Способ измерения поверхностного заряда диэлектриков

ZIP архив

Текст

Союз СоветсиниСоциалистичесиииРеспублик ОП ИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(23) Приоритет(51)М. Кл,С 01 В 29/12 Гаеударстваииый кеиитет СССР ио делаи изееретеиий и открытийДата опубликования описания 30.11.81 Ю,П.Топоров, В.И.Анисимова, В.А.Клюев, Т.Н Б.В.Дерягин и П.Е.Михайлов(72) Авторы изобретения Ордена Трудового Красного Знамени институт физической химии АН СССР 6 ИЕ"(54) СПОСОБ ИЗИЕРЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНОГО ЗАРЯДА ДИЗЛЕКТРИКОВ 3Изобретение относится к радиоизмерительиой технике.Известен способ измерения поверхностного заряда диэлектриков путем измерения параметров излучения с поверхности заряженного диэлектрика 1 фОднако известный способ не обеспечивает высокой точности измерения.Цель изобретения - повышение точности.Для достижения указанной цели в способе измерения поверхностного заряда диэлектриков путем измерения параметров излучения с поверхности заряженного диэлектрика диэлектрик1 помещают в вакуум и измеряют энергию электронов, эмитируемых поверхностью заряженного диэлектрика, по величине которой определяют плотность поверхностного заряда.Способ измерения основан на том, что поверхности диэлектриков, несущие избыточный электрический заряд боль" ший, чем 1 О ССРЕ/см (310 ВКл/см ),при нахождении их в вакууме выше10 мм рт.ст . эмитируют поток электронов., При этом энергия 0 электронов,эмиттируемых заряженной поверхностьюобразца ограниченного размера, имеющего толщину т и диэлектрическую проницаемость (. ,определяется формулой ебо с сод Ьгде б - плотность поверхностного электрического заряда;ст - 8,85 ф 10Кл/Всм - электрическая постоянная;е - заряд электрона;д - расстояние от поверхностизаряженного диэлектрика довходной диафрагмы анализа.Способ реализуется следующим образом.Измерения проводятся а вакууме 10 -10 мм рт,ст. На некотором удалении от поверхности заряженного ди.Составитель А. КузнецовТехред Т.Наточка Корректор Г. Решетник Редактор Л. Горбунова Заказ 10537/67 Тираж 735 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, 1-35, Раушская наб., д. 4/5 филиал ППП "Патент",г. Ужгород, ул. Проектная, 4 3 885928электрика помещают спектрометр элек- параметров излучения с поверхностиронов, например цилиндрический кон- заряженного диэлектрика, о т л иденсатор Вза-Рожанского. С помощью ч а ю щ и й с я тем, что, с цельюспектрометра определяют энергию О повышения точности, диэлектрик помеэлектронов,.эмитируемых участком щают в вакуум и измеряют энергиюповерхности заряженного диэлектрика, электронов, эмитируемых поверхностьюнаходящимся перед входным отверстием заряженного диэлектрика, по величинеспектрометра. По измеренной величине которой определяют плотность поверхО и известным и Я и д определяют ностного заряда.плотность поверхностного заряда10,Предлагаемый способ по сравнению Источники информации,с известным обеспечивает более высо- принятые во внимание при экспертизекую точность измерения,формула изобретения. 1. АвтоРское свидетельство СССРСйособ измерения поверхностного эа-М 248076, кл. 0,01 В 29/12, 1968ряда диэлектриков путем измерения(прототип),

Смотреть

Заявка

2788965, 04.07.1979

ОРДЕНА ТРУДОВОГО КРАСНОГО ЗНАМЕНИ ИНСТИТУТ ФИЗИЧЕСКОЙ ХИМИИ АН СССР

ТОПОРОВ ЮРИЙ ПАВЛОВИЧ, АНИСИМОВА ВАЛЕНТИНА ИВАНОВНА, КЛЮЕВ ВАЛЕРИЙ АНДРЕЕВИЧ, ВЛАДЫКИНА ТАТЬЯНА НИКОЛАЕВНА, ДЕРЯГИН БОРИС ВЛАДИМИРОВИЧ, МИХАЙЛОВ ПЕТР ЕВГЕНЬЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01R 29/12

Метки: диэлектриков, заряда, поверхностного

Опубликовано: 30.11.1981

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-885928-sposob-izmereniya-poverkhnostnogo-zaryada-diehlektrikov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения поверхностного заряда диэлектриков</a>

Похожие патенты