Способ измерения напряженности магнитного поля насыщения образца из электроводящего однородного материала
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК 28202 19 11 4 С 0133/1 ТЕН ЕТЕЛЬСТ й АВТОРСН 1.НОСТИ .ЗЦА ОГО магниет быть нитдиапа- ьности ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ ОПИСАНИЕ И(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ НАПРЯЖЕМАГНИТНОГО ПОЛЯ НАСЫЩЕНИЯ ОБРИЗ ЭЛЕКТРОПРОВОДЯЩЕГО ОДНОРОДМАТЕРИАЛА(57) Изобретение относится ктоизмерительной технике и можиспользовано для определенияных свойств образцов материалЦель изобретения - расширениеэона и повышение производител и точности измерении - достигаетсятем, что с образцом 1 магнитно со-.прягают катушку 2 индуктивности после каждого изменения известногоуровня однородного намагничивающегополя, действующего на образец 1. Определяют добротность этой катушкина частоте, превышающей рабочую частоту материала образца. Напряженность поля его насыщения Н з определяют как минимальный уровень напряженности намагничивающего поля, прикотором упомянутая добротность максимальна; Устройство, реализующееспособ, содержит измеритель 4 напряженности магнитного поля 3, измерительный преобразователь 5 и измеритель 6 добротности, 4 ил.Заказ 7261/ Тиэаж 730 дписн зво полигр Бр г. Ужгород, .ул. Проектная,128Изобретение относится к магнитоиэмерительной технике и можст бытьиспользовано для определения магнитных свойств образцов материалов.Цель изобретения - расширение дианазона испытуемых образцов, говышение производительности и точностиизмерений.,Цель изобретения достигается тем,что с образцом магнитно сопрягаюткатушку индуктивности, после каждогоизменения известного уровня однородного намагничивающего поля, действующего на образец, определяют добротность этой катушки иа частоте, превььпающей рабочую частоту материалаобразца а напряженность поля егонасьппения Н определяют как минимальный уровень напряженности намагничивающего поля, при которойупомянутая добротность максимальна.На фиг,1 изображена структурнаясхема измерений; на Лиг. 2 - характерная зависимость В=Т(Н) для пермаллоя в области насыцения; на Фиг. 3 зависимость потерь в металлическомобразце от индукции; на фиг.4 - ;ависимость добротности от уровчя намагничивающего поля.Устройство, реализующее способ,содержит образец 1 из злекяропроводящего однородного материала ка-.тушка 2 индуктивности, силовые лчнии3 постоянного однородного магнитногополя, измеритель 4 напряженности поля измерительный преобразователь 5,измеритель 6 добротности.Способ реализуется следующим об"разом.Образец 1 материала помещаютвнутрь катушки 2 индуктивности ра 2028 2дитехнРческого колебательного конту-.ра, подвергают воздействию постоянного однородного магнитного поля 3,уровень которого известен, и измеряют добротность контура. Затем изме.- ряют уровень постоянного поля и сноваизмеряют добротность и т.д., а искомую напряженность поля насыщения определяют как минимальный уровень по стоянного поля, при которой добротность становится максимальной (фиг4).Для измерения уровня напряженностипостоянного поля применяется измеритель 4 напряженности с измерительнымпреобразователем 5 (например Ш 1-8)для измерения добротности - измери тель 6 добротности (например ВИ). Формула изобретения20 Способ измерения напряженностимагнитного поля насьпцения образца изэлектропроводящего однородного материала, заключающийся в магнитном сопряжении образца с катушкой индуктивности, намагничивании его в постоянном однородном поле известного меняющегося уровня, о т л и ч а ю щ и й -с я тем, что, с целью расширения диапазона испытуемых образцов, повьппенияпроизводительности и точности измерений после каждого изменения уровняпостоянного однородного поля определяют добротность катушки на частоте. 35 превышающей рабочую частоту материала образца, а напряженность магнйтного поля насыщения образца определяют как минимальную напряженностьпостоянного однородного поля, при 40 которой добротность катушки индуктивности максимальна,
СмотретьЗаявка
3897214, 17.05.1985
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ В-8071
ДУДКО ДМИТРИЙ ИВАНОВИЧ, КАБАК АЛЕКСЕЙ АНДРОНОВИЧ, ДУДКО СЕРГЕЙ ДМИТРИЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01R 33/12
Метки: магнитного, напряженности, насыщения, образца, однородного, поля, электроводящего
Опубликовано: 07.01.1987
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1282028-sposob-izmereniya-napryazhennosti-magnitnogo-polya-nasyshheniya-obrazca-iz-ehlektrovodyashhego-odnorodnogo-materiala.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения напряженности магнитного поля насыщения образца из электроводящего однородного материала</a>
Предыдущий патент: Способ бесконтактного измерения параметров цилиндрических образцов
Следующий патент: Магнитооптический гистериограф
Случайный патент: Устройство для уплотнения железобетонных труб при тепловой обработке