Способ спектрального количественного анализа
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 91871
Автор: Гольдман
Текст
Класс 421, 308 СССР ОПИСАНИЕ ИЗО К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Л. С. Гсльдмдн СПОСОБ СПЕКТРАЛЬНОГО КОЛИЧЕСТЕЕККОГО АНАЛИЗА Заявлено 14 октября 1950 г. за ЛЪ 436613 в Гостехннку СССР Опубликовано в Бюлс;стене изобретении Мо 9 за 1951 г.а С - концентрация анализируемого элемента, строят график, пользуясь которым по значеншо М для анализируемого элемента в пробе находят его концснтра 1;цю,Вследствие применения графиков. построенных с учетом влияния изменений условцй возбуждения (само- индукции, силы тока, величины вспомогательного искрового промежутка и т, д.) в процессе съемки, а также различия в свойствах фотопластинок, описываемый способ дает возможность производить спектральный анализ по раз построенным графикам и нс прибегать к систематической проверке эталонирования. Кроме того, по графикам, построенным в одной лаборатории, можно производить анализ аналогичного сплава в другой лаборатории, так как различия в свойствах фотопластинки учитываются известными методами. а различия в условиях возбуждения учитываются по описываемому методу. Предмет изобретения Способ спектрального количественного анализа, о т л и ч а ю щ и Й- ся тем, что, с целью исключения влияния изменений условия возбуждения в процессе анализа, в спектре в координатахЬ 5 =У(1 аС,тгде.Ь 5 =зА,тОписываемый способ спектрального количественного анализа отличается от известных тем, что в спектре сплава, подлежащего анализу, кроме линии анализируемого элемента, подбирают две максимально негомологичпые липин основного компонента сплава или коцтрэлектрода. В процессе съемки эталона умышленно варьируют условия возбуждения, добиваясь максимального разброса значений относительно интснсивности подобранных ранее двух негомологичных линий. Затем строят графики для нескольких значений эталона в координатахЬ,т т тит т ттл 11 "1 12где 5, 5 т, 5 т - значения почернения используемых линии;ТА, Т " - значения контрастности для тех же линий.Избрав среднее значениеот тсплава, подлежащего анализу, кроме линий анализируемого элемента, подбирают две максимально негомологичные линии основного компонента сплава или контрэлектрода, в процессе съемки эталона умышленно варьируют условия возбуждения, добиваясь максимального разброса значения относительно интенсивности подобранных ранее двух негомологичных линий, затем строят графики для нескольких значения эталона в координатах5 т 5 т 5 ти Ут т тА т 1 т 1 12 где 5 5 т и 5 т - значения по- чернения используемых линий;1 А, 11 и 12 - значения контрастности для тех же линий, и, избравт 51 52т т среднее значение Ь 5т т72 в координатах Ь 5=(дС),ЮА 51тгде Ь 5= , а С - кон"А 1центрация анализируемого элемента, строят график, пользуясь которым, по значению Ь 5 для анализируемого элемента в пробе находят его концентрацию.
СмотретьЗаявка
436613, 14.10.1950
Гольдман Л. С
МПК / Метки
МПК: G01J 3/40
Метки: анализа, количественного, спектрального
Опубликовано: 01.01.1951
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-91871-sposob-spektralnogo-kolichestvennogo-analiza.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ спектрального количественного анализа</a>
Способ определения концентрации химического элемента при атомно-абсорбционном анализе
Номер патента: 1838778
Опубликовано: 30.08.1993
Авторы: Гильмутдинов, Горбачев
МПК: G01N 21/74
Метки: анализе, атомно-абсорбционном, концентрации, химического, элемента
...следующим образом,Производится атомизация анализируемой пробы, образуемый при этом атомный пар просвечивается посредством источника света излучающего на характеристической длине волны, при этом измеряется величина абсорбционного сигнала, Производится измерение температуры излучающего слоя в просвечивающем источнике и температура поглощающего слоя атомов Т регистрируются (определяются) контур линии испускания(ж) и контур линии поглощения К(щ) . С использоваяием этих данных производится преобразование измеренной величины абсорбционности А (инструментальный параметр) в число поглощающих атомов й (физический параметр), создающих эту абсорбционность и затем построение градуировочного графика в новых переменных М = Р(С) причем...
