Способ определения вязких и упругих свойств жидких кристаллов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
(22) Авторы изобретения в, Э.В.Геворкян и А.С.Лаг М.М.Ани унов . 6 Всесоюзный за 1) Заявитель ашиност ОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ВЯЗКИХ И УПРУГИХСВОЙСТВ ЖИДКИХ КРИСТАЛЛОВ вохром атического поляроиды и стеккоторыми иахопомещенный в поле, возникают При включении поля происходитвеличине котоугих свойствах,ж являетсясмеем еф.елвченв вректОев вве т ния е е ав Изобретение относится к физико-химическим измерениям и может быть использовано в приборостроении, химической,электронной"и часввой промышленности,Известен способ определения вязких ипругих свойств жидких кристаллов, за 5лючающийся в том, что располагают, жидкий кристалл в пульсирующем магнитномполе, измеряют диэлектрическую Проницаемость и по ней .судят о вязких и упругих свойствах жидкого кристалла,Недостатком способа является низкаяточность измерений, обусловленная проводимостью жидких кристаллов.Наиболее близким по технической сущности к изобретению явдяется способ одределения вязких и упругих свойств жидкнх кристаллов, заключающийся в том,что располагают жидкий кристалл в пульсирующем магнитном поле, измеряютанизотроцный параметр ориентированногона поверхности жидкого кристалла и поизмеренному параметру судя о свойствахжидких кристаллов. При прохождении мосвета через скрещенныелянные пластины, междудится жидкий кристалл,пульсирующее магнитноеконоскопические нолосы,и выключении магнитногосмещение этих полос, порой судят о вязких и упрндких кристаллов. Недостатком этого способанизкая точность измерения малыщений полос, а также сложностьрения, обусловленная быстрым уврассеяния света на флуктуацияхт ра при увеличении олщины жвдкталла,Цель изобретения - повышети и упрощение процесса азмереЦель достигается тем, что возв жидком крнсталле ультразвуковыколебания и используют их часточестве анюотропного параметра207 3 970На чертеже изображена принципиальнаясхема устройства, реализующего определения вязких и упругих свойств жидких кристаллов,Устройство содержит два расположенных напротив друг друга приемный 3. иизлучающий 2 пьезопреобраэователи,усилитель 3, вход которого соединен сприемным пьеэопреобразователем 1, авыход - с излучающим пьезопреобразователем 2, последовательно соединенные. сусилителем 3 частотомер 4 и регистрируюший блок 5, электромагнит 6 и регулируемый источник 7 напряжения, Позицией 8 обозначен слой жидкого кристалла.. Способ определения вязких и упругихсвойств жидких кристаллов заключается,в том, что располагают слой 8 жидкогокристалла в пульсируюшем магнитном поле, создаваемого электромагнитом 6, соединенным с регулируемым источником 7напряжения.В замкнутой системе, состоящей изусилителя 3 и цепи положительной обратной связи, включающей пьезопреобразователи 1 и 2 и слой 8 жидкого кристалла, возбуждают ультразвуковые автоколебания, частота которых измеряется частотомером 4 и фиксируется регистрируюшим блоком 5, При включении магнитно-го поля электромагнита 6 происходит изменение ориентации молекул слоя 8 жидФ о р м у л а изобретения Способ определения вязких и упругих о свойств жидких кристаллов, заключающийся в том, что располагают жидкий кристалл в пульсирующем магнитном поле, измеряют анизотропный параметр ориентированного на поверхности жидкого кристалла и по измеренному параметру судят о свойствах жидких кристаллов, о т л и ч а юш и й с я тем, что, с целью повышения точности и упрошения пропесса измерения возбуждают в жидком кристалле ультразвуковые автоколебания и используют их частоту в качестве аниэотропного параметра. аказ 8377/52Подписное"Патент",Ужгород, уп. Проектная, 4 кого кристалла, что приводит к изменениюскорости ультразвука, а следовательно, и частоты автоколебаний, По временной зависимости частоты автоколебаний определяют коэффициенты вязкости, а по величине порогового магнитного поля - модули упругости Франка.Таким образом, возбуждение ультра,звуковых автоколебаний в жидком крио О талле, помещенном в пульсирующее магнитное поле,позволяет повысить точность измерений вязких и упругих свойств жидких кристаллов и дает воэможность измерять вязкие и упругие свойства непрозрач Б ных жидкик кристаллов.
СмотретьЗаявка
2947921, 30.06.1980
ВСЕСОЮЗНЫЙ ЗАОЧНЫЙ МАШИНОСТРОИТЕЛЬНЫЙ ИНСТИТУТ
АНИСИМОВ МИХАИЛ МИХАЙЛОВИЧ, ГЕВОРКЯН ЭДВАРД ВИГЕНОВИЧ, ЛАГУНОВ АЛЕКСАНДР СТЕПАНОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 29/00
Метки: вязких, жидких, кристаллов, свойств, упругих
Опубликовано: 30.10.1982
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-970207-sposob-opredeleniya-vyazkikh-i-uprugikh-svojjstv-zhidkikh-kristallov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения вязких и упругих свойств жидких кристаллов</a>
Способ определения механических свойств стенки полых трубчатых органов и устройство для его осуществления
Номер патента: 1103846
Опубликовано: 23.07.1984
МПК: A61B 5/00
Метки: механических, органов, полых, свойств, стенки, трубчатых
...соединенным при помощи микрометрического винта с корпусом механотрона, при этом держатели образца выполнены из электропровод- ного материала. При этом устройство для определения механических свойств стенки полых трубчатых органов, содержащее термостат для размещения образца, трубку для подачи кислорода, выходное отверстие которой расположено в нижней части термостата, привод, включающий шаговый двигатель, ходовой винт с гайкой, взаимодействующий с одним из держателей образца, и блок силоизмерения, дополнительно снабжено электростимулятором, включающим электроды, размещенные на держателях образца, а блок силоизмерения выполнен в виде механотрона, жестко соединенного с линейным упругим элементом, соединенным при помощи микро-...
