Способ контроля контактирования микросхем
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1684754
Автор: Воронов
Текст
1684754 10 го 1 ми ЦАП 8, а вторые - со входами формирователя входных воздействий 3, выходы которого соединены со входными клеммами для подключения объекта контроля. Вторые выводы резисторов 5 соединены между собой и с первыми выводами суммирующих резисторов 6. 1-6.Х, вторые выводы которых соединены с нулевой точкой устройства.Устройство работает следующим абра эом. Устанавливаются контролируемые микросхемы в коммутационное устройство, задается 11на компараторы 7, 1-7.Н по входу эталонного сигнала от цифроаналогового преобразователя 8. Затем последовательно подаются входные воздействия на ряды микросхем от блока 4 через формирователь 3 (согласно временным диаграммам на фиг,2 а,б,в), получают выходные реакции на выходных клеммах для погключения объекта контроля (д иг, 2, г,д,. е, ж), на резисторах 6,1-6,Х получают суммарный информативный параметр результа та контроля И-с толбцл (дьиг, 2 э, и, к), который сравнивается на компараторах 7.1-7.Л с эталонным значением, результат сравнения с последних поступает на входы блока 4 обработки и управления ЭВМ, где они преобразуются в М+ 1 информационных И-раэряд 35 ных слов, полученный массив информации анализируют и по результатам анализа судят о дефектных позициях в контактирукв 1 ем приспоссблении. Формула изобретенияСпособ контроля контактирования микросхем, в соответствии с котарым подают входные воздействия на клеммы для подключения объекта контроля, снимают выходные реакции, сравнивают полученный информативньи параметр с эталонным, преобразуют результат контроля в И-разрядное слово, анализируют полученный массив информации, по результатам анализа судят о дефектных позициях в контактирующем приспособлении, отличающийся тем, что, с целью расширения области применения эа счет возможности контроля коммутационных матриц, содержащих М рядов и Л столбцов, объединяют группы входных и выходных клемм для подключения объекта контроля в М рядов и И столбцов, соединяют электрические М выходы объекта контроля в каждом из Х столбцов через Резисторы между собой, к общей точке которых присоединяют первый выхоп суммирующего резистора столбца, второй вывод которого соединяют с нулевой точкой, поцают входные воздействия последовательно на М рядов и параллельно на И столбцов, принимают падение напряжения на суммирующем резисторе столбца за суммарный информативный параметр, получают М+ 1-информационных слов, содержащих М разрядов.
СмотретьЗаявка
4376889, 10.02.1988
ОРГАНИЗАЦИЯ ПЯ А-1889
ВОРОНОВ АЛЕКСАНДР ПЕТРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01R 31/04, G01R 31/28
Метки: контактирования, микросхем
Опубликовано: 15.10.1991
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1684754-sposob-kontrolya-kontaktirovaniya-mikroskhem.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ контроля контактирования микросхем</a>
Предыдущий патент: Способ определения параметров газоразрядного матричного индикатора
Следующий патент: Способ контроля качества микросхем
Случайный патент: Состав для получения глазурованного покрытия на керамической плитке