Способ определения микротвердости полимерных материалов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
2) Авторь 54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МИК МАТобре пленки, регистрируют образовавши печатки, строят зависимость толщины пленки от отпечатка, экстраполирует ее для определения отпечатка при нулевом значении толщины пленки, по которому судят о микротвердости 21Недостатком этого способа является значительная трудоемкость, определяемая. многократным нанесением слоев;Цель изобретения - снижение трудоем- сти ся ко я Поставленная что согласно спо с толщиной, изм кону, а индентор вдоль направленияо ному зау по им обалов,носСпособ осуществляется слезом.На поверхннаносят ме о ость полимерного маталлическую пленку ины ние относитя к измерению териалов, в частности к еделения микротвердоститериалов.способ определения микроерных материалов, зав том, что на поверхносттериала наносят пленку, ндентор при заданной нагр твердости полимерного ма о в ичине об азовавшего твердости маспособам опрполимерных маИзвестентвердости полямключакацийсяполимерного мавдавливают ике, а о микрориала судят п ел РотпечаткаЦНедостатком этого способа являетlнизкая точность .определения мнкртвердости, так как не учитывается иность, вносимая пленкой.Наиболее близким к предлагаемомтехнической сущности и достигаемомуаффекту является способ определениямикротвердости полимерных материзаключаюшнйся в том, что на поверхматериала наносят пленку, многократвдавливают индентор при заданной .нагрузке на участках различной толщ ВЕРДОСТИ ПОЛИМЕРНЫЛОВ цель достигаетсясобу используютеняемой по заданвдавливают в точкахизменения толщи3 М 12 няемой в соответствии с наперед заданным, например, линейным законом толщи ной по поверхности.Получение пленок, толщины которых изменяются вдоль одного иэ направленой, в поверхности материала по линейному закону, так называемых клинообразных пленок, повышает точность контроля тол шины пленки, а следовательно, и микро" твердости. Достаточно измерения толщины 10 в двух точках с известными координатами, чтобы знать толщину слоя в любой точке заданного направления. Поэтому измерения геометрических параметров слоя проводят в области с большой толщиной, а, сне 13 .довательно, и с меньшей относительнойпогрешностью, По полученным измерениям определяют участок пленки с островковой структурой (участок с толщиной, изменяющейся в пределах 3-20 нм)1 кото 20 рый подвергают вдавливанием индентора. Получают зависимость толщины пленки от отпечатка. Зкстраполнруют ее, определяя размер отпечатка при нулевом значении толщины, по которому с помощью таблиц 25 оценивают микротвердость. 3.1 4Формула изобретенияСпособ определения микротвердостиполимерных материалов, заключающийсяв том, что на поверхность материала наносят пленку, многократно вдавливаютиндентор при заданной нагрузке на участках различной толщины пленки, регистрируют образовавшиеся отпечатки, строятзависимость толщины пленки от отпечатка, экстраполируют ее для определенияотпечатка при нулевом значении толщиныпленки, по которому судят о микротвердости, отличающийся тем, что,с целью снижения трудоемкости, исполь-зуют пленку с толщиной, изменяемой позаданному закону, а индентар вдавливаютв точках вдоль направления изменениятолщины пленки.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Хрущов М.М. Методы испытанияна микротвердость. МНауками, 1965,с. 255,2. Авторское свидетельство СССРМ 634173, кл. Ь 01 М 3/42, 1978.прототип),Составитель Е, МихайловИ,Г у М.Ш, Заказ 1104/25 Тираж 883 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР,по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж 35 Раушская наб., д, 4/5 Фтц 1 няп ППП "Патентф, г. Ужгород, ул. Проектная, 4
СмотретьЗаявка
2926923, 20.05.1980
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Г-4598
СЫСОЕВ ВЛАДИМИР СЕРГЕЕВИЧ, СМОЛИН ВАЛЕНТИН КОНСТАНТИНОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 3/42
Метки: микротвердости, полимерных
Опубликовано: 07.03.1982
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-911211-sposob-opredeleniya-mikrotverdosti-polimernykh-materialov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения микротвердости полимерных материалов</a>
Способ определения толщины тонких пленок
Номер патента: 279975
Опубликовано: 01.01.1970
МПК: G01B 11/06
Метки: пленок, толщины, тонких
...толщины тонкой пленки в любом заранее выбранном месте по пластине.Сущность описываемого способа состоит в 15 том, что в качестве индентора используют алмазный наконечник в виде пирамиды с ромбическим основанием и углами при вершине от 120 до 180 в плоскости большой диагонали и от 110 до 160 в плоскости малой диагонали, 20 с помощью микроскопа определяют разность длин больших диагоналей отпечатка на переходе пленка - подложка и на поверхности пленки, а затем вычисляют толщину пленки по известному уравнению 25/г = (Д 2 Д 1)где Дг - длина большей диагонали ромба на переходе пленка - подложка;Дс - длина большей диагонали ромба на поверхности пленки; 30 коэффициент, зависящий ри вершине пирамиды в иагонали.соб поясняется чертежом, ают...
