Способ определения неплоскостности и зоны ее распространения на металлическом листе
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1021939
Автор: Бауман
Текст
пюъЗКв 1 СОЮЗ СОВЕТСОЦИАЛ ИСТИЧРЕСПУБЛИН 1939 90,Ю 6Ъ Ч ЕН ОП НА ЕПЛЬСТВ СК вов 198 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ ССС О ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИ НИЕ ИЗ(21) 3378475/25-28(54) (57) СПОСОБ ОПРЕДКОСТНОСТИ И ЗОНЫ.ЕЕ тво СССР У 544862,ЕЛЕНИЯ НЕПЛОС- АСПРОСТРАНЕНИЯ КОМ ЛИСТЕ,. заключающийсяагают над исследуемой полинейный растр, освещают его, фиксируют муаровую кар.судят о неплосКостности икения на металлическом лисщ и й с я тем, что, с цельюогических возможностей, наноороны фиксирования муаро.люминофора; составляющийрастра, освещение производятчами., НА МЕТАЛЛИЧЕС в том, что распол верхностью листа под острым углом тину, по которой .зоне ее распростра те,отличаю ,расширения технол сят на растр со ст вой картины слой 0;05-0,1 толщины инфракрасными луИзобретение относится к измерительной тех.нике и может быль использовано в металлургической промышленности для контроля неплоскостности листов и лент в потоке их изготовления и сортировки на металлических машинах, 5Известен способ. определения неплоскостнос.ти, основанный на "ошупывании".поверхностилистов с помощью оптических измерителейи заключающийся в том, что освещают движу.щийся лист с помощью спеЦиального осветителя,проектирующего на лист полоску прямой линиисвета, и по искажению проектируемой прямойполосы света на, искривленной поверхности поло.сы судят о ее неплоскостности 11.Одняко отраженный от плавной переходной 15границы неплоскостности свет дает размытуюкартину изображения проектируемой полоскисвета на листе, что значительно снижает точностьопределения неплоскостности и зоны ее распрос.транения этим способом. 20Наиболее близким к изобретению по темни.ческой сущности является способ определениянеплоскостности и зоны ее распространенияна металлическом листе, заключающийся в томчто располагают над испытуемой поверхностью 25линейный растр, освещают его под острымуглом, фиксируют муаровую картину, по которой судят о неплоскостности и .зоне ее распрост.ранения на металлическом листе,Известный способ обладает значительно большей разрешающей способностью, чем способ наблюдения искаженной картины, спроектированнойна поверхности. листа полоски света, дает четкую границу распространения неплоскостностии позволяет измерять амплитуду дефекта не.35плоскостности 0,02 мм 21Однако известный способ измерения неплоскостности может быть использован для контроля листов, класс обработки которых не нижеЯ 0,05, т, е, обладающих зеркальной поверхностью. Если класс обработки ниже Я 0,1, тЬна поверхности такого металлического листаиз-за рассеивания света на неровностях муаро.вые картины получаются значительно менее качественные или не наблюдаются вовсе, Посколь45ку в общем выпуске листов листы, обработанные по Ях 0,05 классу чистоты, составляютнезначительную долю (3-5%) (это листы для Фофсетной печати в полиграфии, для дисковмагнитной памяти ЭВМ, для масок кинескопови некоторые другие), то использование иэвестного способа на производстве сильно ограниченсТаким образом, известный способ имеет ограни.ченные функциональные возможности,Целью изобретения является расширение технологических возможностей, а именно воз: можность определения неплоскостности листов с чистотой поверхности ло Я 0,1 б, т. е. с ма твой или глянцевой поверхностью, а также возможность различения слабо выявляемых дефектов неплоскостиости на листах с зеркальнойповерхностью эа счет повышения разрешающейспособности,Поставленная цель достигается тем, что согласно способу определения неплоскостностии зоны ее распространения на металлическомлисте, заключающемуся в том, что располагаютнад исследуемой поверхностью листа линейныйрастр, освещают его под острым углом, фиксируют муаровую картину, по которой судят онеплоскостности и зоне ее распространенияна металлическом листе, наносят на растр со сто.роны фиксирования муаровой картины слойлюминофора, составляющий 0,05 - 0,1 толщинырастра, а освещение производят инфракраснымилучами.На чертеже изображена принципиальнаясхема устройства, реализующая предлагаемыйспособ.