Контрольный образец для магнитной дефектоскопии
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1658069
Авторы: Выборненко, Давыдков, Магилинский, Тетерко, Шарова
Текст
(57) Изобретение относится к магнитной дефектосконии и может быть использовано при контроле качества иэделий мэ ферромагнитных материалов, Цег, ью изобретения является расширение области использования и точности имитации эа счет расшире. ния диапазона имитируемых дефектов и снижения полей рассеяния в зоне имитируемого дефекта. Цель достигается тем, что каждая из двух сопрягаемых честей образца выполнена со ступенькой нв поеерхно т ф предназначенной для сопряжения, в соп;гаемые части установлены с воэмож яст взаимного перемещения в направлении, совпадающем с направлением искусстее 1- ного дефекта. 1 э,п, ф-лы, 3 ил. ны выполнена ступенька 3, имитирующая дефект. Сопрягаемыв части образца установлены с возможностью взаимного перемещения в направлении, совпадающем г направлением искусственного дефекта, и в перпендикулярном направлении. Нв боковых частях пластин образца нанесены шкалы 4 и 5.Для имитации дефектов различной глубины залегания части 1 и 2 выполнены в виде клиньев. Глубина залегания дефекта определяетсл шкалой 5,нанесенной рядом с имитатором сеарногф вва.Контрольный ебраэец используется следующим образом. средствамет быть исаа изделий я расширечет расшидефектов и э счет сниния в зоне ый образец, пластинами, на фиг,3 - ое сечение, жит плвстии 2, каждая у с имитатоачен ной для сти пластиПри контроле качества сварного шва сигнал, обусловленный дефектом, сравнивают с сигналом, полученным с контрольноОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМРИ ГКНТ СССР(71) Могилевский машиностроительный институт(56) Авторское свидетельство СССР М 1467488, кл. 6 01 й 27/82, 1989,Авторское свидетельство СССР М 1439479, кл, 6 01 й 27/82, 1988.(54) КОНТРОЛЬНЫЙ ОБРАЗЕЦ ДЛЯ МАГНИТНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и мож пользовано при контроле качест из ферромагнитных материаловЦелью изобретения являетс ние области использования ээ с рения диапазона имитируемых повышение точности имитации жения искажений поля рассея имитируемого дефекта.На фиг.1 показан контрольн общий вид; на фиг,2 - то же, с выполненными в виде клиньев контрольный образец, поперечнКонтрольный образец содер ну из двух сопрягаемых частей 1 иэ которых представляет пленк ром сварного шва, На предназн сопряжения стороне каждой ча 1 б 58069 А 1й 2782го образца, В результате сравнения определяют качество сварного шва.П р и м е р, Контролировали изделие с двухсторонним сварным швом, имеющим непровар между валиками швов. Иэделие .свэривэлось с зазором 1 мм, Контроль осу- щЬЙЮВЙИ магнитографическим методом с поьвщью дефектоскопа МДГ и магнитной ленты И,Измеряли расстояние между экстремумами нормальной составляющей поля дефекта, которое составило 5 мм,Затем контролировали контрольный образец, предварительно установив зазор Ь= 1 мм. В этом месте образца, где расстояние между экстремумами нормальной составляющей равнялось 5 мм, по шкале определили глубину залегания дефекта 4 мм. Таким образом, глубина залегания дефекта в изделии равняется также 4 мм. Затем сравнивали максимумы тангенциальной составляющей напряженности иагнитного поля дефекта иэделия и образца. Большое значение максимума у иэделия свидетельствует о большей величине дефекта в нем, Величина искусственного дефекта в контрольном образце составляла 1,5 мм, следовательно, в изделии дефект имеет величину, большую чем 1,5 мм,Применение изобретения позволит расширить технологические воэможности 5 контрольного образца эа счет имитации большего диапазона различных дефектов.Формула изобретения 1. Контрольный образец для магнит ной дефектоскопии, содержащий пластинуиэ двух сопряженных одна с другой частей и имитатор дефекта, о т л и ч а ю щи й с я тем, что, с целью расширения области использования за счет расширения диапаэо на имитирующих дефектов и повышенияточности имитации, поверхность сопряжения каждой части выполнена со ступенькой, а части установлены с воэможностью взаимного перемещения в направлении, 20 совпадающем с направлением искусственного дефекта.2. Контрольный образец по п.1, о т л ич а ю щ и й с я тем, что пластины сопрягаемых частей выполнены в виде клиньев и 25 установлены с возможностью перемещения также и в направлении, перпендикулярном направлению искусственного дефекта.1658069 Составитель А, БодровРедактор О, Юрковецкая Техред М.Моргентал Корректор А.Леонова Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул.Гагарина, 101 Заказ,1 711 Тираж 409 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5
СмотретьЗаявка
4663810, 16.03.1989
МОГИЛЕВСКИЙ МАШИНОСТРОИТЕЛЬНЫЙ ИНСТИТУТ
ШАРОВА АЛЕКСАНДРА МИХАЙЛОВНА, ДАВЫДКОВ АЛЕКСЕЙ АЛЕКСЕЕВИЧ, ТЕТЕРКО АНАТОЛИЙ ЯКОВЛЕВИЧ, ВЫБОРНЕНКО СЕРГЕЙ ИВАНОВИЧ, МАГИЛИНСКИЙ АНАТОЛИЙ ПЕТРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 27/82
Метки: дефектоскопии, контрольный, магнитной, образец
Опубликовано: 23.06.1991
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1658069-kontrolnyjj-obrazec-dlya-magnitnojj-defektoskopii.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Контрольный образец для магнитной дефектоскопии</a>
Предыдущий патент: Устройство для дефектоскопии стальных канатов
Следующий патент: Способ магнитографического контроля
Случайный патент: Устройство для гранулометрического анализа сыпучих материалов