Способ определения краевого угла смачивания

Номер патента: 1363019

Автор: Гребенник

ZIP архив

Текст

СООЗ СОВЕТСНИХСОЦИАЛИСТИЧЕСНИХРЕСПУБЛИК 9) И 1) 1 И 130 ОСУДАРСТВЕНКЫЙ КОМИТЕТ СССРО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИИ(7 1) Харьковский государственный университет им, А,М,Горького (72) И,П,Гребенник(56) Найдич Ю,В. Контактные явления в металлических расплавах. Киев: Наукова думка, 1972, с. 41.Са 11 аяйап 1.С., Еттегегг Э,Н., Р 1 еассйег А.1.Р. 1,рпдг - 118 пЫ зо 1 Ы сопгасг аще веазцгей Ьу хпгегГегеп цпсгозсору. - 1.Сажею. Бос. Рагас 1, Тгапя, 1, 1983, ч. 79, У 11, р. 2723-2728, прототип.(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КРАЕВОГО УГЛА СМАЧИВАНИЯ(57) Изобретение относится к контрольно-измерительной технике - к спо. собам определения краевого угла сма-. чивания жидкостью твердой поверхности. Целью изобретения является расширение области применения способа путем обеспечения возможности измерения малых углов смачивания. Жидкость наносят на исследуемую твердую поверхность в виде полосы, освещают поверхность монохроматическим светом, с помощью интерференционного микроскопа, наблюдают интерференционну)0 картину, измеряют расстояние между интерференционными линиями, пер; пендикулярными полосе, величину смещения параллельных участков интерференционной линии и протяженность участка, соответствующего излому интерференционной линии, а краевой угол смачивания определяют из выражения 0 = агсгрЛ ЛАМ/(2 ИЫ)3, где Л - длина волны монохроматического света; ЛБ - величина смещения параллельных участков интерференционной линии, И - расстояние между интерференционными ли- С ниями, Ы - протяженность участка, соответствующего излому интерференцион- Б ной линии, М - увеличение интерференционного микроскопа. 2 ил.Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, а именно кспособам определения краевого угласмачивания жидкостью твердой поверх 5ности, и может быть использовано приизучении процессов пропитки пористыхструктур жидкостями, спекания в при 1 сутствии жидкой фазы при кристаллизации, пайки для металлических систем) 10и в других научно-технических экспериментах,Цель изобретения - расширениеобласти применимости способа путемобеспечения возможности измерениямалых углов смачивания,На фиг.1 изображена схема образца для исследования; на фиг.2 - интерференционная картина для измерения необходимых параметров, 20Способ осуществляют следующим образом,На твердую подложку 1 наносяттонкую полосу исследуемого жидкого материала (пленку) 2 и выдерживают при постоянной температуре доокончания растекания. Для металловнаносят полосу путем испарения и конденсации в вакууме, нагревают до температуры плавления исследуемого ме- З 0талла и выдерживают при этой температуре до прекращения растекания.Затем помещают подложку 1 с пленкой 2 в интерференционный микроскопМИИ. При освещении участков 3 и 4цоверхности монохроматическим светомс длиной волны Ь регистрируют интерференционную картину с увеличениемМ, состоящую из ряда параллельныхлищй, перпендикулярных направлениюполосы жидкости, т.е, линии смачивания, с изломом 6, соответствующиммениску жидкости. По интерференционной картине измеряют расстояние Нмежду интерференционными линиями 5,величину смещения ЛИ параллельныхучастков интерференционной линии ипротяженность Ь участка, соответствующего излому интерференционной линии. Краевой угол смачивания расчи 50тывают по формулеЬБМ8= агс 1 ц2 МЬгде Л - длина волны моиохроматического света;М - увеличение интерференционногомикроскопа. Проведена оценка пределов определяемых значений углов смачивания приМ = 500,Л = 5,4 10 см, в том числеи самых малых. При минимальном значении ВМ/М = 10и Ь порядка нескольких сантиметров, например Ь = 3 см,О= 1,5. Предлагаемым способом наряду с минимальным возможно определение и средних значений углов смачивания (при зИ/И = 5 10 "; Ь 10 " см;О и 40). Максимально возможные значения 6 составляют " 50 (при аИ/И=5;510 см),Формула изобретенияСпособ определения краевого угла смачивания, заключающийся в нанесении жидкости на исследуемую твердую поверхность,освещении поверхности монохроматическим светом и измерении параметров интерференционной картины с помощью интерференционного микроскопа, по которой рассчитывают краевой угол смачивания, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью расширения области применения способа путем обеспечения воэможности измерения малых углов смачивания, жидкость наносят в виде полосы и выдерживают в жидкой фазе при постоянной температуре до полного растекания, по интерференционной картине измеряют расстояние между интерференционными линиями, перпендикулярными полосе, величину смещения параллельных участков интерференционной линии и протяженность участка, соответствующего излому интерференционной линии, а краевой угол смачивания определяют из выраженияЛАММ9= агсд - 2 ИЬгде Л -длина волны монбхроматического света, М;величина смещения параллельных участков интерференционной линии, М;расстояние между интерференционными линиями, м; протяженность участкасоответствующего излому интерференционной линии, м; увеличение интерференционного микроскопа.136301 9 Яса 7 оставитель А.К ехред А.Кравчу е едактор А.Долинич орректор В.Гирня Заказ 6395/ ета СС дписное рытийаб.,Производственно-полиграфическое предприятие Уг, жгород, ул. Проектная 31 ТиражВНИИПИ Государствепо делам изобре13035, Москва, Ж,776НОГО КОМИений и откРаушская н

Смотреть

Заявка

4090727, 15.07.1986

ХАРЬКОВСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ ИМ. А. М. ГОРЬКОГО

ГРЕБЕННИК ИРИНА ПЕТРОВНА

МПК / Метки

МПК: G01N 13/02

Метки: краевого, смачивания, угла

Опубликовано: 30.12.1987

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-1363019-sposob-opredeleniya-kraevogo-ugla-smachivaniya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения краевого угла смачивания</a>

Похожие патенты