Рефрактометр для определения коэффициента преломления жидких и сыпучих веществ
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 85530
Автор: Егоров
Текст
г 1000 РЕДЕЛ ЕИБЯ ЕОЗФФИЦИЕБТ,)ъ 1, СО ПУЦИ ВЕЩКЩЯ 9 г, Б,) 395572 ь Гостехиику СССР Гвлепо 18 апреля Я ОИРС;ЕЛСИ 51 КО 035 ЕЩЕНПЫХ В ПРО 1)сд)е с.)1 и.)об)с с 1351 5 П)гЯс) с 51 3)сЯттохет) ДлЭффИЦ 3 ЕИ 12 П)ЕЛОЪ 1 )ЕИИ 51 )КИДКИХ И СЫ 1 УЧИХ РЕЩЕСТВ, ПЗ)ЯЧИО 1 КГОБГТЕзвссты рефраето)Гт)ы дл 5 Орсдсления покязятсл 51 преломлеГп я )иСкосте, Залтх в оптические прозрачные сосуды,ОпсЯ)и Гъ)., 3)СГ)3)анто.,ет 1) От;1:3 асГ 5 Г)1, что Б нс) 311)1 мене 1 ы Г)я 3 ир;Бя ни ы поисрхнОсти )язде)я жидкос 1 и и тВердОГО тела 1 кю)СТ.1 И Дги :.3)ГДГЛС:353 СТСПЕНИ ОС;1 ЯОГ 1 СН:1 Я ПРОНГДШЕО )Е)ЕЗ ОБЕ)Х ТГ 3)2. Д) ЛЯ) СБС) 2 3)ОТО )ГТ)Ы, ВСЛС,СТБИЕ ЭТОГО УПРОНЯЕТСЯ КОНСТ)У)" 1 НЯ п)ибора, цвел:ИИБ;: тс 51 тОчнОсть 031)еде:епия коэф)ипСита поелсмлс 351 и с) иОБ г ся Бо: можным определение коэффициента прелом)СИ ц И 3 )Л 1 ГЙГЯ Ж 1 Д КОИ1 2 чс)те)кс 3 зОь)ак."Иа схема ОпГ 3)Бас 010 11)с 1)1)2 ктоС 1)а;гЯ Оп;) Г;Л Г5 К 0 Э) 13 3) Г 3, И Р Л 0 3 Л ) 313 53 "1.) Д 3) 3 Х1 С 11 и У 1 3 Х и Е НЕСТ ,В п)зрачпой к,оветс1)асио;0)Гены стек;Гя ) с мятирОВянными по)ерхосг 5 м, накрыыс диафрагмами которые пропускают свет в ис- СЛСЛУСМ О ЖГДКОСТ 1 И 33 ГНУСЯЮТ .ГО 1 ОСЛС Г/РОХОЖДЕНИЯ КЮВЕТЫ В ВИ;с 33 ОавлспПх ) зкх пучкОВ, 32 кювсО.)2 сполягяется фотоэлектрцес 1 Й фогОмстр -:. Бст От лампочк;3 5 1 апр 1 зг 5 ется ня 3 сследуемый образец, по:Гшаемый в кювете 1, через диафрагму 6 и свето- ОПГИ)ТР 7). Г БЕТ НПОНГ)ХНОСТИ ) ЯЗДСГ Я М ТОВО ПОБСХПОСТ 3 С ЕКЛЯ И 3 ссгГд,смого образца переходит из оцной средь: в другую под разными 33)12 м 1 33)ГлохгГНИ 51, 313)01 схОдт д 31)3)УзОГ 3)ас ГНБЯИ 3 в СБГта, кОт 0310 е бдст т боли 1 е) чем ООЛ 1 шс Оудст 0"гошепс показателей прелоыле- НГ 5 1)2 и)3)овя и нОЙ иове) хност стокл 2 и исс.)Гдус:011 жидкости, Осл 20- ЛСНП)Й РСф)КНИГП 13)51 П)ОХОЖДЕН 33 цГГ)ГЗ КЮВЕТ) ИЯПРЯВЛЕНЫ 1 СВЕТО- вой п,чок измеряется фотомстром 4,М 85530 Предмет и зоб ретени я 1. Рефрактометр для определения коэффициента преломления жидких и сыпучих веществ, помещенных в прозрачной кювете, отличающ и й с я тем, что, с целью определения коэффициента преломления по степени диффузного рассеивания направленного пучка света на поверхностях раздела испытуемого вещества и сосуда, кювета выполнена с плоско-параллельными матированными изнутри стенками, а за кюветой располохкен фотоэлектрнческии фотомет 1 э.2. Форма выполнения рсфрактометра по п. 1, отличаюша я ся тем, что, с целью повышения степени диффузного рассеивания света, в кювете укреплены параллельно стенкам пластинки с матированными поверхностями. Комитет по делам изооретений и открытий при Совете Министров СС анскии Редакто информационно-издательский отд Объем 0,17 п. л. Заказ 50 еч, 22/УП 1-1960 г. Цена 25 коп. Подп. аж 250.Гор, Алатырь, типография М 2 Ъ 1 пнистерства культуры Чувашской АС
СмотретьЗаявка
395572, 18.04.1949
Егоров А. С
МПК / Метки
МПК: G01N 1/28, G01N 21/41
Метки: веществ, жидких, коэффициента, преломления, рефрактометр, сыпучих
Опубликовано: 01.01.1950
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-85530-refraktometr-dlya-opredeleniya-koehfficienta-prelomleniya-zhidkikh-i-sypuchikh-veshhestv.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Рефрактометр для определения коэффициента преломления жидких и сыпучих веществ</a>
Способ определения коэффициента преломления среды
Номер патента: 554485
Опубликовано: 15.04.1977
Авторы: Богаткин, Другов, Лобов, Штыков
МПК: G01N 21/46
Метки: коэффициента, преломления, среды
...длинах волн вблизи 10,6 мкм. Выделение разиостных частот можно осуществить при помощи распределенных систем с электрооптическими кристаллами или точечных детекторов со структурой металл - диэлектрик - металл.Схема установки с использованием в качестве источника излучения СО-лазера и преобразователей на электрооптических кристаллах из арсенида галлия СаАз представлена на фиг, 2,В установке используют СО,-лазер 10, работающий в режиме одновременной генерации нескольких частот. Этот лазер работает в импульсном режиме, хотя можно использовать и режим непрерывной генерации. Его питание осуществляется от импульсного блока питания 11. Излучение лазера 10 делится на два луча пластинкой 12 из кристалла кремния. Один из лучей используется для...
