Способ определения деформаций наповерхности изделия

Номер патента: 847023

Авторы: Авдеев, Киселев, Майоров

ZIP архив

Текст

(и)847023 Сфез Советских Социалистических Республнк(23) ПриоритетОпубликовано 15081, Бюллетень Йй 26Дата опубликования описания 150 281 51)М. К . 6 01 В 11/16 ГвсударстаеииыЯ камктетСССР ив делам изобретений н еткрытиЯ(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ НА ПОВЕРХНОСТИ ИЗДЕЛИЯ Изобретение относится к определениям деформаций твердых тел.Известен способ определения деформаций на поверхности изделия,эаключакхцийся в том, что на поверхность иэделия наносят эталонную светоконтрастную сетку, нагружают изделие, деформированную сетку фотографируют через эталонную сетку и по муаровой картине полос определяют деформации 11 .Недостатком известного способа является низкая точность определения деформаций, вызванная низкой разрешающей способностью фоточувствительного материала.Наиболее близким к изобретению является способ определения деформаций на поверхности изделия, заключающийся в том, что на поверхность иэделия наносят светоконтрастную сетку, нагружают изделие, деформированную сетку анализируют путем многострочного сканирования, полученный сигнал вместе с параметрами сканирования вводят в ЭВМ и определяют деформации на поверхности изделия 2 .Недостатком этого способа является низкая точность определения деформаций, вызванная низкой разрешающей способностью светоприемника, по которому производится многострочное сканирование.Цель изобретения в .повышение точности определения деформаций на поверхности изделия.Для этого по поверхности деформированной сетки сканируют сфокусиро 1 О ванным лучом света, а отраженный отповерхности сетки луч регистрируютс помощью сосредоточенного светоприемника.На чертеже показана блок-схемаустройства для реализации способа.15 Устройство содержит осветитель 1,фокусирующий объектив 2, блок 3 сканирования, иэделие 4, светоконтрастную .сетку 5, приемный объектив 6, сосредоточенный светоприемник 7, и ЭВМ20 8, первый вход которой соединен свыходом блока сканирования 3, а второй вход - с выходом светоприемника 7.Способ осуществляется следующимобразом,Луч осветителя 1 фокусируетсяобъективом 2 и отклоняется в двухвзаимно перпендикулярных направлениях блоком 3 сканирования по деформиЗО рованной сетке 5 на поверхности из847023 Формула изобретения Составитель Б.Евстратов дактор Т.Парфенова Техред Ж. Кастелевич Корректор М. Шароши, Подписное э 546 642нного комитета Стений и открытий35, Раушская наб 61 ТиражНИИПИ Государстпо делам изоб13035, Москва,д, 4/ лкал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4 делия 4. Отражаясь от поверхности изделия 4, луч через объектив 6 попадает на сосредоточенный светоприемник 7. Затем сигнал со светоприемника 7 поступает на вход ЭВМ 8, В ЭВМ 8 сигнал обрабатывается по заданной программе с учетом параметров сканирования и определяется деформация.Таким образом, применение многострочного сканирования светоприемника позволяет значительно повысить точность измерения деформаций, так как устранены погрешности, вызванные величиной измеряемой деформации и размером контролируемой поверхности изделия. Способ определения деформаций наповерхности изделия, заключакшийся в том, что на поверхность изделия наносят светоконтрастную сетку, нагружают изделие, деформированную сетку,анализируют путем многострочного сканирования, полученный сигнал вместес параметрами сканирования вводят вЭВМ, и определяют деформации на поверхности иэделия, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью повышения точности определения, по поверхности деформированной .сетки сканируют сфокусированным лучом света, аотраженный от поверхности сетки лучрегистрируют с помощью сосредоточенного,светоприемника. 15 Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Авторское свидетельство СССРВ 439695, кл. 6 01 В 11/16, 1977.2. Авторское свидетельство СССРщ 9 518620, кл. 6 01 В 11/16, 1978

Смотреть

Заявка

2835133, 23.10.1979

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ В-2015

АВДЕЕВ ВИКТОР ПЕТРОВИЧ, МАЙОРОВ ИГОРЬ СТЕПАНОВИЧ, КИСЕЛЕВ НИКОЛАЙ ИВАНОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, изделия, наповерхности

Опубликовано: 15.07.1981

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-847023-sposob-opredeleniya-deformacijj-napoverkhnosti-izdeliya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения деформаций наповерхности изделия</a>

Похожие патенты