Способ определения вязкости

СОЮЗ СОВЕТСНИХСОЦИАЛИСТИЧЕСНИХРЕСПУБЛИН 9) 1111 1)4 0 01 И .11/ ЯСАМ"13Т ЬЫО Л": . ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ ин ационные и и физи тик мате1968,ое свидетельство СССР кл. 0 01 И 11/16, 198 4) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ7) Способ определениносится к области ис ВЯЗКОСТ вязкост едовани ции. ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ ССС ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫ А ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТ(56) Белкин И М, и др. Роприборы. Измерение вязкоско-механических характеририалов, М,: Мащиностроенис. 202,Авторск1 1188588,реологических свойств жидкостей,Цель изобретения - упрощение способа при определении вязкости прозрачных жидкостей путем устранения добавочного облучения, Способ включа"ет операции деформирования поверхности жидкости и измерения параметров деформации с помощью лазерногоизлучения. Новым является нанесениеслоя исследуемой жидкости на подпожку, выполненную из материала, поглощающего излучение в видимой областиспектра, Использование поглощающейподложки позволяет ограничиться применением источника видимого излучения как для деформирования так идля измерения параметров деформа 1242764Изобретение относится к исследо" занию реологических свойств жидкостей и может быть использовано при измерении вязкости растворов, расплавов и дисперсных систем в химической, пищевой и нефтеперерабатывающей промышленностиЦелью изобретения является упрощение способа при определении вязкос- . ти прозрачных жидкостей путем устранения добавочного облученияВ предлагаемом способе при определении вязкости прозрачной жидкости источник видимого излучения применяют как для деформирования, так и для определения параметров деформации, что упрощает определение вязкости.На фиг. 1 схематически изображено осуществление предложенного способа; на фиг. 2 - зависимость диаметра сечения отраженного пучка от вязкости жидкости.Слой .1 исследуемой жидкости располагают на подложке 2, на которую направляют пучок 3 оптического излучения. Тепловая энергия, передаваемая слою жидкости от подложки 2, вызывает вихревые движения частиц жидкости под действием термокапиллярных сил, что деформирует поверхность слоя. Кривизна образуемого на поверхности углубления 4 зависит от вязкости жидкости, Для измерения деФормации поверхности используют часть 5 излучения, отраженную деформированным участком поверхности,П р и м е р 1, Слой ацетона толщиной 0,5 мм наносят на подложку иэ карболита, Ацетон облучают гелий- неоновым лазером ЛГс мощностью 20 мВт, На экране, установленном на высоте 1 м от подложки, измеряют диаметр сечения отраженного пучка, который равен 29 мм при вязкости ацетона 0,32 сП.Пример 2,Попримеруопределяют диаметр сечения пучка для35 40 45 О 5 20 25 ЗО слоя ацетона с вязкостью 1,20 сП.Диаметр равен 19 мм,П р и м е р 3, По примеру 1 определяют диаметр сечения пучка дляслоя н-бутанола с вязкостью 2,95 сП.Диаметр равен 11 мм,Результаты примеров 1-3 представлены на фиг. 2 в виде градуировочной кривой.П р и м е р 4. Полученную в предыдущих примерах кривую используют для определения вязкости пропанола, По примеру 1 измеряют диаметр сечения отраженного пучка, Диаметр равен 14 мм. Определенная по градуировочной кривой вязкость составляет 2,25 сП при известном справочном значении вязкости 2,23 сП.Предложенный способ прост в осуществлении и позволяет дистанционно определять вязкость прозрачных жидкостей с помощью лазерного источника излучения видимой области, не прибегая к источнику излучения ИК области спектра, Упрощение аппаратурного оформления (отсутствие второго источника излучения ) и исключение операции юстировки взаимнОго положения ,цвух источников повышает оперативность измерений и позволяет использовать предложенное решение при непрерывном контроле вязкости на технологических линиях. Формула изобретения Способ определения вязкости, включающий деформирование поверхности слоя жидкости оптическим излучением и измерение параметров деформации по расходимости пучка излучения, отраженного деформированным участком жидкости, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью упрощения способа при определении вязкости прозрачных жидкостей, слой исследуемой жидкости располагают на подложке, выполненной иэ материала, поглощающего излучение в видимой области.