Способ количественного анализа

Номер патента: 1541496

Авторы: Андреичев, Кузьмичева, Ромбак, Яновский

ZIP архив

Текст

)5 О 01 Б 24/10 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТ ЕЛЬСТВ ССС973СР А Изобретение венному анализуоличест-.дом элекнансаано дляамагниттиос итс явеществ мнитного р онного парама ПР) и может б пь использо пределения клс центров в Целью изоб ентрации паществах,ения являет повы вещесНа авлена блок хеб изующего спосолиза веществ,ит иэ исследуемого,2 образцов, трехчего реэонатотами 4 и 5 еских стержследуемого 1 ов контуры с к источникам элеме талличруг иобраз ени ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР АВТОРСКОМУ СВИ(71) Научно-исследовательский институт ядерных проблем при Белорусском государственном университете им. В,И,Ленина(56) Авторское свидетельство Р У 484452, кл. 0 01 И 24/10, 1Авторское свидетельство СС В 853505, кл. О 01 Б 24/10, 1979(54) СПОСОБ КОЛИЧЕСТВЕННОГО АНАЛИЗ ВЕЩЕСТВ( 57) Изобретение относится к количеие точности анализа анизотропных чертеже предсма устройства, реалколичественного анаУстройство состо1 н калибровочногополуволнового рабора 3 с внутреннимимодуляции в виде меней, образующих ноки калибровочного 2выводами для подклю 2ственному анализу веществ методом электронного парамагнитного резонанса (ЭПР) и может быть использовано для определения концентрации пара- магнитных центров в веществах. Цель изобретения - повышение точности анализа анизотропных веществ, Сигналы ЭПР исследуемого и калибровочного образцов регистрируют на двух частотах. На частоте модуляции поляризующего магнитного поля регистрируют сумму, а на частоте модуляции -фактора - разность сигналов образцов. Суммирование и вычитание зарегистрированных сигналов ЭПР позволяет выделить сигналы калибровочного и исследуемого образцов. 1 ил,тока модуляции, электромагнита б, являющегося источником поляриэующего магнитного поля, блока 7 управления магнитным полем, блока 8 СВЧ, блоков 9 и 1 О регистрации сигналов ЭПР исследуемого 1 и калибровочного 2 образцов на частоте модуляции соответственно -фактора и магнитного поля, блоков 11 и 1 2 модуляции соответственно магнитного поля и д-фактора, усилителей )3 и 14 модуляции магнит" ного поля соответственно исследуемого 1 и калибровочного 2 образцов, катушек 1 5 модуляции р-фактора и вычислительного устройства 16.Модуляцию резонансных условийь = дрн, (1) где Ь - постоянная Планка;частота электромагнитногоСВЧ-об луч ения;р,- фактор образца;магнетон Бора;Н - поляризующее магнитное поле,5 и, соответственно, регистрацию сигналов ЭПР исследуемого и калибровоч- ного образцов осуществляют на двух частотах.Осуществляют, во-первых, синфаэную (противофазную) модуляцию магнитного поля(2)Н=Н +Н в 1 пУС15 где Н, - начальное значение напряженности поляризукицего магнит.ного поляМ - частота модуляции магнитного поля20Н - амплитуда модуляции напряженности магнитного поля, а во-вторых, противофазную (синфаэную) модуляцию ц-факторад=д (у)+р, зЫгде д(с) - начальное значениед-фактора образца, расположенного под угломц к вектору напряженности магнитного поля Нь,у - частота модуляции д-Фак 9тора;р, - амплитуда модуляциид-фактора,При синфаэной модуляции поляризующего магнитного поля и противофазной модуляции -фактора на частоте модуляции поляризующего магнитного поля регистрируют сумму сигналов ЭПР исследуемого и калибровочного образцовБ (С) = А(С) + В(С), (4)где А(С) и В(С) - сигналы ЭПР исследуемого и калибровочного образцов соответственно, а на частоте модуляции д-фактора регистрируют разность сигналов ЭПР исследуемого и калибровочного образцов .