Каток

Номер патента: 1100488

Опубликовано: 30.06.1984

Авторы: Вайткус, Кац

МПК: G01B 5/213

Метки: вращения, кривизны, методом, образующей, прибору, радиуса, сравнения, тел, эталон

...лекальных работ,З 5а измерение формы профиля требуетналичия специализированных средств,Цель изобретения - упрощение изготовления и аттестации эталона.Цель достигается тем, что в эта-40лоне к прибору для измерения методом сравнения радиуса кривизны образующей тел вращения, выполненных ввиде тел вращения с экстремальным(экваториальным) диаметром, содержащем установочные торцовые поверхности и настроечную поверхность вращения, экстремальный диаметр настроечной поверхности выполнен равным удвоенному значению радиуса кривизныобразующей контролируемого объекта,а радиус кривизны образующей эталонаполовине экстремального диаметраконтролируемого объекта,На фиг, 1 изображена схема измерения и установка на измерительной позации эталона для...

Номер патента: 55017

Опубликовано: 01.01.1939

Автор: Максутов

МПК: G01B 11/255, G02B 27/54

Метки: вогнутых, кривизны, поверхностей, радиусов, сферических

...изображенный, посылает пучок света на вогнутое зеркало 3, дающее изображение круглого отверстия О на шарике Ш. Со стороны шарика зеркало 3 представляется светящим ся диском, поэтому в фокусе шарика (на расстоянии Ы его диаметра от передней повЕрхности) окажется , уменьшенное изображение зеркала 3, 1 и от полученной таким образом светящейся точки в пространство выйдет пучок достаточно большой апертуры.Зеркало 3 частично (ниже горизонтального диаметра) экранирует изделие и, что несущественно для исследования. Так как зеркало 3 расположено почти на оси освещающего пучка, то при высоких его апертурах нам приходится считаться только со сферической аберрацией шарика Ш, Простой расчет показывает, что эта аберрация для большинства случаев...

Номер патента: 557621

Опубликовано: 05.03.1978

Авторы: Казанкова, Ларионов, Лукин, Мустафин, Рафиков

МПК: G01B 11/255

Метки: кривизны, поверхностей, радиуса, сферических

...поверхность с центром кривизны;5 - объектив; б - контрольный прибор. В качестве контрольного прибора, обеспечивающего формирование светящейся точки 1 и юстиронку схемы, используют .либо антоколлимационный микроскоп, либо интерферометр типа Тваймана-Грина.Способ осуществляется следующим образом. При контроле вогнутых поверхностей голограмму 2 устанавливают на)5 расстоянии К от светящейся точки и наблюдают ее антоколлимациопное изображение .(фиг,1), При контроле выпуклых поверхностей голограмму 2 устанавливают на расстоянии В от изображения С светящейся точки 1, сформированного объективом 5 (фиг.2). Это положение голограммы фиксируют с помощью щупа 3, производят первый отсчет, голограмму заменяют контролируемойповерхностью 4,...

Номер патента: 1159431

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Бондаренко, Еремина, Макаров

МПК: G02F 1/37

Метки: волнового, гауссовых, импульсных, кривизны, лазеров, пучков, радиуса, сферического, фронта

...РР2 Р,где Р - минимальная величина мощкрности, при которой наблюдается самофокусировка пучка, координаты точекеамофокусировкй вдоль направленияраспространения пучка составляют некоторую область. При этом дальняяграница области совпадает с центромкривизны входного лучка. Таким образом, расстояние Ь от входной плоскости среды до дальней границы области равно радиусу Кзкривизныволнового фронта пучка на входной плоскости среды (К1 /и ),Точность предлагаемого способаизмерения радиуса К кривизны волнового фронта зависит от точности аЬопределения дальней границы области,связанной с конечным продольным раз"мером нелинейного фокуса.Эксперименты по изучению продольной структуры поля в точке самофокусировки в реальной среде (стекле)показали, что...

Номер патента: 1436631

Опубликовано: 07.10.1992

Авторы: Банах, Булдаков, Глушков, Покасов

МПК: G01N 21/01

Метки: волнового, кривизны, лазерного, пучка, радиуса, фронта

...и турбулентности. Расчеты проводились для наиболее типичных характеристик пучка с повышенной энергией излучения и параметров ее приемопередающего тракта. Длина волны 8 10 см, радиус кривизны волнового фронта Р от 10 м до бесконечности, параметр нелинейности варьировался от 10 до 10 , структурная характерис 3 тика флуктуаций диэлектрической прони" цаемости воздуха последовательно задавалась от 10 мдо 10мэффективные радиусы передающей и приемной апертур 0,5 м, расчеты проводились для плоскости резкого изображения. В результате проведенных расчетов установлено, что при дальностиприема меньшей длины В и нелинейности (Ь ( К) максимальное значение интенсивности принимаемого сигналауменьшается на 5% вследствие влияния теплового...