Способ контроля качества микросварных соединений в процессе контактной сварки

Номер патента: 1493428

Авторы: Гальперин, Новиков, Селимов

ZIP архив

Текст

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСНРЕСПУБЛИК 23 2 11 10 Н У естанавливапривареножз Спо со б о суще ст вл кицим эгот образоПодл ожка диэл р си ная и напри в ест оцес про и с в росва щупов го дл ст 2,ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР ОПИСАНИЕ ИЭОБ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬС(53). 62 . 791. 763. 039(088. 8) 56) Авторское свидетельство СССР У 1092021, кл, В 23 К 11/1 О, 1982.Автор ское свидетел ь ство СССР 9 1174211, кл, В 23 К 1 /10, 1983,Пивнични, Скоберн, Четырехточечный метод проверки паяных соединений. - Электроника, т.48, В 7, 975, с.56-57.(54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА МИКРО- СВАРИХ СОЕДИНЕНИЙ В ПРОЦЕССЕ КОНТАКТНОЙ СВАРКИ(57) Изобретение относится к технике изготовления микросхем с помощью контактной электросварки, Цель изобретения - повышение достоверности контроля качества микросварных соединений, Способ основан на четырех- точечном щуповом зондировании, при етение относится к тех ения микросхем в радио анной аппаратуре и вычислительн технике,Целью изобретения являетс шение достоверности контроля ва микросварных соединений в се контактнои сварки, упрощеницесса контроля,На чертеже представлена сеалиэации способа,котором между первой парои щупов ч рез контактную площадку на участке сварки пропускают стабилизированный электрический ток, Между второй парой щупов измеряют падение напряжения и по его значению судят о качестве микросварного соединения. При зондировании первую пару щупов устанавливают на контактной площадке микросхемы непосредственно у противоположных краев участка сварки, Вторую пару щупов, между которыми измеряют падение напряжения, у ,ют непосредственно на ном проволочном выводе на самом участке контактной сварки, В качестве второй пары щупов м ф но испольэовать сварочные электроды, а измерять падение напряжения - в паузах между сваркой, неС перемещая электроды. При этом полнос-: тью исключается пропуск на сборку микросхем дефектных ьякросварных соединений,з,п. ф-лы, 1 ил,1 микросхема, выполненктрического материала, алла, содержит контакт 2, к которой контакт- приварен проволочный оэлемента с помощью микоединения 4, Первую пару навливают на контактную К концам первой пары щу 149 34 28пов 5 подводят ток от стабилизированного источника 6, когорый протекает через контактную площадку 2 научастке микросварного соединения 4,При этом вторую пару щупов 1 устанавливают непосредственно на проволочныйвывод 3 над микросварным соединением4, Измерителем 8 измеряют падениенапряжения на проволочном выводе 3между второй парой щупов 7, котороевозникает в результате ответвления 1части тока источника 6 через микросварное соединение 4.При пропуск анни ст абилизиро ванного электрического тока от источника6 часть его ответвляется через микросварное соединение 4 на проволочный вывод 3, и далее с вывода 3 через микросварное соединение 4 ответвленная часть тока возвращается снована контактную площадку 2, При этомответьпение тока на проволочный вывод 3 будет тем больше, чем качественнее микросварное соединение 4.Второй парой щупов 1 измеряют паде-,ние напряжения, создающееся за счетпротекания ответвлещой части тока,прошедшего через микросварное соединение 4. Чем больше падение напряжения на участке проволочного вывода 3между второй парой щупов 1, тем качественнее микросварное соединение4,При наличии дефектов в микросварном соединении 4 ответвляется меньшая часть тока на проволочный вывод3 и величина падения напряжения между второй парой щупов 1 уменьшаетсяв зависимости от величины,цефекта,При обрыве (отсутствии микросварногосоединения) падения напряжения не будет вообще,Благодаря такой установке щуповобеспечивается высокая достоверностьконтроля, поскольку падение напряжения в данном спучае ест ь результатдействия ответвленной части токапрошедшего непосредственно через миквосварное соединение,Если по данному способу н качествевторой пары щупов использовать непосредственно электроды сварочной 5установки в их сварочном положениив паузах между сваркой, то достоверность качества контроля еще большеповышается за счет точности установки электродов на месте сварки, а сам 10 процесс контроля качества существенно упрощается.При обнаружении в результатеконтроля дефектов сварки ее можноповторить при тех же расположениях 15 сварочных электродов и тем самымполностью исключить пропуск на сборку микросхем дефектных микросварныхсоединений20 Ф о р м у л а и э о б р е т е н и я1, Способ контроля качества микросварных соединений в процессе контактной сварки, при котором исполь зуют четырехточечное щуповое зондиро -вание, при этом между первой паройщупов, установленных на одной из свариваемых деталей, пропускают стабилизированный электрический ток, а 30 между второй парой щупов измеряютпадение напряжения и по его значению судят о качестве микросварного соединения, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с цельюповышения достоверности контроля качества, вторую пару щупов, измеряющих падение напряжения, устанавливают на другой свариваемой детали междущупами первой пары,40 2, Способ по п,1, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью упрощения процесса контроля, повышения достоверности контроля и исключения пропуска на сборку микросхем дефектныхмикросварных соединений, в качествеизмерительной пары щупов, между которыми измеряют падение напряжения,используют сварочные электроды, а изме-рение падения напряжения проводятв паузах между сваркой в рабочем положении электродов,о изобретениям35, Раушская на открытиям при ГКНТ СССР д, 4/5

Смотреть

Заявка

4286736, 20.07.1987

Н. А. Селимов, Л. Н. Новиков If М. Г. Гальперин

СЕЛИМОВ НАЗИМ АГАХАНОВИЧ, НОВИКОВ ЛЕОНИД НИКИТИЧ, ГАЛЬПЕРИН МИХАИЛ ГРИГОРЬЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: B23K 11/10, B23K 31/02

Метки: качества, контактной, микросварных, процессе, сварки, соединений

Опубликовано: 15.07.1989

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-1493428-sposob-kontrolya-kachestva-mikrosvarnykh-soedinenijj-v-processe-kontaktnojj-svarki.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ контроля качества микросварных соединений в процессе контактной сварки</a>

Похожие патенты