402762
Номер патента: 402762
Опубликовано: 01.01.1973
МПК: G01K 11/12
Метки: 402762
...боковую грань (светопоглощающее покрытие) 4 термочувствительногоэлемента, источник 5 белого света.На чертеже также показан ход световыхлучей в кювете. Луч 6 беспрепятственно проходит сквозь кювету, луч 7 испытывает полное внутреннее отражение внутри стеклонити, луч 8 испытывает полное внутреннее отражение в слое жидкости, заключенном между двумя слоями стеклонитей.Стеклонити 3 и жидкость (полимер) 2 выбирают с близкими показателями преломления в диапазоне измеряемых температур.Устройство работает следующим образом.,При освещении кювегы 1 белым светом огисточника 6 света свет, для длины волны которого показатели преломления стеклонитей3 и жидкости 2 совпадают (кривые дисперсиистекла и жидкости пересекаются в точке, соответствующей...
Способ определения коэффициента поглощения твердых слабопоглощающих слаборассеивающих материалов с малой диффузной составляющей коэффициента отражения
Номер патента: 1286966
Опубликовано: 30.01.1987
Авторы: Моисеев, Петров, Степанов
МПК: G01N 21/59
Метки: диффузной, коэффициента, малой, отражения, поглощения, слабопоглощающих, слаборассеивающих, составляющей, твердых
...сферы5, с приемником 12 излучения служит 35для определения пропускательной способности образца. Узкополосный усилитель 13 и цифровой прибор 14 служат для измерения и регистрации сигналов с приемников 8 и 12.40Способ осуществляют следующим образом,Через входное отверстие первой интегрирующей сферы 5 на установлен ный в ее центре эталон 7 с коэффициентом отражения К , направляют излучение так, чтобы отраженный луч попадал на стенку сферы; Измеряют сигнал А 4, пропорпиональный энергии, отраженной от эталона. Эталон выводят из зоны действия луча. На место эталона под малым углом к лучу вводят образец 6 так, чтобы зеркально отраженное излучение попадало на стен 55 ку сферы. Измеряют сигнал А, пропорциональный освещенности в первой сфере...
Устройство для исследования температурных полей
Номер патента: 750294
Опубликовано: 23.07.1980
МПК: G01K 11/12
Метки: исследования, полей, температурных
...7 диафрагмы б.Конденсорная линза 8 предназначена для преобразования луча 17 в параллельный . пучок света 18, направленный на термочувствительный элемент 9, установленный, например, в среде, термпературное поле которой подлежит исследованию.Термочувствительный элемент 9 выполнен на основе оптически неоднородной смеси веществ с близкими в рабочем температурном диапазоне устройства показателями преломления и различными температурными коэффициентами показателей преломления, и селективно пропускает свет. При этом отдельные ецио участки, в зависимости от их температуры, пропускают ту либо иную спектральную составляющуюф о(о) . Остальные спектральные составляющие рассеиваются термочувствительным элементом под разными углами.Конденсорная...
Устройство для исследования температурных полей
Номер патента: 750295
Опубликовано: 23.07.1980
МПК: G01K 11/12
Метки: исследования, полей, температурных
...сигнала, несущего информацию о температурном поле термочувствительного элемента 3, повторяющего температурный рельЕФ исследуемого объекта либо среды от света, рассеянного термочувствительным элементом 3.Поскольку свет с длиной волны Л проходит сквозь элемент 3, не изменив первоначального направления, и распространяется в виде параллельного пучка вдоль оптической оси устройства, то он фокусируется линзой 4 на пересечении фокальной плоскости и оптической оси, т.е. в месте расположения входного отверстия диафрагмы б. Таким образом свет с длиной волны Лс, проходит сквозь диафрагму б.Свет, рассеянный термочувствительным элементом 3(л Ф я ) , отклоняется от первоначального направления, фокусируется линзой 4 в.иных55 точках фокальной...
Предыдущий патент: Оптическое устройство для съемки я проекции стереоскопических изображений
Следующий патент: Тахеометр
Случайный патент: Устройство для измерения нестацио-нарных температур