Устройство для измерения линейных размеров изделия

СОЮЗ СОВЕТСНИХСОЦИАЛИСТИЧЕСНИХРЕСПУБЛИК 26044 19) 15 ц 4 С 01 В 11/ БРЕТЕН Сргр,у л р;15 К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ твенныйомсомолаирометрии венков ов, Б.Е.КриЮношев088.8)В 3851180,1978,идетельство01 В 11/08 В 7/12 кое св кл. С СССР 1978,ИЯ ЛИНЕЙконта им индриГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИ(71) Новосибирский государсуниверситет им.Ленинского кИнститут автоматики и электСО АН СССР(56) Патент СШАкл. С 01АвторсФ 731278,(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНЫХ РАЗМЕРОВ ИЗДЕЛИЯ(57) Изобретение относитсявольно-измерительной технино к измерению диаметров цил ческих изделий. Целью изобретения является увеличение диапазона измеряемых линейных размеров. Дифрагированный на изделии луч лазера фоку-. сируется Фурье-объективом в плоскость, где расположены фазовая решетка и пространственный фильтр, транспортируикцивгространственный спектр таким образом, чтобы в плоскости изображения, создаваемого проек" тирующим объективом, возникал ряд сдвинутых контурных изображений объекта. Полевая диафрагма, помещенная в. эту плоскость, выбирается такого размера, чтобы она пропускала дваФ внутренних контура соседних изобра- Е жений и перекрывала остальные. Размер изделия определяется по пространственному спектру прошедшего через полевую диафрагму, света. 1 ил.- длина волны света;Р - фокусное расстояниеФурье-объектива;1. - расстояние от изделия 5 до передней фокальнойплоскости Фурье-объ -ектива;1 - расстояние от плоскости пространственно- О частотного фильтра допередней фокальной .плоскости прректирующего объектива;л- период фазовой решет ки;Г - фокусное расстояниепроектирующего объектива.В плоскости считывающей диафраг мы формируется спектр "разностного"изобра,кения соответствующего объектуразмером ЬЭ=Э, -Р, где 0 - размер контролируемого изделия. Считывание этого спектра осуществляется фотоприемником 11, электрический сигнал с которого поступает в электронный блок 12, где вычисляется размер иэделия. Устройство для измерения линейных размеров изделия, содержащее источник когерентного излучения и расположенные по ходу световых лучей расширитель пучка, первую диафрагму, располагаемую перед объектом, Фурье- объектив, пространственно-частотный полосовой фильтр, проектирующий объектив, вторую диафрагму, фотоприемник и соединенный с ним электрически электронный блок обработки, о т - л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью расширения диапазона измерения линейных размеров, оно снабжено фазовой решеткой, размещенной перед проектирующим объективом, и полевой диафрагмой, устанавливаемой в плоскости изображения объекта между проектирующим объективом и второй диафрагмой, а полевая диаграмма выполнена с размером Ь: ьЭ1226044Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и можетбыть использовано для автоматического контроля диаметров .цилиндрических изделий.Целью изобретения является расширение диапазона измеряемых линейныхразмеров за.счет мультиплицированияи фильтрации пространственного спектра дифрагированного на контролируемом изделии света,На чертеже показана схема предла"гаемого устройства.Устройство содержит источник когерентного излучения, например лазер 1, расширитель 2 пучка и диафрагму 3.Измеряемое изделие обозначено позицией 4. Устройство также содержитФурье-объектив 5, фазовую решетку 6,пространственно -частотный полосовойфильтр 7, проектирующий объектив 8,полевую диафрагму 9, установленнуюв плоскости изображения изделия,сформированного системой объективов5 и 8, вторую диафрагму 10, фотоприемник 11, электрически соединенный сэлектронным блоком 12 обработки.Устройство работает следующим образом. 30Луч лазера 1, пройдя расширитель 2пучка, расширяется, ограничиваетсяпо пространству входной диафрагмой 3и освещает изделие 4. Дифрагированныйна изделии свет фокусируется объекти- З 5вом 5 в его задней фокальной плоскости, формируя пространственный .спектризделия. Этот спектр, промодулированный фазовой решеткой 6 и пространственно-частотным фильтром 7, проектируется объективом 8 в плоскость считывающей диафрагмы 10. При этом вплоскости полевой диафрагмы 9 формируются световые распределения, имеющие вид множества сдвинутых друготносительно друга контурных изображений контролируемого иэделия,Размер Ь полевой диафрагмы 9 выбирается таким образом, что она пропускает два внутренних контура соседних изображений и перекрывает остальные:Ь =шР Формула изобретения1226044 Составитель Ю.МироновРедактор О.Юрковецкая Техред Н,Бонкало Корректор А Обручар Тираж 670 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб.,д.4/5Заказ 2110/28 Производственно-полиграфическое предприятие,г.ужгород,ул.Проектная,4о- длина волны света; лр - период фазовой решеткиГ - фокусное расстояниеФурье-объектива; .Ь, - расстояние от изделиядо передней фокальнойплоскости фурье-объектива; а- расстояние от плоскос-ти пространстенночастотного фильтра допередней фокальнойплоскости проектирующего объективами- фокусное расстояниепроектирующего объектива.