Способ оценки нестабильности характеристик тензорезисторов

САНИЕ ИЯ НАВ ОМУ СВИДБТ,М, Сергеев )ельство ССС 7/16, 978,(088, свиде 01 В СТАБИЛЬНОСТИЗИСТОРОВснтся к измериенно к способамк тензорезистон тся к измериенно к способамк тенэореэистоИзобтельнойконтролров. напряжения н мента й ) е тся медленн ей среды (ф о напряжени й амплитудой ет возрастат подачи р (дом изменя кружающ на нег новенно начина а тение отно ехнике, ахерактерис орего сопротиво под влияиг.2). После я с постойнлениениемподачной мгратур нне трудооценки тензона упру его темпе(1 -е ), (1) руктурнаг. 2 ния тензстабильг ляемая на м об 1 пьной2 с ая постони иэмеретовойжнт такТ имеем: ри=ф+ .ТР ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯПРИ ПЮТ ССОф(54) СПОСОБ ОЦЕНКИ Н ХАРАКТЕРИСТИК ТЕНЗОР (57) Изобретение отн тельной технике, а контроля характерист Цель изобретения - снижеемкости эа счет возможностинестабильности характеристикрезисторов беэ их установкигий элемент,На фиг.1 представлена стсхема тензорезистора; на фиграфик изменения сопротивлерезистора при оценке его нености.Способ осуществляют следразом.Исследуемый тенэорезистоключают к мостовой иэмерителме, состоящей из резисторовИэмерительная тензометрнчестема 5, например СИИТ-З, слподачи напряжения питания сной мгновенной амплитудой нния напряжения на выходе мосхемы, Мостовая схема содерае магазин 6 сопротивлений,.801551033 А 1 ров, в частности оценки температур- .,ной нестабильности характеристик.Цель изобретения - снижение трудоемкости - достигается путем оценки нестабильности по скорости изменениянапряжения на выходе измерительнойсхемы после подачи на тензорезисторынапряжения питания с постоянной мгновенной амплитудой. Данный способпозволяет оценивать нестабильностьхарактеристик тенэорезисторов безих установки на упругий элемент,2 ил. мощность, выдетенэореэисторепостоянная времениего нагрева;начальная температура;масса тенэорезистора;удельная теплоемкость тзореэнстора;коэффициент теплопередаприведенная поверхностьтеплоотдачи.3 , 1551033 4 После подачи напряжения питаниявозрастает с температурой и сопротивление тензореэистора (фиг,2), причемдо некоторого момента времени 5сопротивление возрастает практически линейно, Соответственно зДесь постоянна и скорость изменения выходно)го сигнала измерительной схемы.Про межуток времени (й - С ) - есть3 7постоянная времени нагрева тензорезистора. После момента 1, сопротивление тенэорезистора практическиизменяется лищь под действием внещ их усл фОпределив в одинаковых условияхскорость изменения выходного сигнала данным способом для каждого тензбреэистора нэ проверяемой партииможно произвести их подборку в гру- пы с близкой нестабильностью характеристик. Таким образом, оценка нестабильности тензорезисторов до ихнаклейки на упругий элемент позволя ет также избежать их последующейвыбраковки в изделиях,прн малом С дц а 0Ф .юс ас : 30 ац а(.- скорость изменения напрже-анння на выходе измерительной схемы,Таким образом, нестабильность ха рактеристик тензорезисторов, харак. теризуемая коэффициентом , пропорциойальна величине скорасти измене- ия напряжения на выходе измернтель-.яой схемы, . 45 1 3 случае иенаклеенного тензореэистора его температурный коэффициент сбпротивпаииЬйо( "о)или с учетом (2)о)1 где- температурный коэффициентсопротнвления,тензорезистора;6 К - изменение его сопротивления Я мостовой схемы с напряжением .питания У изменение сопротивления тензорезистора на величину Ь К вызывает изменение выходного найряжеиия и величину(4)о.тогда из (3) с учетом (4) следует:( ) (5)Р 0 С Формула изобретения Способ оценки нестабильности ха-рактеристик тензорезисторов, заключающийся в том, что тензореэиМорц подключают к измерительной схеме, подают иа них напряжение питания и контролируют один из параметров сиг" нала на выходе.измерительной схемы, по которому и оценивают нестабиль" ность характеристик тензореэисторов, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью снижения трудоемкости, на тенэорез 1 всторы подают напряжение пи" тания с постоянной мгновенной амплитудой, а в качестве контролируемого параметра используют скорость изменения напряжения на выходе измерительной,схемы.,Реда ло .изобретения йтиям прЖ, Раущская наб., д. 4/5 ГЕНТ Сеаиоизводственно-издательский комбинат 1 Патент , г. Уагород, ул. Гагарина, 101ф,Заказ 2298ЗНИИПИ Государс нного комитет 3035, Москва,инава Корректор Т.Иал Подписное м и откр