Б(С) = А(С) - В(С), (5) 55Для выделения сигнала ЭПР исследуемого образца суммируют сигналы, зарегистрированные на частоте модуляции поляриэующего магнитного поляи на частоте модуляции д-Фактора:Б,(С) + Б(С) = А(С) + В(С) + А(С) - В(С) = 2 А(С), (6) Для выделения сигнала ЭПР калибровочного образца иэ сигнала, зарегистрированного на частоте модуляции поляризующего магнитного поля, вычитают сигнал, зарегистрированный на частоте модуляции 1:-фактора:Б (С) - Б= А(С) + В(С)- А(С) + В(С) = 2 В, (7) При противофазной модуляции поляризующего магнитного поля и синфазной модуляции д-Фактора на частотемодуляции поляризующего магнитногополя регистрируют разность сигналовЭПР исследуемого и калибровочногообразцов, а на частоте модуляцииц-фактора регистрируют сумму сигналов ЭПР исследуемого и калибровочного образцов, и выделение сигналовЭПР исследуемого и калибровочногообразцов производят аналогичным образом - путем суммирования и вычитания сигналов ЭПР, зарегистрированных на частоте модуляции поляриэующего магнитного поля и на частоте модуляции д-фактора,Одновременная регистрация суммы(разности) сигналов ЭПР исследуемогои калибровочного образцов на частоГте модуляции поляриэующего магнитного ноля и разности (суммы) сигна-лов ЗПР исследуемого и калибровайного образцов на частоте модуляции д-фактора обусловливает высокую точностьвыделения сигналов ЗПР исследуемогои калибровочного образцов, что обеспечивает повыщение точности количественного анализа анизотропных исследуемых образцов,Формула изоб ретенияСпособ количественного анализавеществ, включающий регистрацию сигналов электронного парамагнитного резонанса (ЭПР) исследуемого образца икалибровочного образца, в качестве которого используют анизотропное вещество на частоте модуляции поляриэующего магнитного поля и на частоте модуляции д-фактора, о т л и "ч а ю щ и й с я тем, что, с целью"1 нык Коррект ставит хредЛ,ерявая Редактор 3, Петраг ж 491 каз 2 одписно обретениям и открытия Раушская чаб., д. 4/5 ои ГКН В НИИП ударстненного комитета по 113035, Москва, Жроизводственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул, Гагарина,10 5 154 поньпчения точности анализа анизотропных веществ, осуществляют одновременную регистрацию суммы или разности сигналов ЭПР исследуемого и калибровочного образцов на частоте модуляции поляризующего магнитного поля и разности или суммы сигналов ЭПР исследуемого и калибровочного обраэ 14966цон на частоте модуляции д-фактора,а выделение сигналов ЭПР исследуемого и калибровочного образцов проиэ 5водят посредством сложения и в,митания сигналов ЭПР, зарегистрированныхна частоте модуляции поляриэующегомагнитного поля и на частоте модуля"ции К-фактора,

Смотреть

Заявка

4362448, 25.10.1987

НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ЯДЕРНЫХ ПРОБЛЕМ ПРИ БЕЛОРУССКОМ ГОСУДАРСТВЕННОМ УНИВЕРСИТЕТЕ ИМ. В. И. ЛЕНИНА

АНДРЕИЧЕВ ВЛАДИСЛАВ АЛЕКСАНДРОВИЧ, КУЗЬМИЧЕВА ЛЮДМИЛА ВЛАДИМИРОВНА, РОМБАК ГЕННАДИЙ ИОСИФОВИЧ, ЯНОВСКИЙ ВАЛЕРИЙ ПЕТРОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 24/10

Метки: анализа, количественного

Опубликовано: 07.02.1990

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-1541496-sposob-kolichestvennogo-analiza.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ количественного анализа</a>

Похожие патенты