Устройство для демонстрации свойств магнитного поля
Номер патента: 1804651
Опубликовано: 23.03.1993
Авторы: Логинов, Лопатин, Махоткин, Шурухин
МПК: G09B 23/18
Метки: демонстрации, магнитного, поля, свойств
...включения обмоток 8 уп равляющих магнитов 2 позволяетнаблюдать динамику изменения конфигурации магнитного поля, .Игровая функция устройства обеспечивается возможностью получения очень 50 55 пенных вокруг боковой поверхности кюветы, - параллельно дну кюветы, обмотки всех электромагнитов подключены через коммутирующий блок к источнику постоянного тока, а также тем, что обмотки электромагнитов, установленных вокруг боковой поверхности кюветы, размещень, на , общем магнитопроводе, и тем, что управляющие электромагниты и соответствующие им кнопки управления маркируются одним и тем же цветом.Использование магнитной жидкости в качестве индикатора обеспечивает возможность демонстрации динамики изменения формы магнитного поля, повышает...
Устройство для демонстрации свойств магнитного поля
Номер патента: 2003180
Опубликовано: 15.11.1993
Автор: Чумаченко
МПК: G09B 23/18
Метки: демонстрации, магнитного, поля, свойств
...поле и возможности практического применения магнитногополя в технических устройствах,Заявителю неизвестны технические решения, сходные с заявляемым по отличительным признакам, поэтому последние 55следует считать существенными.На чертеже представлен общий вид заявляемого устройства.Устройство содержит стойку 1, на которой закреплена пробирка 2, частично заполненная жидкостью и имеющая шкалу 3, пробирку 4, соединенную через кран 5 с пробиркой 2 шлангом 6. В пробирке 2 помещен поплавок 7 с закрепленным на нем снизу элементом из магнитного материала 8, В пробирке 4 помещен обратный клапан в виде шарика 9 и перфорированный ограничитель 10 сверху его, Источником магнитного поля является электромагнит(или магнит) 11,. Устройство работает...
Способ определения состава жидких смесей и свойств жидкостей
Номер патента: 708219
Опубликовано: 05.01.1980
Авторы: Жуховицкий, Кан, Хохлов, Яновский
МПК: G01N 31/08
Метки: жидких, жидкостей, свойств, смесей, состава
...уравнения ( 3) следует, что величина Я в зоне, содержащей лишь наименее летучий компонент ( 1), определяется для данной системы составол смеси и величиной Ч в зоне смеси (1,2), первоначально нанесенной на участок (а, с) колонки. Из уравнения (4) можно найти, в зо1 не смеси (1,2), образующейся при фронтальном ее перемещении по участку колонки с,в), а затем из соотношения (3) установить величинуВеличина определяется непосредственно уравнением 15 (5). Поскольку движению задней границы жидкости отвечает испарение чистого вещества, скорость этой границы определяется из уравнения (1). Таким образом возможны три скорости Х, или два излома на графике 1 отф йРа Т )Др но-яд 1ОСц И1 Ъ30В случае совершенных растворов(-г) ВОЗМожЕН ЛИШЬ ОДИН .ИЗЛОМна...
Способ измерения временной зависимости упругого когерентного рассеяния нейтронов в кристалле
Номер патента: 305522
Опубликовано: 01.01.1971
Автор: Нитц
МПК: G01T 1/29, H01J 47/12
Метки: временной, зависимости, когерентного, кристалле, нейтронов, рассеяния, упругого
...нейтроны 5 време)и т переходно руются в течение бо Выражение для предлагаемого способ ной относительной с 0 образца, воздепствия ля, запуска времснног ки источника пейтроннтся в таком направлет рассеиваемых в детекчивается. Это приводитрассеянные в течение го процесса, регистрильшего времени.временного разрешения а при условии идеальннхронизацип вращения на него импульсов поо анализатора и вспышов, записывается в виде:)1 - мозапчность монокрисчисло оборотов в едннт ем ни;скорость света;длина волны регистрируемых нейтронов;т, - размер образца в направлении рассеянного пучка;т, - толщина активного с,т - размер образца в рправлении;сВ =0,25 10-з лсеклА - коэффициентпропорциональности;Редактор оича Иад. М 855 Тирагк 73 Подиисшк дслаги...
Предыдущий патент: Электромагнитный преобразователь для контроля глубины упрочненного слоя
Следующий патент: Способ контроля качества лопаток турбин
Случайный патент: Автоматическая сцепка для железнодорожных вагонов