Способ определения параметров колебаний объекта
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ эмери ь исполь- пользова- ерометрии влек ои волны от времени п в результате обработк ости данным определяю фазу колебаний объект тои н ным Цельюние опреамп завис ли2 ил.Б обеспеГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ А ВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВ(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАКЕТРОКОЛЕБАНИЙ ОБЪЕКТА(57) Изобретение относится тельной технике и может бы зовано для определения с и нием голографической интер параметров колебаний объек изобретения является увели деляемых параметров за сче чения измерения фазы колебании, расширение диапазона и увеличение точности определения амплитуд колебаний. В течение времени т , выбираемого из условия(С 2 где С1 2Ф- времена, необходимйе для записи голограммы в реальном времени и с усреднением во времени, осуществляют экспонирование опорной и предметной волнами фоторефрактивного кристалла 4. Одновременно с экспонированием осуществляют освещение кристалла волной, направленной навстречу опорной волне. В резулвтате этого восстанавливается голограмма, получаемая при экспонировании. Регистрируют с помощью фоторегистратора 5 зависимость интенсивности восста(оЯ, 2),сивности восстановленновленного пучка от о)а (цй)и Ь(озс) 1(г) ехроК(е К)ас7. = (п+ 1) Л/4+ 55 Мпри Е)Ыь,Т) - фаза косинусоиды с частотой о) колебания, соответствующая положению Изобретение относится к измерительной технике и может быть исполь зовано для определения методом голографической интерферометрии парамет ров колебаний объекта. гдеЦель изобретения - увеличение определяемых параметров колебаний эа счет обеспечения., измерения фазы колебаний, расширение диапазона и увеличение точности определения амплитуд колебаний объекта.На фиг. 1 изображена оптическая схема устройства для осуществления предлагаемого способа; на фиг. 2 зависимость интенсивности восстановленного пучка от времени.Оптическая схема устройства для осуществления предлагаемого способа содержит источник 1 когерентного из лучения, зеркало 2, светоделитель 3, фоторефрактивный кристалл 4 и фото- регистратор 5. Позицией 6 обозначен исследуемый колеблющийся объект.Способ осуществляют следующим об разом.От источника 1 когерентного излучения посредством светоделителей 3 и зеркал 2 формируют опорную и предметную волны, которыми экспони руют фоторефрактивный кристалл 4, в результате чего в кристалле 4 образуется голограмма. 3 кспонирование кристалла 4 осуществляют в течение времени, выбираемого из условия 1 .- 1 где С и1 ф Х времена экспонирования, необходимые для получения голограммы колеблющего. ся объекта соответственно в реальном времени и с усреднением во вре мени,Одновременно с экспонированием осуществляют освещение кристаллаволной направленной навстречуопорной волне, В результате происходит восстановление голограммы и восстановленную волну регистрируют фоторегистратом 5 в виде зависимости ее интенсивности во времени (фиг. 2):По полученным в результате обработки этой зависимости данным определяют амплитуду Е колебаний объекта из соотношений Е = а Мс) + Ь(о) 1, при 2 у колебаний из соотношения количество полностьюсформировавшихся локальных максимумов.в пределах одного периода зависимости интенного пучка от времени; длина волны записывающего голограмму света; величина последнего локального максимума, измеренная относительно предыдущего ему минимума, в зависимости интенсивности восставремени;величина последнего локального максимума, измеренная относительно следующего за нимминимума, в зависимости интенсивности восстановленного пучка от времени;частота колебаний; параметры линейного участка зависимости переменной составляю.зчщей 1 нормированной интенсивности 1(С) восстановленного пучка от амплитуды колебаний 2, полученной путем расчета выражения переменная времени;мнимая единица;закон колебания объекта;положение глобального максимума зависимости интенсивности восстановленного пучка от времени;глобального максимумарассчитанной зависимостинормированной интенсивности 1(С) в восстановог,Составитель В.Бахтин Техред А.Кравчук Корректор М.Максимишинец дактор А.Рев 409/39ВНИИПИ Госудапо делам из13035, Москва ПодписноССР Тираж 5 твенного ретений Ж, Ра ак мите т ткрыт кая н иб., д. 4/, Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная,ленном пучке от времени формула и э о б р е т е н и яСпособ определения параметров колебаний объекта, заключающийся в том, что экспонируют фоторефрактивный кристалл опорной и предметной волнами, одновременно осуществляют освещение кристалла волной, направленной навстречу опорной волне,восстанавливают с кристалЛа голограмму и регистрируют восстановленную вол 370463 4ну, по которой определяют параметрыколебаний, о т л и ч а ю щ и й с ятем,что, с целью увеличения опреде 5ляемых параметров колебаний расшире 1ния диапазона и увеличения точностиопределения амплитуд колебаний объекта,экспонирование осуществляют в течение времени Г выбираемого иэусловия Г с- С,гдевремена, необходимые для полученияголограммы колеблющегося объекта .соответственно в реальном времении усредненной во времени, а восстановленную волну регистрируют ввиде зависимости ее интенсивностиот времени,
СмотретьЗаявка
4014332, 15.01.1986
КУЙБЫШЕВСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ, ФИЗИКО-ТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ ИМ. А. Ф. ИОФФЕ
ГАРАЩУК ВИКТОР ПЕТРОВИЧ, ГАРАЩУК ТАТЬЯНА ПЕТРОВНА, ИВАХНИК ВАЛЕРИЙ ВЛАДИМИРОВИЧ, КАМШИЛИН АЛЕКСЕЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01H 9/00
Метки: колебаний, объекта, параметров
Опубликовано: 30.01.1988
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1370463-sposob-opredeleniya-parametrov-kolebanijj-obekta.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения параметров колебаний объекта</a>
Предыдущий патент: Устройство для регистрации вибраций
Следующий патент: Трехкомпонентный вибропреобразователь
Случайный патент: Высоковольтный транзисторный переключатель