ВУстройство содержит источник 1 инфракрасного излучения, линейный растр 2, выполненныйв виде пластинки из прозрачного материала сйанесенными на нем зачерненными полосами,причем линиатура растра расположена параллель.но оси движения листа 3, слой 4 люминофора,блок 5 наблюдения и зеркальный прожектор.Способ осуществляется следующим образом.Над контролируемой поверхностью листа 3параллельно плоскости его движения располагают линейный растр 2. Над поверхностью растра2 устанавливают источник 1 инфракрасного излучения, который помещен в фокусе зеркальногопрожектора, благодаря чему растр 2, освещаетсяпучком параллельныхлучей света под острымутлом 1 к его поверхности. Свет от нсточфника 1 инфракрасного излучения отражаетсяот контролируемой поверхности листа 3 и по.падает либо на зачерненную либо на прозрач.ную полоски растра 2 в месте фиксированиямуаровой картины, либо попадает, либо нет наслой 4 люминофора, нанесенного оо стороныфиксирования муаровой картины, на растр 2,Полученную муаровую картину наблюдаютвизуально блоком 5 наолюденйя (в данномслучае глаз) под углом 90 к поверхностирастра 2,Если металлический лист 3 не имеет дефекта неплоскостности, то муаровая картинапредставляет собой прямые продольные линии сравным шагом,Когда контролируемая поверхность листаимеет дефект неплоскостности величиной А,)прямолинейность муаровых полос нарушаетсяи они получают искривление в том месте,где поверхность имеет дефект, Таким образоммуароваякартина отражает профиль неплоскостности металла, Зная величину искривленияполосы Ав месте дефекта, а также уголКорректор А. Тяско Заг;аз 402230 Тираж 602ВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. %5 Подписное Филиал П 1 Щ "Патент", г. Ужгород, ул, Проектная, 4 3 1021939 4ф., лод которым освещен растр 2, можно ности поверхности поломы рассеивают видимьпнайти величину дефекта ф по формулесвет.А А,1тли Соотношение толщины люминофора в пре.Фиксацая муаровой картины происходит. на делах 0,05.0,1 толщины растра 2 выбрано по.тонком слое 4 люминофора, поэтому яркость и тому, что при значениях, меньших 0,05, свечеткость м;аровой.картины значительно усили- чение люминофора значительно ослабляется, а. вается, поскодьку яркость свечения люмино. при толщинах, превыщающих 0,1, начинаетфора даже больше яркости свечения абсолютно сказываться дифракция, что размывает границычерного. тела. при той же температуре. В то муаровых полос,же время отражательная способность большинс: 10 Использование предлагаемого способа опре.тва полированных металловлежит в пределах, деления неплоскостности и зоны ее распростра 0,32-0,97, а для матовых поверхностей или пения по сравнению с известнымобеспечиваетглянцевых составляет 0,1 0,6 от еветимости возможность контролировать неллоскостностьабсолютно черного тела. листов с матовой или глянцевой поверхностью,. например использование люминофора на основеПоскольку болыпинство металлических лис ЕпЗ-Сц, дает необычайно яркое свечение в видитов имеют матовую или глянцевую поверхность, мой части спектра под действием инфракрасногото, выбрав длину волны инфракрасного излуче- облучения, что увеличивает разрешающую спо.ния 1,5-2,0 мкм, можно наблюдать качествен- собность, как минимум в 10 раз и применяя:ную муаровую картину, вфто время как в пре- инфракрасный. источник излучения, обеспечиваетделах, длин волн 0,40,76 мкм вообще не на-,зеркальность поверхности практически всехблюдают муаровую картину, поскольку перов- выпускаемых листов.
СмотретьЗаявка
3378475, 07.01.1982
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Г-4361
БАУМАН ВЛАДИМИР НИКОЛАЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 9/08
Метки: зоны, листе, металлическом, неплоскостности, распространения
Опубликовано: 07.06.1983
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1021939-sposob-opredeleniya-neploskostnosti-i-zony-ee-rasprostraneniya-na-metallicheskom-liste.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения неплоскостности и зоны ее распространения на металлическом листе</a>
Предыдущий патент: Емкостный датчик угла наклона
Следующий патент: Способ определения микроперемещений поверхности диффузно отражающего объекта
Случайный патент: Устройство для ограничения минимального возбуждения синхронной машины