Устройство для исследования светотехнических и геометрических параметров матричных светоизлучающих индикаторов

Номер патента: 1242721

Авторы: Васьковский, Левчук, Панкова, Романов

ZIP архив

Текст

(51)4 С 0 Я ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ ЬЬЬЛьи ЕВ к ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ И АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(71) Московский ордена Ленина и ордена Октябрьской Революции энергетический институт(56) Авторское свидетельство СССР У 670826, кл, С 01 7 1(44, 1979.Геда Н.Ф. Измерение параметров приборов оптоэлектроники. М.; Радио и связь, 1981, с,152.(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ СВЕТОТЕХНИЧЕСКИХ И ГЕОМЕТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ МАТРИЧНЫХ СВЕТОИЗЛУЧАЮЩИХ ИНДИКАТОРОВ(57) Изобретение относится к устройствам, позволяющим исследовать светотехнические и геометрические параметры матричных светоизлучающих индикаторов. Цель изобретения - повышение точности измерения светотехнических и геометрических параметров матричных индикаторов. Устройство состоит из блока оптики переноса изображения, оптически связанного через диафрагму поля зрения с приемником излучения с предусилителем, а также устройства регистрации, при этом в устройство введены блок оптики переноса и увеличения изображения, импульсный электронно-оптический преобразователь с блоком управления затвором, амплитудный детектор и блок управления сканированием. Введение новых блоков и функциональных связей между блоками устройства позволяет повысить точностьизмерений. 1 ил.Изобретение относится к устройствам позволяющим исследовать светотехнические и геометрические параметры матричных светоизлучающих индикаторов, контролировать соответствие 5техническому заданию серийно изготовляемых матричных светоизлучающих индикаторов, а также цаспортизироватьряд специальных параметров.Цель изобретения - повышение точности измерения светотехнических игеометрических параметров.На чертеже показана блок-схемаустройства,Устройство состоит из матрицы 1 15светодиодов, за которой последователь.но установлены блок 2 оптики переносаи увеличения, импульсный электроннооптический преобразователь (ЭОП) 3,блок 4 оптики переносадиафрагма 5 20поля зрения и приемник 6 излучения,к выходу которого последовательноподключены предусилитель 7, амплитудный детектор 8, устройство 9 регистрации и блок 10 управления сканированием. Блок 11 управления затворомЭОП подключен к входу ЭОП 3.Устройство работает следующим образом.Блок 2 строит действительное изоб- З 0ражение участка светящегося элемента исследуемой матрицы 1 светодиодовна фотокатоде импульсного электроннооптического преобразователя 3, который служит для усиления яркости изображения элементов матрицы, а такжеосуществляет синусоидальную высокостабильную по частоте модуляцию светового потока. Управление режимомработы импульсного ЭОП осуществляетсяот специального блока 11 управлениязатвором. В качестве блока 4 оптикипереноса используется светосильныйобъектив, который строит действительное изображение светящегося элементаматрицы в плоскости фотокатода приемника 6 излучения. Диафрагма 5 полязрения, определяющая пространственное разрешение устройства, устанавливается в плоскости фотокатода приемника 6 излучения, сигнал которого усиливается предусилителем 7 и через амплитудный детектор 8 подается на регистрирующее устройство 9, В схеме предусмотрена синхронизация блока 10 управления сканированием и устройства 9 регистрации.Проведя перед измерениями градуировку по яркости и определив общее увеличение системы, можно определить интересующие параметры индикатора,Предлагаемое .изобретение позволяет существенным образом повысить отношение сигнала к шуму, что определяет высокую точность измерения параметровматричных светоизлучающих индикаторовФормула изобретенияУстройство для исследования светотехнических и геометрических параметров матричных светоизлучающих индикаторов, состоящее из блока оптики переноса изображения, оптически связанного через диафрагму поля зрения с приемником излучения с предусилителем, а также устройства. регистрации, о т л и ч аю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности измерения светотехнических и геометрических параметров, в него введены блок оптики переноса и увеличения изображения, импульсный электронно-оптический преобразователь с блоком управления затвором, ампли- . тудный детектор и блок управления сканированием, причем блок оптики переноса иувеличения изображенияи импульсный электронно-оптический преобразователь с блоком управления затворомпоследовательно установлены между исследуемым матричным светоизлучающим индикатором и блоком оптики переноса изображения, а амплитудный детек. тор включен между предусилителем и устройством регистрации, блок управления сканированием включен между устройством регистрации и исследуемым матричным светоизлучающим индикатором.Подо комитета СССй и открытийРаушская наб.,фическое предпиятие, г. Ужгород, ул. Проектная,

Смотреть

Заявка

3838502, 03.01.1985

МОСКОВСКИЙ ОРДЕНА ЛЕНИНА И ОРДЕНА ОКТЯБРЬСКОЙ РЕВОЛЮЦИИ ЭНЕРГЕТИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ

ВАСЬКОВСКИЙ АЛЕКСАНДР АЛЕКСАНДРОВИЧ, ЛЕВЧУК ЮРИЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ, ПАНКОВА ИРИНА ИВАНОВНА, РОМАНОВ СЕРГЕЙ СЕРГЕЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01J 1/44

Метки: геометрических, индикаторов, исследования, матричных, параметров, светоизлучающих, светотехнических

Опубликовано: 07.07.1986

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-1242721-ustrojjstvo-dlya-issledovaniya-svetotekhnicheskikh-i-geometricheskikh-parametrov-matrichnykh-svetoizluchayushhikh-indikatorov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для исследования светотехнических и геометрических параметров матричных светоизлучающих индикаторов</a>

Похожие патенты