Способ определения остаточной сдвиговой деформации образцов сегнетоэластических кристаллов

Номер патента: 1422094

Авторы: Гриднев, Даринский, Кудряш

ZIP архив

Текст

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК ц 4 6 01 М 3 24 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИ ЗОБРЕТЕНИЯ ЬСТВУ хнический инуд вое расширение 1974, с. 44 - 92. ЕНИЯ ОСТА- ДЕФОРМАЦИИ АСТИЧЕСКИХ к испытатель еделять спон ПИСАНИЕ ИА ВТОРСКОМУ СВИ(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛТОЧНОЙ СДВИГОВОЙОБРАЗЦОВ СЕГНЕТОЭЛКРИСТАЛЛОВ(57) Изобретение относитсяной технике и позволяет о801422094 А таино возникающую сдвиговую деформацию в кристаллах. Цель изобретения - упрощение способа за счет возможности оценки деформации на одном образце. Образец, например квадратного поперечного сечения с размером а и длиною 1, одним торцом жестко закрепляют, а другим соединяют с системой измерения его закручивания. Обеспечивают требуемую скорость нагрева образца, измеряют изменение угла р, спонтанного закручивания образца, а величину остаточной деформации Хопределяют по формуле Х". = 4 ар,/31, что позволяет избежать непосредственных измерений деформаций на строго ориентированных косых срезах образца. 2 ил.Изобретение относится к испытательной технике, а именно к способам определения спонтанно возникающей сдвиговой деформации в кристаллах.Цель изобретения - упрощение способа за счет возможности оценки деформации на одном образце.На фиг. 1 изображена схема установки для реализации предлагаемого способа; на фиг. 2 - графики результатов испытаний образца.Установка для реализации способа содержит предназначенный для установки образца 1 пассивный 2 и активный 3 захваты. Захват 3 связан с крутильным маятником 4. Образец 1 размещен в герметичной камере 5, Программное регулирующее устройство 6 связано с датчиками 7 и регистрирующим устройством 8.Способ осуществляют следующим образом.Образец 1, например квадратного поперечного сечения с шириной а и длиной 1, одним торцем жестко закрепляют в пассивном захвате 2. На другом торце образца 1 размещают активный захват 3 и соединяют его с крутильным маятником 4, Образец 1 помещают в герметичную камеру 5. Включают программное регулирующее устройство 6, обеспечивгющее требуемую скорость нагрева (или охлаждения) образца 1, и с помощью емкостных или фотоэлектрических датчиков 7 и прибора 8 регистрируют температурную зависимость угла , спонтанного закручивания. Величину остаточной деформации Х-. определяют по формуле25 Формула изобретения Способ определения остаточной сдвиговой деформации образцов сегнетоэластических кристаллов, заключающийся в том, что изменяют температуру образца в пределах температуры его сегнетоэластического фазового перехода и определяют его сдвйговую деформацию, отличающийся тем, что, с целью упрощения, на образце создают крутильные напряжения, а сдвиговую деформацию кристалла определяют по изменению угла спонтанного закручивания образца при изменении его температуры. 4 аХст: )( (1)531что позволяет избежать непосредственных измерений деформаций на строго ориентированных косых срезах образца.Опыты на различных сегнетоэластических кристаллах показывают наличие сильной зависимости угла спонтанного закручивания образца от состояния доменной структуры кристалла, характеризующейся величиной Хос. - остаточной сдвиговой деформацией.Графиками (фиг. 2) представлены температурные зависимости угла р, спонтанного закручивания образца из кристаллов КНз(БеОз) з при отсутствии приложенного к ним сдвигового статического напряжения а, (1), при о, = 4,3 10 Па (2), при Но, = = 1,7 10Па (3), при Но, = 2,6 10 Па (4).По графикам (фиг. 2) видно, что при 20увеличении нагрузки, изменяющей степень монодоменности образца, значение угла спонтанного закручивания образца 1 возрастает,1422094 Х осл г 1 б Ю. Винорес по делашскаятие, г. У Редактор И. ДербакЗаказ 4422/42ВНИИПИ Государстве113035,Производственно-пол СоставительТехред И. ВеТираж 847ного комитета СССРосква, Ж - 35, Раурафическое предпри радовКорректор И. МускаПодписноеизобретений и открытийб., д. 4/5город, ул. Проектная, 4

Смотреть

Заявка

4185307, 26.01.1987

ВОРОНЕЖСКИЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ

ГРИДНЕВ СТАНИСЛАВ АЛЕКСАНДРОВИЧ, КУДРЯШ ВЛАДЛЕН ИВАНОВИЧ, ДАРИНСКИЙ БОРИС МИХАЙЛОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 3/24

Метки: деформации, кристаллов, образцов, остаточной, сдвиговой, сегнетоэластических

Опубликовано: 07.09.1988

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-1422094-sposob-opredeleniya-ostatochnojj-sdvigovojj-deformacii-obrazcov-segnetoehlasticheskikh-kristallov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения остаточной сдвиговой деформации образцов сегнетоэластических кристаллов</a>

Похожие патенты