной плоскости первой дифракции, плоские диагональные зеркала 10 и 11, выходные щели 12 и 13, Кроме этого, интегральный спектрофотометр содержит линзы Фабри 14 и 15.фотоумножители 16 и 17, принимающие излучение в каналах сигнала и прозрачностисоответственно. Далее в схеме следуют блоки накопления и регистрации 19 сигнала иблок управления 20 согласовывающий работу узлов 2, 8, 18 и 19,Заявляемый способ работает следующим образом.Главное зеркало 3 строит на входнойщели 5 монохроматора небольшое (меньшевысоты щели) изображение Солнца. Движением плоского зеркала 2 осуществляютсяциклические сканирования этого изображения с постоянной скоростью поперек входной щели 5. Линза Фабри 15 строит 15выходной зрачок оптической системы на катоде ФЭУ 17. Дифракционная решетка 21 иглавное зеркало 3 являются апертурнымидиафрагмами оптических систем монохроматора и телескопа, причем их оправы выполнены в виде прямоугольных диафрагм,Поэтому прием монохроматического излучения осуществляется фотоумножителем 17с одинаковой апертурой для всех участковвыделяемой входной щелью 5 части изображения Солнца для разныхдлин волн. Сканирование по спектру осуществляетсяперемещением вдоль дисперсии эккера 8,причем каждый шаг сканирования выполняется после завершения полного цикла сканирования изображения Солнца, в течениекоторого в блоке 18 сигнал с ФЭУ 17 накапливается (суммируется). Регистрация сигналаа (и росуммирова нного) и роизводится вблоке 19 непосредственно перед очередным перемещением эккера,Одновременно в канале прозрачностианалогичным образом регистрируется сигнал после однократного прохождения, учитывая который исправляются результаты за 40флуктуации прозрачности земной атмосферы,В реализуемом на интегральном спектрофотометре способе при наблюдениях в пятом порядке спектра достигается высокое спектральное разрешение (.-600000), вследствие применения входной щели, имеющей нормальную ширину и использования всей поверхности дифракционной решетки (140 х 150 мм, 600 штр/мм), 2), высокая фотоэлектрическая точность регистрации ( 0,2 ,), вследствие большой величины отношения сигнал/шум, 3) корректность интегрирования излучения по поверхности диска Солнца, вследствие равномерности сканирования изображения Солнца, линейности приемной аппаратуры и равенства апертур при регистрации излучения от разных зон диска.Формула изобретенияСпособ измерения интегрального спектра протяженного объекта, включающий получение изображения объекта, сканирование изображения объекта по входной щели спектрального прибора, прием монохроматического излучения от выделенной входной щелью спектрального прибора части изображения объекта, сканирование по спектру спектрального прибора, накопление сигнала от указанного монохроматического излучения и регистрацию этого сигнала, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности измерений, прием монохроматического излучения от выделенной входной щелью спектрального прибора части изображения объекта для различных длин волн ведут с одинаковой апертурой, в процессе сканирования по спектру спектрального прибора для каждого монохроматического интервала проводят полный цикл сканирования изображения объекта с постоянной скоростью вдоль направления дисперсии спектрального прибора, при этом регистрацию сигнала проводят после завершения полного цикла сканирования изображения обьекта.Составитель С.ОсипоТехред М,Моргентал Корректор С,Ю еда Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина; 101 Заказ 846 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ ССС 113035, Москва, Ж, Раушская наб 4/5
СмотретьЗаявка
4678720, 03.03.1989
ГЛАВНАЯ АСТРОНОМИЧЕСКАЯ ОБСЕРВАТОРИЯ АН УССР
БЕСПАЛЬКО ВЛАДИМИР ГРИГОРЬЕВИЧ, ГАНДЖА СЕРГЕЙ ИВАНОВИЧ, ОСИПОВ СЕРГЕЙ НИКОЛАЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01J 3/12
Метки: интегрального, объекта, протяженного, спектра
Опубликовано: 15.03.1993
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1802299-sposob-izmereniya-integralnogo-spektra-protyazhennogo-obekta.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения интегрального спектра протяженного объекта</a>
Предыдущий патент: Устройство для измерения массы жидкости
Следующий патент: Манометрический термометр
Случайный патент: Вычислительное устройство