Устройство параметрического контроля интегральных схем

(51)4 Г НИ ОБРЕТ ВТО ТЕЛЬСТВУ м 11лючество СССР 28, 1980. во СССР 28, 1976. я к контролель изобтва прис большим етения - уп онФроле инт щение устро ральнык схем социфровои ент 5 ии. Зледля искл цессо ГОСУДАРСТВЕННЫ 1 КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ(54) УСТРОЙСТВО ПАРАМЕТРИЧЕСКОГКОНТРОЛЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ(57) Изобретение относитсяно-измерительной технике. количеством тестов. Устроисдержит источник 3 питания,измерительный прибор 4, элесравнения, панель 6 коммутамент 10 задержки необходимчения влияния переходных пр на измерения, возникающие прй подключении к контактирующему блокуПри включении питающих напряжениирегистром 12 параметров запаздывапроцесса осуществляется элементозадержки, что необходимо для искния коротких замыканий. Постояннозапоминающий блок 17 неменяющихс процессе измерения сигналов подключает эти сигналы через коммутационную матрицу 1 при условии, когда придет первый импульс от формирователя 8 и регистр 12 параметров будет в состоянии, отличном от нулевого. Кроме того, в устройство введены формирователи 7 и 9, сдвигающий регистр 13 тестов, элемент И 14, постояннозапоминающие блоки 15 и 16 параметров и тестов параметров. Устройство легко перестраивается с одного типа интегральной схемы на другой посредством замены одной печатной платы постоянно запоминающего блока, 1 ил.1 13089Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и можетбыть использовано для параметрического контроля интегральных схем.Цель изобретения - упрощение уст 5ройства при контроле интегральныхсхем с большим количеством тестов,На чертеже изображена структурнаясхема предлагаемого устройстваУстройство содержит коммутацион- Оную матрицу 1, у которой первые входи выход соединены с контактирующимблоком 2 проверяемой интегральнойсхемы. Второй выход коммутационнойматрицы 1 соединен с выходом программируемого источника 3 питания, а информационный вход цифрового измерительного прибора 4 соединен с третьимвыходом коммутационной матрицы 1.Информационный выход цифрового прибора 4 в двоичцо-десятичном коде соединен с первым входом элемента 5сравнения. Второй вход последнегосоединен с выходом панели 6 коммута гции, которая определяет допустимыезначения проверяемого параметра. Выход конца измерения прибора соединенс первыми входами формирователей7-9. Выходы формирователей 7 и 8 соединены соответственно с входами элементов 10 и 1 задержки, которыепредставляют собой два последовательно включенных одновибратора. Выходэлемента 10 задержки соединен с вхо,цом внешнего запуска цифрового прибора 4, а выход элемента 11 задержки - с тактовым входом сдвигающего регистра 12 параметров, ВыходФормирователя 9 соединен с тактовымвходом сдвигающего регистра 13 тестов и первым входом элемента И 14,второй вход которого соединен с выходом регистра 12 параметров. Выход нулевого состояния сдвигающегорегистра 13 соединен с запрещающим 45входом регистра 12. Выходы последнего соединены с вхсдом постоянногозапоминающего блока (ПЗУ) 15 параметров,также соединены выход ПЗУ 15 параметров и выход ПЗУ 16 тестов параметров, соединенные соответственно с третьимм и четвертым входами матрицы 1. Для управления программируемым источником 3 питания его вход соединен с выходом ПЗУ 15 параметров, Выход формирователя 18 "Пуск" соединен с выходом конца измерения прибораУстройство работает следующим образом.При запуске устройства на выходе формирователя 18 "Пуск" и Формирователей 7-9 формируются одиночные импульсы. Импульсом от формирователя 7 запускается цифровой измерительный прибор 4 через элемент 10 задержки. Последний необходим для того, чтобы исключить влияние переходных процессов ца измерения, возникающих при подключении к блоку 2, измерительных сигналов. Импульсы Формирователей 8 и 9 запускают соответственно регистры параметров 12 и тестов 13 из исходного (нулевого) состояния в первое положение, причем регистр, работающий с ПЗУ 16, переключается только в том случае, если приходит "Разрешение" с ПЗУ 15 параметров. Разрешение приходит только в случае, если в первом параметре есть измерительные тесты.Элемент 11 задержки необходим для того, чтобы при включении питающих напряжений, которые включаются регистром 12 параметров, включение их происходило с запаздыванием, чтобы дать время ца отключение напряжения предыдущего теста, так как в противном случае могут быть короткие замыкания.