Способ неразрушающего контроля ферромагнитных изделий и материалов

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК 784 ГОСУДАРСТВЕННЫЙПО ИЗОБРЕТЕНИЯМПРИ ГКНТ СССР ИТЕТКРЫТИ ТЕН БР ский институт ии институтн, В.Б.Миронов,тов о СССР , 1986. ЩЕГО КОНТЗДЕЛИЙ И темы 6 - 8, нане- блок 9 ляризации 7, немагнисенный н подмагнич ющие си щий слой пленку. утато ром следующ подмагничивный отражаюмагнитнуювания с коммосуществляю браСпо(71) Московский энергетичеИркутский политехнически(54) СПОСОБ НЕРАЗРУШРОЛЯ ФЕРРОМАГНИТНЬМАТЕРИАЛОВ. Изобретение относится к магнитной дефектоскопии изделий и материалов и можетбыть использовано в машиностроительной,энергетической и других отраслях промышленности для выявления дефектов типа несплошностей.Цель изобретения - повышение достоверности контроля за счет воздействия напреобразователь и объект контроля неоднородным магнитным полем, что обеспечивает большую чувствительность магнитнойпленки преобразователя к полям рассеяниядефектов.На фиг. 1 представлена схема устройства, реализующего данный способ; на фиг, 2,3 - доменные структуры преобразователя,поясняющие процесс обнаружения дефектов,Схема содержит магнитодоменную пленку 1 катушку 2 подмагничивания, источник поляризованного света - лазер 3, полупрозрачное зеркало 4, анализатор 5 по 1698733 А 57) Изобретение относится к неразрушающим средствам контроля изделий и материалов и может быть использовано для обнаружения и оценки параметров дефектов ферромагнитных материалов. Цель изобретения - повышение достоверности контроля. Указанная цель достигается тем, что воздействуют неоднородным магнитным полем на зону размещения преобразователя, а обнаружение дефектов осуществляется посредством визуализации магнитных полей рассеяния дефектов магнитной пленкой преобразователя, освещаемой поляризационным светом и наблюдаемой в отраженном свете через анализатор поляризации, 3 ил. Магнитодоменную пленку располагают над объектом контроля не показан), В зоне контроля создается неоднородное магнитное поле линейно изменяющееся и меняющее знак на противоположный в плоскости магнитной пленки 1, Неоднородное магнитное поле создается подмагничивающими системами 6 и 7, которые представляют собой пары Г-образных магнитов или электромагнитов, в рабочем зазоре которых расположена магнитная пленка 1. Световой поток лазера 3 отражается от полупрозрачного зеркала 4, проходит сквозь магнитодоменную пленку 1, которая является оптически прозрачной, отражается от зеркального покрытия 8, проходит вновь магни 1698733тодоменную пленку 1, полупрозрачное зеркало 4 и анализатор 5 поляризации, Взаимодействуя с магнитным слоем пленки плоскость поляризации светового потока изменяется и за плоскостью анализатора 5 возникает видимое изображение магнитодоменной структуры пленки, которая отражает распределение нормальной составляющей поля рассеяния контролируемого изделия и поля, создаваемого подмагничивающими системами 6 и 7. Вид доменной структуры магнитной пленки приведен на фиг. 2, где видно, что нормальная составляющая поля подмагничивания меняет знак в средней части видимого поля контроля, При наличии дефекта типа трещины возникает магнитный отпечаток, который легко обнаруживается визуально (Фиг. 3).Достоверность обнаружения микродефектов ферромагнитных материалов зависит от величины и градиента нормальной составляющей поля рассеяния дефектов, а также от критического градиента магнитной пленки Др, За счет создания неоднородного магнитного поля в зоне контроля создается область повышенной чувствительности, где суммарный градиент напряженности поля рассеяния дефекта и поля подмагничивания больше критического градиента Ркр, что является достаточным условием визуального обнаружения магнитного отпечатка на магнитной пленке.Применение двух подмагничивающих систем необходимо для обнаружения деФектов, имеющих различное направление распространения, причем подмагничивающие системы 6 и 7 должны действовать на зону контроля попеременно, что обеспечивается блоком 9 подмагничивания и коммутатором 10. Частота переключения подмагничивающих систем выбирается экс периментально по наилучшему контрастувидимого изображения дефектов.Применение неоднородных подмагничивающих полей позволяет обнаруживать дефекты микронной и субмикронной шири ны раскрытия, а по размерам магнитныхотпечатков - оценивать размеры дефектов, определять их Форму и месторасположение. Формула изобретения15 Способ неразрушающего контроля ферромагнитных иэделий и материалов, заключающийся в размещении преобразователяна основе магнитной пленки с управляемойдоменной структурой над обьектом контро 20 ля, воздействии на контролируемый материал и преобразователь магнитным полем,визуализации распределения доменов магнитной пленки и определении дефектов контролируемого материала по изменению25 распределения доменов, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с целью повышения достоверности контроля, используют магнитное полес линейно изменяющейся и меняющей знаквдоль поверхности пленки нормальной со 30 ставляющей напряженности магнитного поля, а визуализацию распределения доменовосуществляют освещением магнитной пленки поляризованным светом и наблюдениемраспределения доменов в отраженном от35 немагнитного отражающего слоя магнитнойпленки свете через анализатор поляризации,1698733 аг 3 Составитель И.Кесоянактор А.Долинич Техред М.Моргентал Корректор. О.Кравцова ГКНТ СССР роизводственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул,Гагарина,Заказ 4389 ВНИИПИ Го Тираж Подписноетвенного комитета по изобретениям и открытиям п 113035, Москва, Ж, Раушская наб 4/5