Способ моделирования срезов геологических структур

Номер патента: 1264230

Опубликовано: 15.10.1986

Авторы: Башкатов, Валуконис, Смачной

МПК: G09B 23/40

Метки: геологических, моделирования, срезов, структур

...проведении лабораторных и практических занятий по курсам общей геологии, геотектоники, структурной геологии, картографии и геодезии.Целью изобретения является повышение точности моделирования путем получения нескольких ступеней среза с объемным эффектом.Способ иллюстрируется чертежом.На чертеже обозначены контурлотка (вид сверху); структура 2, выступающая над жидкостью; рабочая многослойная (двухслойная) жидкость 3; контур 4 среза, определяемый поверхностью жидкости; контур 5 среза, определяемый плоскостью внутри многослойной (двухслойной) жидкости. При иепольэовании способа геологическая структура воспринимается объемно, так как четко видны ее контуры 4 и 5 на различных глубинных уровнях.Для получения многослойной жидкости могут быть...

Номер патента: 97488

Опубликовано: 01.01.1954

Авторы: Бугров, Ивакин

МПК: G01V 1/00

Метки: волновых, воспроизведения, геологических, искусственного, моделях, процессов, сейсмических, структур, типовых

...и одновремен. но используемого для нанесения отметок масштаба времени (маркировка) кривых на экране осциллографа 4;.что осуществляется путем перестановки переключателя 7 в положение ц и ектрического узла Л устройства, служалтего длв развертки изображения на экране осциллографа и выполненного по типу ждущей развертки, управляемой импульсами генератора 6.Для того чтобы момент излучс ния пьезоизлучателя 2 отставал от начала развертки, импульсы генератора б подаются на узел устройства 9, задерживающий импульс по времени, а затем на узел 10 г где Происходит окончательное формирование импульса в виде пики, длительностью порядка 10 микросекунд. Далее импульсы подаются на пьезоизлучатель 2 и одновременно на узел 11, служащий для отметки...

Номер патента: 602896

Опубликовано: 15.04.1978

Авторы: Гольбрайх, Миркин

МПК: G01V 11/00

Метки: геологических, закономерностей, количественной, оценки, распределения, решетки, структур, узлов

...отдельным или суммарному изображению узлов решетки, по способу фотооптического осред 1 ения и эквиденситометрии. Производят количественную оценку пространственной частоты ф узлов решетки для отдельных или суммарныхизображений по их оптическому пространственному спектру. формула юобретения Составитель Е. ХалатоваТехред О. Луговая Корректор Г 1. Макаревич 1 ираж 702 Подписное Редактор А. Гсйсоченло знл аз 1843142 НИИГ 1 И Государственного комитета Совета Министров СССР но делам изобретениИ и открытий3035, Москва, Ж.35. Раушская наб., д. 4/5 Филиал 1 П Гагент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4не н толщине случайно пеоесекающнхся или примыкающих друг к другу линий. Угол фильтрации по направлению определяется диапазоном углового раепределения...

Номер патента: 625177

Опубликовано: 25.09.1978

Авторы: Кутузов, Соловьев, Шилов

МПК: G01V 9/00

Метки: геологических, поиска, структур

...газоносных струк. Целью изобретения является новыщениедостоверности. исследований.Достигается это тем, что температуры изряют на глубинах, равных 0,23-0,30 величиныя с изменяющимися годовыми температурамвИзобретение основано на закономерности,заключающейся в том, что. импульсы сезонныхколебаний температур за определенный проме.жуток времени, например эа сто дней, в зави 30 симости от лнтологических особенностей породдостигают различных глубин, расположенных вуказанном интервале, Поэтому для исключенияих влияния в литологически различных породахизмерения следует производить на различных15 глубинах в указанном интервале, Верхний предел интервала ограничен глубиной проникновения и затухания суточных колебаний темпера.тур, Указанной...

Номер патента: 890347

Опубликовано: 15.12.1981

Авторы: Кутузов, Соловьев, Шилов

МПК: G01V 8/00, G01V 9/00

Метки: выявления, геологических, структур

...отрае- женной освещенности, Значения отраженной освещенности по точкам наблюденияой наносят на карту и строят карту изолюкс,д по которой затем выявляют антиклинали.ро- В процессе практической реализациив способа установлено, что нвд антиклиналями, которые могут содержать залежинефти и газа, регистрируют повышенныезначения отраженной освещенностьл- Использование данного способа выявлея ния геологических структур ло сравнению с известными позволяет ускоритьработы по выявлению геологических струки тур и .удешевить работы по их съемке,Способ реализуют следующим образом.Плошадь, подлежащая исследованию,в случае разнородного строения в зависимости от характера растительного покрова почвы, поверхностной литологии,рельефаместности и др....