ПЗУ 17 не изменяющихся в процессе измерении сигналов подключает эти сигналы через коммутационную матрицу 1 при условии, когда приходит первый импульс от формирователя 8 и регистр 12 параметров находится в состоянии, отличцом от нулевого.Выходы регистра 13 тестов, соединены с входом ПЗУ 16 тестов параметров. Выход ПЗУ 15 параметров соединен с входом "Сброс" регистра 13 тестов. Вход ПЗУ 17 не меняющихся в процессе измерения сигналов соединен с выходом элемента И 14, а выход ПЗУ 17 - с вторым входом коммутационной матрицы 1. С последней 50 55 При измерении какого-либо теста измеряемая величина в аналоговой Форме с коммутационной матрицы 1 поступает ца вхоц циФрового измерительного прибора 4 и в цифровом коде поступает на элемент 5 сравнения. Требуемая величина уставки для кон- - кретного параметра задается панелью 6 коммутации допустимых значений проверяемого параметра, Управление1308 95 б ВНИИПИ Заказ 1795/38 Тираж 731 Подписное Произв.-полигр. пр-тие, г. Ужгород, ул . Проектная, 4 переключением уставок, а также управление программируемым источником 3питания производится от ПЗУ 15 параметров. Подключение требуемых сигналов на каждом тесте к изменяемойинтегральной схеме производится коммутационной матрицеГ 1 1, управлениекоторой осуществляется ПЗУ 15-17.Для обеспечения режима "кольца"используется импульс Конец измерения" цифрового измерительного прибора. Этим импульсом запускаютсяформирователи 7-9 при последующих(после первого) тестах. В случаесигнала "Брак", снимаемого с элемента 5 сравнения, на формирователи 7-9приходит ВЗапрет и цикл измеренияна этом тесте остановлен,Устройство параметрического контроля легко перестраивается с одного 20типа ИС на другой посредством замены одной печатной платы ПЗУ, не требует математического обеспечения,имеет высокое быстродействие и точность измерения и малые габариты, что р 5позволяет использовать его как в серийном производстве, так и при периодических испытаниях со стационарнымикамерами тепла, барокамерами или дляизмерения параметров в процессе элек- цтротермотренировки. Формула изобретения Устройство параметрического контроля интегральных схем, содержащее элемент сравнения, панель коммутации, коммутационную матрицу, контактирующий блок исследуемой микросхемы, ,элемент И, программируемый источник 40 питания, цифровой измерительный прибор и формирователь "Пуск", причем первые вход и выход коммутационнои матрицы соединены соответственно с выходом и входом контактирующего блока исследуемой микросхемы, второй вход - с выходом программируемого источника питания, второй выход - с измерительным входом цифрового измерительного прибора, информационный выход которого соединен с первым 4ВхОдОм элемента сравнения Второйвход которого соединен с Выходом панели коммутации, о т л и ч а ю щ ее с. я тем, что, с целью упрощенияустройства прц контроле интегральныхсхем с больщцм количеством тестов,в него Введены первый, второй итретий формирователи, первый и второй элементы задержки, сдвигающиерегистры тестов и параметров, элементИ, постоянный запоминающий блок параметрогпостоянный запоминающий блоктестов параметра и постоянный запоминающий блок не меняющихся в процессеизмерения сигналов, выход элемента Ичерез постоянный запоминающий блок неменяющихся в процессе измерения сигналов соединен с третьим входом коммутационной матрицы, выход сдв 11 гающего регистра тестов через постоянный запоминающий блок тестов параметра соединен с четвертым входом коммутационной матрицы, а информационный выход постоянного запоминающегоблока параметров соединен с пятымвходом коммутационной матрицы, выход формирователяПуск" соединен с первыми входямц первого, второго итретьего формирователей и выходомцифрового измерительного прибора,вход запуска которого через первыйэлемент задержки соединен с выходомпервого формироватсля, выход второго формирователя через второй элемент задержки соединен с тактовым входом сдвигающего регистра параметров, первый выход которого соединен с первым входом элемента И, второй вход которого соединен с выходом третьего формирователя и тактовым входом сдвигаю- щего регистра тестов, вход сброса которого соединен с первым выходом постоянного запоминающего блока параметров, второй выход которого соединен с входом прогряммцруемого источника питания третий ВьГход с Вхо дом панели коммутации, вход - с вторым выходом сдвигающего регцстра параметров, а Выход элемента сравнения соединен с вторыми входами первого, второго и третьего формироватепей.