Способ быстрого спектрального анализа широкополосных процессов
Номер патента: 1755211
Опубликовано: 15.08.1992
МПК: G01R 23/16
Метки: анализа, быстрого, процессов, спектрального, широкополосных
...ционзльная схема устройства, реализующая способ быстрого спектрального анализа широкополосных процессов,Устройство содержит четыре канала анализа 1, в каждый из которых входят последовательно соединенные входной фильтр 2, мультикоррелометр 3 на шесть значений мультикорреляционной функции, коммутатор 4, резисторный делитель 5, аналого-цифровой преобразователь (АЦП) 6, цифровой перемножитель 7 и накапливающий сумматор 8, выходы всех каналов соединены со входами блока потребления информации 9, в состав которого входит оперативно запоминающее устройство (ОЗУ) 10, а также блок управления 11, содержащий генератор тактовых импульсов 12, счетчик-делитель нэ шесть 13, два счетчика 14, 15, два ОЗУ 16, 17,Устройство работает следующим образом, С...
Устройство сбора информации для спектрального анализа квазипериодических процессов
Номер патента: 1805479
Опубликовано: 30.03.1993
МПК: G01R 33/02, G06F 15/36
Метки: анализа, информации, квазипериодических, процессов, сбора, спектрального
...в режим считывания. Ключ 7 замкнут и на первом и втором информационных входах присутствуют почти одинаковые сигналы (совпадение их по фазе обеспечивает формирователь 19 и счетчик 11). Поэтому коэф 5 10 15 20 25 30 35 фициент усиления входного устройства должен быть максимален. Счетчик 18 разблокируется и начинает считать импульсы, поступающие от формирователя 19, Это стимулирует перевод страниц блока 13, в котором накапливается двумерный массив, адреса одного измерения которого определяют разряды на выходе счетчика 11, а другого - на выходе счетчика 18, При накоплении нужного числа реализаций на вход "прерывание" ЭВМ 14 придет импульс "Конец кадра" (с одного из выходов счетчика 18, который определяет код, поступающий на управляющий...
Способ изготовления брикета из агломератной массы с угольным стержнем для сухого гальванического элемента и линия для его осуществления
Номер патента: 1835569
Опубликовано: 23.08.1993
Авторы: Акинин, Ковалев, Нестеров, Родин, Сафонов
МПК: H01M 4/10
Метки: агломератной, брикета, гальванического, линия, массы, стержнем, сухого, угольным, элемента
...друг с другом формируют брикет, размеры которого соответствуют заданным, Через приемный бункер 6 происходит пружинная цепь 13 с зажатыми между двумя Г-образными полукольцами 14 угольными стержнями 23. При отсутствии угольных стержней 23 срабатывает система контроля 11, которая представляет собой фотодатчик, который контролирует наличие зазоров или отсутствие угольных стержней и выдает команду на остановку подачи агломератной массы 20. Шаг полуцепи 13 равен вагу профилированных дисков 20 и 18. Формовка брикета происходит вокруг зажатого угольного стержня 23. При этом электрод 23 подвергается минимальным нагрузкам и более точной установке в брикете.Цепь состоит из двух полуцепей 13, на которых устанрвлены Г-образные полукольца 14 и которые...
Коррелятор для анализа случайных процессов с периодической нестационарностью
Номер патента: 292170
Опубликовано: 01.01.1971
Метки: анализа, коррелятор, нестационарностью, периодической, процессов, случайных
...Устройство 4 регулирования задержки, которое может быть выполнено как набор фазовращателей илп как линия задерж ки с отводами, задает последующие моментывремени 1=1, с заданным интервалом Лт в соответствии с количеством точек корреляционной функции. Импульсный модулятор 5 фиксирует значения второго процесса, которые по следовательно по мере их получения умножаются в перемножающем устройстве б на значение Х(1) и полученные произведения коммутатором 7 распределяются по соответствующим накопительным устройствам 8. Таким об разом, при прохождении одного периода нестаСоставитель В. И. ЖовннскнйРедактор Л, А. Утехина Техред А. А, Камышникова Корректор О. С, Зайцева Изд, ЛЪ 166 Заказ 329/7 Тираж 473 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам...
Предыдущий патент: 91870
Следующий патент: Колориметр для люминесцентного анализа
Случайный патент: Печь для химико-термической обработки изделий