Способ измерения площади детали при гальваническом процессе

Номер патента: 859488

Авторы: Кудим, Сабашников, Соловьев

ZIP архив

Текст

(23) Приоритет Государственный комитет СССР ио дедам изобретений и открытийДата опубликования опнсанмя 30. 08. 81 Г.А. Соловьев, А.М Кудим и Л.Б. Сабашников.(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПЛОЩАДИ ДЕТАЛИ ПРИ ГАЛЬВАНИЧЕСКОМ ПРОЦЕССЕ з 1+ уДат- р/ Изобретение относится к гальванотехнике и может быть использовано для измерения площадей деталей,выполненных из электропроводных материалов при установлении и автоматическом регулировании средней плотности тока в гальванических ваннах.Известен способ установления и автоматического регулирования катодной плотности тока в гальванической ванне, заключающийся в том, что предварительно снимают кривую зави- симости между эталонными поверхностями катодов и соответствующими токами при постоянном измерительном напря-15 женин, а затем по ней определяют величину поверхности загруженных катодов 13Однако известный способ характеризуется значительной погрешностью 20 в определении площади загруженных катодов.Наиболее близким к предлагаемому является способ измерения площади детали при гальваническом процессе,: . 2 заключающийся в том, что устанавли-: вают измеряемую деталь совместно с вспомогательнюю электродом известной площади и электролитическую ванну, подключают главный электрод ванны к ЗО одному полюсу источника питания, из-. меряемой детали и вспомогательный электрод - к другому полюсу, измеряют плотность тока на поверхностях вспомогательного электрода и измеряемой детали, измеряют ток ванны и определяют коэффициент конфигурации детали Г 21Недостатком способа является низкая точность измерения площади детали, .вызываемая наличием падения напряжения на участке измеряемая деталь-клевама источника питания,Цель изобретения - повышение точности измерений и качества покрытия.Поставленная цель достигается тем, что измеряют напряжения между клеквмами источника питания электродитической ванны и между одной из клемм источника питания и измеряемой деталью, а величину площади детали определяют из выражеНия где ЭЕ - общий ток ванны, А;Р З - плотность тока- на поверх-.ИЗности вспомогательногоэлектрода, А/см859488 в(" о,иа 35 формула изобретения Составитель Ю. Петраковскийктор К. Лембак Техред И. Асталош . Корректор Швыдка Тираж 704 , Иодпи ВНИИПИ Государственного комитета ССС по делам изобретений и открытий. 13035, Москва, Ж, Раушская наб.,:д.Заказ 748 Патент" Ужгород, ул. Проектная,4 илиал П К - коэффициент конфигурациидетали;0 - напряжение между источ. кником питания и измеряемой деталью, В;О - напряжение между клеммамиисточника питания ванны,В.На чертеже изображена схема, поясняющая реализацию предлагаемого способа.Способ осуществляется следующим образом.ОИзмеряемую деталь 1 совместно с вспомогательным электродом 2 устанавливают в электролитическую .ванну 3. Главный электрод 4 ванны подключают к клеююе 5 мсточника 6 питания, а из меряемую деталь 1 совместно с вспомогательным электродом 2 - к клемме 7. Далее измеряют плотности токов иа поверхностях детали 1 и вспомогательного электрода 2, определяют 20 по иим коэффициент конфигурации детали К, измеряют напряжения междуклеммами 5 и 7 источника питания 08 и между клеичой 7 и деталью 1 О,.Определяют площадь детали из выражения" Оьризгде. Ра - плотность тока на поверхности вспомогательного ЗОэлектрода.Благодаря использованию предлагаемого способа повышается качество нанесения покрытий. Способ измерения площади деталиври гальваническом процессе, заключающийся в том, что устанавливаютизмеряемую деталь совместно с вспо"могательным электродом известной пло-.щади в электролитическую ванну, подключают главный электрод ванны кодному полюсу источника питания,измеряемой детали и вспомогательныйэлектрод - к другому полюсу, измеряютплотность тока на поверхностях вспомогательного электрода и измеряемойдетали, измеряют ток ванны и определяют коэффициент конфигурации детали,о т. л и ч а ю щ и й с я тем, что,с целью повышения точности измеренияи качества покрытия, измеряют напряжения между клеммами источника питания электролитической ванны и междуодной из клемм источника питания иизмеряемой деталью, а величину площади детали определяют из выражения где 3 - общий ток ванны, А;Р - плотность тока на поверхианости вспомогательного электрода, А/см;К - коэффициент конфигурации.детали;ОК - напряжение между источникомпитания и измеряемой деталью, В;О - напряжение между клеьюамиЭисточника питания ванны, В,Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1,. Авторское свидетельство СССР9 194511, клС 25 О 21/12, 1965.2. Авторское свидетельство СССРР 647363, кл, С 25 О 21/12, 1978

Смотреть

Заявка

2848428, 07.12.1979

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Г-4205

СОЛОВЬЕВ ГЕНРИХ АЛЕКСАНДРОВИЧ, КУДИМ АНАТОЛИЙ МИХАЙЛОВИЧ, САБАШНИКОВ ЛЕВ БОРИСОВИЧ

МПК / Метки

МПК: C25D 21/12

Метки: гальваническом, детали, площади, процессе

Опубликовано: 30.08.1981

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-859488-sposob-izmereniya-ploshhadi-detali-pri-galvanicheskom-processe.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения площади детали при гальваническом процессе</a>

Похожие патенты