Способ дипольного индуктивного профилирования и зондирования
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
(51) 4 0 ПИСАНИЕ ИЭОБРЕТВТОРСКОМ,Ф СВИДЕТЕЛЬСТВУ тор явл ния СО ОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ ССПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫ(71) Институт мерзлотоведеАН СССР(56) Аузин А.К. Злектроразведка (спецкурс по индуктивным и радиоводновым методам рудной электрораэведки). М.: Недра, 1977, с.134.Хабибулов Р,К, Разработка и применениеновой модификации дипольного индуктивного профилирования для поисков месторождений медных и полиметаллических руд: Автореф, дис, на соиск. учен. степени канд. геолого-минералогических наук. Казань, КГУ, 1975, с.23(54) СПОСОБ ДИПОЛЬНОГО ИНДУКТИВНОГО ПРОФИЛИРОВАНИЯ И ЗОНДИРОВАНИЯ (57) Изобретение относится к геозлектроразведке с дипольными источниками и приемниками переменного маг- нитного поля, разнесенными на некоое расстояние. Целью изобретения яется повышение точности измерений. Укаэанная цель достигается в результате синхронного вращения комп. ланарных генераторной и приемной рамок вокруг оси, ортогональной магнитному моменту генераторной рамки и орту к плоскости витков приемной рамки, причем оси визирования и оси вращения каждой из рамок точно совмещают, В результате сигнал вторичного поля на рабочей (несущей ) частоте оказывается модулированным на амплитуде с удвоенной частотой вращения рамок, что позволяет его отделить от немодулированного сигнала первичного поля после детектирования сигнала суммарного поля частотной фильтрацией сигнала огибающей,Дополнительное ослабление сигнала первичного поля достигается в результате использования огибающей амплитуднодетектированного сигнала в качестве сигнала отрицательной обратной связи для следящей компенсации сигнала первичного поля. 1 э.п. ф-лы, 1 ил.Компланарные генераторная и приемная рамки, представленные соответственно магнитным моментом ш и ортом йразнесены на расстоянии 3., Рамки вращаются с частотой Й вокруг осей 0и О . С учетом погрешностей ориентации и визирования рамок,определяемых малыми углами 1)сР с) ги угла у запаздывания по фазе вращения приемной рамки относительно генераторной рамки проекции напряженности первичного магнитного поля на орт. п определяется уравнением й Г Г е сеН 3--сов 1+ л 471 12 фе е з.п (2 ЯС 4) + 2 30( которое показывает, что погрешности ориентации и визирования рамок обуславливают модуляцию сигнапа первичного поля на частотах Я и 2 й, ко тор ая устраня ет ся при совпадении осей вращения и визирования рамок ( се д= О). 11 оскольку механически оси вращения каждой иэ рамок легко совмещаются с соответствующи ми оптическими осями виэирующих устройств (с погрешностью не более (0,2-1 и паразитная модуляция первичного магнитного роля на частоте 2 Й не зависит от углов неортогональ ности Ф и с, то от существенно менее точной и более трудоемкой установки ортогональности ортов рамок собственным осям вращения можно отказаться55Модулированный по амплитуде в результате вращения рамок сигнал вторичного магнитного поля, складываясь с первичным полем, образует на выхоИзобретение относится к геоэлектроразведке и может быть использовано при поисках и разведке месторождений полезных ископаемых и при проведении инженерно-геологических изыс" каний,Целью изобретения является повышение точности измерений.На чертеже схематично показана 10 реализация предлагаемого способа. де приемной рамки амплитудно-модулированный сигнал, огибающая которого на удвоенной частоте вращения рамок 2 Л имеет начальную фазу, равную удвоенной величине угла видимости 6 центра проекции локального объекта- источника вторичного поля на плоскости, в которой вращаются рамки, а амплитуда огибающей определяется электропроводностью Ь и магнитной восприимчивостью Х так, что на достаточно низких частотах синфаэная с первичным полем составляющая вторичного поля пропорциональна у, а квадратурная - 4 . 11 оэтому в способе детектирования сигнала суммарного поля выделяют синфазную и квадратурную составляющие сигнала относительно фазы первичного поля, выделяют иэ продетектированных сигналов огибаю". щие с удвоенной частотой вращения рамок, используют огибающую сигнала в качестве сигнала отрицательной обратной связи для следящей компенсации сигнала первичного поля, Затем измеряют амплитуды и фазы огибающих синхронно детектированных сигналов относительно фазы опорного сигнала и по величине амплитуд этих сигналов оценивают магнитную восприимчивость и электропроводность объектов.Формула из о брет ения1. Способ дипольного индуктивного профилирования и зондирования с использованием компланарных генераторной и приемной рамок, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью повышения точности измерений, совмещают оси визирования рамок с осями их вращения, синхронно вращают рамки вокруг оси, ортогональной магнитному моменту генераторной рамки и орту к плоскости витков приемной рамки,выде ляют детектированием модулированного сигнала суммарного поля на рабочей частоте синфазную и квадратурную составляющие сигнала относительно фазы первичного поля, выделяют из продетектированных сигналов огибающие с удвоенной частотой вращения рамок, используют огибающую детектированного сигнала в качестве сигнала отри" цательной обратной связи для следящей компенсации сигнала первичного поля на несущей частоте, измеряют амплитуду и фазу огибающих синхронно,3377802 ель Е. Городничев .Попович СоставыТехред едактор Е. Ко Корректор Л. Пилипенко Заказ 8 б 9 43 Тираж 522 БНИИПИ Государственного к по делам изобретений и 3035, Москва, 3-35, РаушПодписноемитета СССРоткрытийкая наб., д.4/5 оизводственно-полиграфическое предприятие, г.ужгород, ул.Проектная детектированных сигналов относительно фазы опорного сигнала, определяемого угловым положением вращающихсярамок относительно заданного направления, ортогонального оси вращениярамок, вычисляют направление на аномальные. объекты путем деления на дваизмеренных значений фаз огибающихсинхронно детектированных сигналов,а по величинам амплитуд этих сигналов оценивают магнитную восприимчивость и электропроводность объектов.5 2. Способ по п,1, о т л и ч а ю - щ н й с я тем, что, с целью упрощения технической реализации способа, рамки периодически синхронно поворачивают на угол 1/2 и обратно.
СмотретьЗаявка
3983096, 16.09.1985
ИНСТИТУТ МЕРЗЛОТОВЕДЕНИЯ СО АН СССР
БАДАЛОВ ВЛАДИМИР ДАНИЛОВИЧ, БАБАШКИН АЛЕКСАНДР АБРАМОВИЧ, МИЗЮК ЛЕОНИД ЯКОВЛЕВИЧ, СНЕГИРЕВ АНАТОЛИЙ МИХАЙЛОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01V 3/06
Метки: дипольного, зондирования, индуктивного, профилирования
Опубликовано: 28.02.1988
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1377802-sposob-dipolnogo-induktivnogo-profilirovaniya-i-zondirovaniya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ дипольного индуктивного профилирования и зондирования</a>
Предыдущий патент: Каротажный микрозонд
Следующий патент: Индукционный преобразователь
Случайный патент: Покровная масса