Способ определения дозы гелеобразования при фотохимическом сшивании полимерных пленок

ОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВ ТЕЛЬСТВУ Соеэ Советских Социалнстическнх Реслублнк(61 ) Дополнительное к авт, сеид-ву22) Заявлено 12.10. 78 (21) 2672988/25-2с присоединением заявки Нов(23) Приоритет 1)М. Кл. 01 й 1 осуяарственный комнтет СССР по ведам нзобретеннй н открытнйОпубликован Дата опублик 53) УДК А 66. 095..268(088.8) 30.09,81. Бюллетень М 3ванмяописаиия 30,09.81 2) Авторыизобретения Ю. И. Дорофе В.Е. Скурат рдена Ленина, институт химическо Физики АН СССР) Заявител СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДОЗЫ ГЕЛЕОБРАЗОВАН 1 ПРИ ФОТОХИМИЧЕСКОМ СШИВАНИИ ПОЛИМЕРНЫХПЛЕНОК Изобретение относится к технологии полимерных материалов и может быть использовано для оценки свойств полимеров при воздействии облучения.Известен способ определения дозы гелеобразования при фотохимическом сшивании полимерных пленок, заключающийся в облучении пленки, удЬлении несшитой части полимера растворителем и определении количества сшитого полимера, В этом способе дозу гелеобразования находят по графику зависимости массы сшитого полимера от дозы путем его экстраполяции к нулевой массе 11.Недостатком известного способа является сложность манипулирования с пленками малой толщины и, как следствие, невысокая точность определения количества сшитого полимера. 30 рощение тем, 25ора понойеэ подолимераски. ЭО Цель изобретения - уп повышение точности.Указанная цель достигаетс что пленку формируют из раст лимера на поверхности прозра подложки, облучение ведут че ложку, а количество сшитого определяют спектрофотометрич 2формирование пленки на подложке и последующее облучение ее через подложку приводит к тому, что при действии света в первую очередь сшивается слой полимера, примыкающий к подложке, который при обработке растворителем остается на подложке. Количество его легко может быть определено спектрофотометрически. Дозу гелеобразования при этом находят по графику зависимости оптической плотности пленки сшитого полимера от количества падающего на образец света путем экстраполяции к нулевой оптической плотности.П р и м е р. Формирование пленки полиэтилена на подложке из И 9 Г осуществляют следующим образом. В стеклянный стакан помещают пластину из И 9 Г, наливают ксилол (лф 10 мл) и вводят ."0,01 г полиэтилена. Про нагреве до 120 С полиэтилен раствооряется в ксилоле, после чего полученный раствор упаривают при 100 С до обнажения верхней плоскости подложки, что приводит к образованию пленки полиэтилена толщиной 10 А, Извлекают пластину из раствора, удаляют пленку полиэтилена с нижней стороны подложки ватой, смоченнойформула изобретения Составитель Н. ВохмянинТехред Т.Маточка Корректор А, Ференц Редактор Н. Безродная м а ь Заказ 8308/57 Тираж 9)О Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская каб д. 4/5филиал ППП "Патент", г, Ужгород, ул, Проектная,4 спиртом. Облучение проводят в вакууме 10 мм рт.ст. монохроматическим светом 147 ОА ксеноновой резонансной лампы КСРА известной интенсивности через подложку. Каждый образец облучают определенной дозой. Затем удаляют несшитую часть полимера в кипящем ксилоле (50 мл) в течение 2-5 мин. Количество сшитого полимера определяют по величине ъп" тической плотности с помощью вакуумного монохроматора ВИРна той же длине волны (1470 А). Дозу гелеобразования находят вышеупомянутым обра эом.Предлагаемым способом получены следующие дозы гелеобразования полимеров (в эВ на 1 г при Л = 1470 А) полиэтилен (2,3 + 0,4) .10 ф; полипропилен (1,10,1) . 10 ; полибутадиен (6,4 + 0,6) 10 эо; полииэопрен (2,3 + 0,2)101.Предлагаемый способ значительно упрощает манипулирование с тонкими полимерными пленками, позволяет использовать Фотометрический метод определения количества сшитого поли мера и обеспечивает высокую точностьопределения дозы гелеобразования приФотохимическом сшивании полимеров. Способ определения дозы гелеобразования при Фотохимическом сшивании полимерных пленок, заключакщийсяв облучении пленки, удалении несшитой части полимера растворителем и.определении количества сшитого полимера, о т л и ч а ю щ и й с я тем,что, с целью упрощения и повышенияточности, пленку Формируют иэ раст 15 вора полимера на поверхности прозрачной подложки, облучение ведут черезподложку, а количество сшитого полимера определяют спектроФотометрически,2 ОИсточники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Чарлзби А, Ядерные излученияи полимеры, М., Иэд-во "Иностраннаялитература", 1962, с. 202.