Способ измерения толщины тонких пленок на подложках
Номер патента: 684299
Опубликовано: 05.09.1979
Авторы: Конев, Любецкий, Пунько
МПК: G01B 11/06
Метки: пленок, подложках, толщины, тонких
...индекс. Кроме того, установка содержит анализатор 7, приемник 8 излучения, усилитель 9 и синхродетектор 10. Эллиптичность определяется по индикатору 11.Способ осуществляется следующим образом.Излучение от генератора 1 проходит фокусируюшую линзу 2, модулятор 3, врашатель 4 плоскости поляризации, анализатор 5 и под р попадает на контрольную подложку 6 с пленкой. Отраженное деполяризованное излучение, пройдя через анализатор 7 попадает на приемник 8, сигнал с которого усиливается усилителем 9 и детектируется на синхродетекторе 10.Эллиптичность определяется по настройке индикатора 11 по минимуму показаний детектора путем вращения анализатора 7, это соответствует измерению величины малой оси эллипса поляризации, при этом по лимбу...
Способ измерения толщины жидкой пленки на стенках прозрачного трубопровода
Номер патента: 715931
Опубликовано: 15.02.1980
Автор: Душкин
МПК: G01B 11/06
Метки: жидкой, пленки, прозрачного, стенках, толщины, трубопровода
...течет жидкость, прикладывают призму с цилиндрической гранью, облучаютее световым пучком, измеряют сдвиг границыполного внутреннего отражения о г поверхиоси:пленки и по величине этого сдвига определяют толщину жидкой пленки.На чертеже показано устройство для реализации описанного способа.На цилиндрический канал 1 с текущей жидкой пленкой,2 наложена без зазоров и высту. пов измерительнаяпризма 3 с цилиндрической гранью. Устройство включаег в себя объ. ектив 4, щелевую диафрагму 5, входную лин. зу 6, фотоэлектрический приемник 7 излуче. ния, объектив 8, щелевую диафрагму 9 и источник 10 света.Устройство работает сНа входную грань прис помощью объектива 8акаэ 9511/3Подписное ЦНИИПИ раж 801 3 7 освещаемой источником 10, На выходной грани...
Устройство для контроля толщины тонких пленок, наносимых на подложку
Номер патента: 1026004
Опубликовано: 30.06.1983
Авторы: Гайнутдинов, Исхаков, Фазылзянов
МПК: G01B 11/06
Метки: наносимых, пленок, подложку, толщины, тонких
...устройство обеспе.чивает повышенную точность 21 .Однако известное устройство непозволяет вести контроль толщины покоэффициенту отражения подложек,таккак при вращении карусели происходитизменение положения рабочих подложек.относительно источника излучения ифотоприемника как по высоте, так ипо углу наклона. Вследствие длинногооятического пути контрольного лучаот источника излучения до фотоприемника (порядка 1,5-2 м) даже незначительные смещения подложек вызываютполную разъюстировку системы контролятолщины. По этой причине невозможновести контроль толщины тонких пленокнепосредственно по рабочим подложкамв отраженном свете. Недостатком уст-,ройства являются также жесткие требования к самим рабочим подложкам, которые должны представлять собой...
Способ измерения толщины тонких пленок, нанесенных на подложку
Номер патента: 1280311
Опубликовано: 30.12.1986
Автор: Альперович
МПК: G01B 11/06
Метки: нанесенных, пленок, подложку, толщины, тонких
...Результатвзаимодействия лучей, отраженных отформула из обр ет енияверхней и нижней поверхностей пленки 4 О1, регистрируется устройством 6. При;измерении изменяют длину волны интерферирующих лучей и фиксируют зна,чения длин волн, соответствующиедвум соседним максимумам или минимуВыполнение пластинки клиновидной 35 дает возможность исключиь ияниена результат измерений засветки, вызываемой отражением от верхней поверхности. Способ измерения толщины тонкихпленок, нанесенных на подложку, за"ключающийся в том, что освещаютконтролируемую пленку пучком инфра 45 красного излучения, наблюдают интер" Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины пленок,прозрачных в инфракрасной...
Предыдущий патент: Способ определения механических характеристик пористых материалов
Следующий патент: Узел нагружения фрикционного сопряжения машины трения
Случайный патент: Способ получения хлорида калия