Способ определения температуропроводности
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1383182
Автор: Костюк
Текст
СООЗ СОВЕТСНИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИН 9) Я 504 01 СССРКРЫТ ИИ АНИЕ ИЗОБРЕТЕН ЛЬСТВ Ьегаа 1 01 Нцз 1 Иейа 1 е ай Н 19 Ь962, ч. 33, В 1,ССР1979 ьств 25/1 РАТУРО 54)ПРОВ 57) теплопособам дности вым п я новы т ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕ ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И К АВТОРСНОМ,Ф СИИ(56) Й.1 Йцд 1 с 1 п ц.а,Тч 1 гу Иеазцгевепез опТеврегайцгез, - Й 51,р. 21-24.Авторское свидетелУ 800847, кл. 6 01 М СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТЕДНОСТИИзобретение относитсяспытаниям, а именно келения температуропроиалов. Цель изобретен шение точности определения. На обра- . зец в виде диска односторонне воздей. ствуют импульсом тепловой мощности. На поверхности, подвергаемой воздействию, регистрируют максимальное значение температуры и ее установившееся значение после воздействия. Рассчитывают температуропроводность образца, используя эти значения температуры, а также толщину образца, длительность импульса и коэффициент формы импульса. Последний определяют в тарировочном эксперименте на образ. це с известной температуропроводностью. Повышение точности достигается за счет получения температурной инфюрмации от одного измерителя темпе- Е ратуры. 1 ил.где а Т- температуропроводность;- толщина образца;- длительность импульса;- установившееся значениетемпературы образца; Изобретение относится к областитепловых испытаний, а именно к области определения теплофизическиххарактеристик материалов,Цель изобретения - повышение точности определения,На чертеже представлено устройство для реализации способа.Устройство включает оптическийквантовый генератор (ОКГ) 1, оптический криостат 2-с измерительной ячейкой 3, для размещения образца 4 ввиде пластины с термопарой 5 и вторичную измерительную аппаратуру:усилитель 6, аналого-цифровой преобразователь (АЦП) 7, запоминающееустройство 8 и графопостроитель 9.ОКГ 1 и измерительная ячейка 3оптического криостата 2 расположенына одной оптической оси. На этой жеоси в измерительной ячейке 3 криостата 2 расположен образец 4. Наторцовой поверхности образца 4, обращенной в ОКГ 1, приварены электроды бескорольковой термопары 5, которая выведена на вторичную измерительную аппаратуру.Измерение температуропроводностипроводят следующим образом,Образец термостабилизируют в криостате при необходимой температуре.На торцовую поверхность образца сустановленной на ней термопарой воздействуют тепловым импульсом ОКГ 1.ЭДС термопары усиливается усилителем6, преобразовывается в цифровой кодАЦП 7 и фиксируется в ячейках памятизапоминающего устройства 8, послечего в аналоговом виде поступает навход графопостроителя 9. Счетное устройство графопостроителя фиксируетмаксимальную температуру и установившуюся после импульса температуру образца.Расчет температуропроводностиосуществляют по формуле1 чстт мцксТ50макс температуропроводность;толщина образца;длительность импульса;установившееся значениетемпературы образца;максимальное значение температуры образца;безразмерный коэффициент,определяемый распределением тепловой мощности импульса во времени. Т - максимальное значение теммциспературы образца;безразмерный коэффициент,5определяемый распределением тепловой мощности импульса во времени.Коэффициент Г может быть определен с помощью контрольного образцас известными температуропроводностьюи толщиной для конкретной формы импульса. Так для длительности импульса 30 мс установлено значение 1=1,32.Повышение точности согласно изобретению достигается за счет сокраще.ния количества измерителей температу.ры, что обеспечивает большую достоверность регистрации двух значенийтемпературы и уменьшение теплопотерьпо измерителям.Изобретение предназначено для использования в теплофизических исследованиях свойств материалов и притехнологическом контроле.25 Формула изобретенияСпособ определения температуропроводности материалов на образце в ви де пластины, заключающийся в том, чтона одну из поверхностей образца воз 30 действуют импульсом тепловой мощности, регистрируют максимальное значение температуры поверхности образца, подвергаемой воздействию импульсом тепловой мощности, на основании35 чего рассчитывают искомую величинуо т л и ч а ю щ и й с я тем, что,с целью повышения точности, дополнительно регистрируют установившееся.значение температуры образца после40 импульса, а искомую величину рассчитывают по соотношениюа= - (. ) Г,1- Тчс тмакс1383182 СоставитеМь В. ВертоградскийРедактор А. Ворович Техред А.Кравчук Корректор А. Тяско венно-полиграфическое предприятие, г.узгород, ул.Проектная, 4 Проиэв Заказ 287/39ВНИИПИпо113035,Тираз 847 Государственного комитеделам иэобретений и откросква, Ж, Раушская на одписноеСССРийд. 4/5
СмотретьЗаявка
4012991, 28.10.1985
КОСТЮК АЛЕКСАНДР ВАСИЛЬЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 25/18
Метки: температуропроводности
Опубликовано: 23.03.1988
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1383182-sposob-opredeleniya-temperaturoprovodnosti.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения температуропроводности</a>
Предыдущий патент: Объемный дилатометр
Следующий патент: Термохимический способ анализа горючих газов
Случайный патент: Устройство для штамповки заготовок обкатыванием