Способ определения разориентировки среза кристалла

(53) нстит яков,е крис РАЗОРИЕНТКСУДАРСТНЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕ 4044139/24-2819.02.8607.10,88 Бюп, В 37Ленинградский горный(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯРОВКИ СРЕЗА КРИСТАЛЛА(57) Изобретение относится к обработке кристаллов для изготовления приборов. Целью изобретения является повышение точности определения разориентировки за счет измерения,угловогорассогласования между теоретиЧеским и фактическим углами отклонения конт ролируемого среза кристалла от его спайкой плоскости. Поворачивают источник света с экраном, расположенным перпендикулярно его оси, на заданныйугол, равный теоретическому углу от клонения нормали к его спайности от кристаллографической оси, направляют излучение от источника света на част препарированной поверхности кристалл инаблюдают проекцию отраженного пуч ка на экране, доворачивают источник света до совмещения центра проекции пучка с центром экрана. Величину доворота источника измеряют по углоизмерительному узлу. Измеренное значение угла характеризует величину разориентировки среза контролируемого кристалла. 1 ил.Изобретение относится к измерительной технике и может быть использоеано в электронной промьппленностидля определения среза кристаллов от 5носительно его кристаллографическойосй., :Целью изобретения является повышение точности определения разориентировки за счет измерения углового рассогласования между теоретическим ифактическим углами отклонения контра"лщруемого среза кристалла от егосгайности.; На чертеже представлена иринципиьная схема определения разориентир вки среза кристалла.На схеме показаны источник 1 света, формирупиций коллимированный пучок, экран 2, расположенный по норма" 20ли к оси источника света, столик 3,предназначенный для размещения в немкднтролируемого кристалла, углоизмерИтельный узел 4, на котором установлен источник света с возможностью поворота вокруг оси узла, направляющая5, параллельная опорной поверхностистолика, с которой конструктивно связан углоизмерительный узел.На чертеже также показана плоско параллельная пластинка б, вырезанная параллельно срезу контролируемого кристалла, препарированная поверхность 7 пластинки, на которой создают мйкрорельеф. На чертеже обозначена 35 нормаль 8 к пластинке б и теоретическнй угол (оС) отклонения нормали к препарированной части поверхности от кристаллографической оси.Срез кристалла или вырезанную па раллельно ему плоскопараллельную пластинку б располагают параллельно опорной плоскости столика 3. На пластинке препарируют часть ее поверхности 7, создавая микрорельеф, характер ный для каждого класса кристаллов.Измерения проводят следующим образом.Выставляют источник 1 света пер- пендикуляр НО к Онтр ОлируемОЙ плоскости 50 среза кристалла, наблюдая за положением отраженного светового пучка на экране 2. При вращении столика изображение светового пучка на экране не сходит с центра экрана. 55 Затем источник 1 света и экран 2 поворачивают на заданный угол (Ы,),равный теоретическому значению угла. Зная вещество, его симметрию и размещение осей симметрии в кристалле или символы кристаллографических направлений по справочникам или путем вычисления получают угол сс между этими направлениями. Если контролируемый срез не параллелен плоской сетке кристалла, то нормаль к нему не является кристаллографическим направлением с рациональным символом. Тогда для получения теоретического угла удобно пользоваться дополнительным углом или углом отклонения от "рациональных" кристаллографических направлений.Перемещают углоизмерительный уЪел 4 с источником 1.света вдоль направляющей 5 до обеспечения засветки пучком света препарированной поверхности 7 кристалла.Отраженный пучок света наблюдают на экране 2. Световая проекция на экране соответствует симметрии препарированной части.Если симметрия световой проекции искривлена и ее ось симметрии не совпадает с центром экрана, значит ось светового пучка и нормаль к препарированной части кристалла не совпадают, что, в свою, очередь, свидетель-ствует о разориентировке проверяемого среза.Величина разориентировки может быть найдена путем поворота источника света на угол Ьос по углоизмерительному узлу 4, когда центр световой проекции совместится с центром экрана.Значение угла Ь М определяет угловое несовпадение нормали к поверхности среза кристалла и кристаллографи" ческой осью, что по существу указывает.значение разориентировки среза кристалла.Если световая картина своим центром совместится с центром экрана, то. контролируемый срез не разориентирован. Формула изобретенияСпособ определения разориентировки среза кристалла, заключакнцийся в том, что предварительно размещают кристалл плоскостью среза на опорную поверхность, направляют коллимированный пучок света по нормали к плоскости среза кристалла, проектируют отраженный от нее пучок света на экран, который располагают перпендикулярно, Подписноекомитета СССРоткрытийкая наб., д. 4/5 Производственно-полиграфическое предприятие, г. ужгород, ул. Проектная, 4 коллимированному пучку, и по иэображению, получаемому на экране, судято раэориентировке среза .кристалла,о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, сцелью повьппения точности, перед посылкой на кристалл коллимированногопучка света создают микрорельеф начасти его поверхности, совпадаацей сплоскостью спайности, и определяют 10теоретический угол отклонения нормалик плоскости спайности. от плоскостисреза,.отклоняют ось коллимированно 14 4го пучка от нормали к плоскости среза кристалла на угол, равный теоретическому, направляют отклоненный пучок света на участок кристалла с микрорельефом на нем, наблюдают проекцию отраженного пучка на экране, поворачивают ось коллимированного пучка света до совмещения центра проекции пучка с центром экрана и измеряют разность углов поворота оси луч ка света, по которой определяют величину разориентировки среза кристалла,