Способ контроля геометрических параметров объектов

Номер патента: 1826697

Опубликовано: 10.06.1996

Автор: Комиссаров

МПК: G01B 11/06

Метки: бесконтактного, объекта, толщины

...фотоприемника можно рассчитать расстояние от точки проекции центра оптической системы на пучок до поверхности объекта по направлению данного пучка,Расстояние до поверхности объекта по направлению опорного пучка 1, и расстояние по направлению дополнительного пучка 1, можно вычислить из известных геометрических соотношений, равно как расстояния 1 и 14 определяются по координатам изображения точек на фотоприемниках 9 и 11.На фиг, 2 видно, что определение толщины по опорному пучку как (1, - 12) справедливо только для случая, когда поверхность кожи 1 нормальна опорному пучку, В реальности имеется наклон поверхности под углом Р к нормали в плоскости верхнего фотоприемника 9 и под углом у к нормали в плоскости нижнего фотоприемника 12....

Номер патента: 1707470

Опубликовано: 23.01.1992

Авторы: Михайлов, Цимко

МПК: G01B 15/02, G01N 23/00

Метки: объекта, толщины

...0). (3)Для повышения точности определениянапряжения на трубке эталонный ослабитель выполняют в виде ступенчатого клина, а его эквивалентную толщину определяют для ступенек, соответствующих по оптической плотности линейному участку характерист;1 чсской кривой, Полученные для этих ступенек значения напряжения на трубке усредняют по числу ступенек, а результат используют в качестве параметра при определении толщины обьекта решением уравнения (3).П р и м е р. Проводилась съемка в качестве объекта плексиглазового образца толгщиной 3 см вместе с алюминиевым клином (8 ступенек с шагол 1,5 мл) и эталонным ослабителел, представляющим собой параллелепипед из оргстекла с 6 ячейками, одна из которых заполнена водой, а 5 - растворами...

Номер патента: 1826007

Опубликовано: 07.07.1993

Автор: Зайцев

МПК: G01B 9/02, G01M 11/00

Метки: автоматической, микроскопа, наводки, объект, объектив, резкость, системы

...Отраженный от поверхности образца 3 и зеркала 23, расположенного пер , пендикулярно оптической осиинформационного луча, направляется светоделительным кубиком 18 в светоделительный кубик 13, где на его внутренней грани разделяется на два взаимно. перпендику лярных луча. Опорный луч, пройдя фазовую пластинку 15, направляется уголковым .отражателем 16 в светоделительный кубик 13, где он также разделяется на два взаимно перпендикулярных лучз, совпадающих с лучами, полученными при делении отраженного информационного луча. Пройдя поляроиды 19 и 20, полученные таким образом лучи рекомбинируют. Фотоприемники 21 и 22 преобразуют интенсивности падающего на них света в электрические синусоидальные сигналы. Введение фазовых пластин 14 и 15 и...

Номер патента: 1629746

Опубликовано: 23.02.1991

Авторы: Иванов, Иванова

МПК: G01B 7/18

Метки: значений, интегральных, напряженно-деформационного, параметров, состояния, тел

...малая степень наработки - доля площадки, занимаемая растущими зернами на шлифе, Адц менее 0,2; средняя степень наработки 0,2Ад0,8; большая степень наработки 0,8АА1,0; избыточная наработка - изменена вся микроструктура,Чувствительное покрытие с таким образом выявленной и предварительно оцененной микроструктурой помещают в раствор электролита, например 0,1 моль/л раствора серной кислоты. Через фиксированный промежуток времени, например 60 с, по известной методике с использованием высокоомного цифрового вольтметра измеряют разность электродных потенциалов между чувствительным покрытием и электродом сравнения, в качестве которого используют, например, стеклянный электрод, что позволяет производить определения с точностью до 0,5 мВ и...

Номер патента: 1753352

Опубликовано: 07.08.1992

Автор: Иванов

МПК: G01N 3/32

Метки: значений, интегральных, нагружении, напряженно-деформированного, параметров, состояния, тел, циклическом

...осущес вляется следующим образом.На поверхность исследуемого тела (ее участок) наклеиоают чувствительное к повторно-переменным деформациям покрытие из злектролитического металла, Тело с покрытием подвергают циклическому на гружению определенным, достаточно большим числом циклов нагружения. После этого, используя подходящий растооритель,снимают наработанное чувствительное покрытие с поверхности тела и наклеивают на 10 ровную плоскую поверхность предметного стекла, Чувстоительное покрытие на предметном стекле полируют, удаляя поверхностный слой на незначительную глубину; травлением выявляют микроструктуру и с 15 помощью оптического металлогрэфического микроскопа проводят количественную оценку изменений в ней, Перед микроскопическими...