Способ неразрушающего контроля поверхности твердых тел

ОПИСАНИЕИЗЬБРЕТЕН ИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз СоветсккхСоцмалмстическихРеспублик1894565 61) Дополнительное к авт. свид-ву -Гооударотвеииый комитет Опубликовано 30.12.81. Бюллетень4 Дата опубликования описания 05.01.82 ио делам изобретеиий и открытий(53) УДК 543,42 .27 (088,8) 2) Авто Р. Халилов, Н. Ф.Я, Н. Хамидуллин Бук изооретен и есоюзный научно-исследовательский ин нефтепромысловой геофизики 1 Заявитель 54) СПОСОБ НЕРАЗРУШАЮЩЕГО КОНТРОЛЯ ПОВЕРХНОСТИ ТВЕРДЫХ ТЕЛИзобр химии, а щего кон и может чества п искусстве жна этом оценка качества поверхности проводиться без разрушения образ ескои ся к аналитич собам неразрушаюости твердых тел, ано для оценки катических стекол и оситспо ерхн ьзов оп тение отн именно к троля пов ыть испол верхности ных алма Известен способроля поверхностищий нанесение нара - раствора люостатка, не заполнмощью дитолилметаность проявителяАсканит) и визуафектов 1. щего контвключаю- индикатоаление его кты, с нона поверхной глины трацию денеразрушаютвердых тел, поверхностьминофора, уд ившего дефена, нанесение(активирован льную регис ов Однако изтелен и харательностью.Наиболее блтехнической сузультату являетконтроля поверчающий нанесениндикатораудаление индика20 ностью образцаиндикатора изи визуальнуюналичию индика ожен, длий чувствии способуется низ вести ктери изким к предл щности и дости ся способ нера хности твердых ие на поверхно люми несцентног тора, создание вакуума для в дефектов на регистрацию д тора на поверОценка качества поверхности твердых тел, особенно различных монокристаллов, применяемых в оптической спектроскопии (линзы, призмы), имеет большое значение, так как именно от наличия или отсутствия на поверхности дефектов (трещин, царапин) зависит разрешающая способность оптических приборов. Оценка наличия поверхностных дефектов важна в отношении искусственных алмазов, применяемых в инструментальной технике для изготовления различного режущего инструмента (резцы, буровые коронки и т. д.). Известно, что прочность различных кристаллических веществ во многом определяется поверхностными дефектами, наличие которых уменьшает прочность в десятки и сотни раз. Поэтому оценка качества поверхности алмазов, наличия дефектов на их поверхности приобретает очень важное значение, при агаемому по гаемому резрушающеготел, вклюсть образца о вещества над поверхыталкивания поверхность ефектов х ности 2894565 Формула изобретения Составитель Т. Жукова Редактор И.Михеева Техред А. Бойкас Корректор Г. Огар Заказ476/71 Тираж 910 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5 Филиал ППП Патент, г, Ужгород, ул. Проектная, 43Однако известный способ характеризуется низкой чувствительностью и отсутствиемколичественной оценки дефектов.Цель изобретения - повышение чувствительности определения,Поставленная цель достигается тем, что 5согласно способу неразрушающего контроля поверхности твердых тел, включающемунанесение индикатора на поверхность твердого тела, удаление его с поверхности ипоследующую регистрацию поверхностныхдефектов, в качестве индикатора используют стабильные нитроксильные радикалы,а регистрацию осуществляют методом электронного парамагнитного резонанса.Стабильные нитроксильные радикалы(например, 2, 2, 3, 5, 5-пентаметил-фенил - индазолин - 1 - оксил, 2,2,5,5 - тетраметил-фенил-имидазолин-оксид- оксил, 2,2,6,6 - тетраметил - 4 - оксопиперидин - 1 - оксил) обладают широким интервалом плавления (от жидких при комнатнойтемпературе до температуры плавления100 С и более), что позволяет использоватьих при различных температурах. Стабильныенитроксильйве радикалы растворимы в органических и неорганических растворителях,что позволяет смывать их с поверхности изделий из любых материалов. Малые размеры молекул стабильных нитроксильных радикалов позволяют проникать этим индикаторам в очень малые полости дефектов, при этом регистрация этих индикаторов происходит непосредственно в полости дефектов. Наличие у стабильных нитроксильных радикалов неспаренного электрона позволяет регистрировать их методом ЭПР в количестве 10 и г-моль.Пример. Исследуемый образец кристалла хлористого натрия помещают в жидкий стабильный нитроксильный радикал 2,2,6,6- тетраметил-оксопиперидин-оксил, выдерживают в течение 1 мин и отмывают хлороформом. Отмытые кристаллы помещают в резонатор ЭПР-спектрометрг и количественно определяют наличие дефектов на поверхности.Таким образом, предлагаемый способ не- разрушающего контроля поверхности твердых тел позволяет количественно оценивать наличие дефектов на поверхности с высокой чувствительностью (10" г-моль). Способ неразрушающего контроля поверхности твердых тел, включающий нанесение индикатора на поверхность твердоготела, удаление его с поверхности и последующую регистрацию поверхностных дефектов, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности определения,в качестве индикатора используют стабильные нитроксильные радикалы, а регистрацию осуществляют методом электронногопарамагнитного резонанса.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Авторское свидетельство СССР196423, кл. б 01 Х 21/16, 1967.2. Авторское свидетельство СССР398863, кл. б 01 М 21/32, 1973.