Способ определения параметровдефектов

ZIP архив

Текст

п 11828028 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Оввз Советских Социалистических Республик(45) Дата опубликования описания 07.05.81(51) М. Кл6 011 Ч 21/01 Гесударствеииык кемитет СССР пе делам изобретеиий и открытий(088.8)- -"и чА. И. Потапов, В. М, Гржехник-жуковский, Г. Л. Баранов,В. А, Беляев, А. Ю, Смирнов и Р, А, ВолковГ;,Ленинградский ордена Октябрьской Революции и ордена .:. ";,;:.м 1Трудового Красного Знамени технологический институтим. Ленсовета(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ДЕФЕКТОВ 2 д=КИзобретение относится к физическим методам контроля качества материалов и может быть использовано для определения глубины залегания дефектов проникающими в материал излучениями, например 5 электромагнитными.Известен способ определения параметров дефектов, заключающийся в том, что контролируемый объект сканируют проникающим излучением с изменяющейся по задан ной функции частотой и по значению последней при пороговом отклике на дефект в объекте судят о размерах этого дефекта 1.Однако достоверность контроля этим спо собом недостаточная, так как пороговый отклик близок к уровню шумов в преобразователе проникающего излучения в электрический сигнал.Наиболее близким к изобретению по тех нической сущности является способ определения параметров дефектов, заключающийся в том, что контролируемый объект облучают равномерным потоком электромагнитного излучения, принимают отраженное от 25 объекта излучение, преобразовывают его электронно-оптическим преобразователем в электрические сигналы и по значению последних судят о результатах контроля 2.Однако производительность контроля из вестным способом недостаточная, так как для определения глубины залегания дефекта необходимо облучать объект по различным направлениям, чтобы получить дополнительную информацию о координатах дефекта.Целью изобретения является повышение производительности определения глубины залегания дефекта в объектах прямоугольного сечения.Эта цель достигается тем, что формируют изображение дефекта и его тени на мишени передающей телевизионной трубки, выделяют передние фронты видеосигналов от дефекта и его тени, фиксируют временной интервал между этими фронтами, а глубину д залегания дефекта определяют по формуле где т - временной интервал;- угол падения излучения;п, - относительный показатель преломления;Й - нормирующий множитель.На чертеже представлено устройство, спомощью которого реализуется описанныйспособ, 828028Устройство содержит оптический квантовый генератор 1 (ОКГ), пластину Х/4 2, коллиматор 3, диафрагму 4, микрообъектив 5, в поле излучения которого расположен контролируемый материал 6, микрообъек тив 7, диафрагму 8, окуляр 9, передающую телевизионную трубку 10, отклоняющую систему 11, генератор 12 развертки и блок 13 обработки видеосигналов.Работает устройство следующим обра зом.Облученный ОКГ 1 дефект 14 создает тень 15 на нижней поверхности контролируемого материала 6, изображения дефекта и его тени фоксируются (формируются) 15 на мишени передающей телевизионной трубки 10. Появившиеся в процессе развертки указанных изображений видеосигналы направляются в блок 13 их обработки, где фиксируется временной интервал меж ду фронтами этих сигналов, и определяют глубину д залегания дефекта по формуле21 фаИ=К25где т - временной интервал;- угол падения излучения;п - относительный показатель преломления; ЗОЙ - нормирующий множитель.При этом следует угол 1 падения излучения выбирать таким, чтобы на мишени передающей трубки 10 между изображениями дефекта 14 и его тени 15 был опреде ленный интервал, обеспечивающий такой временной интервал между фронтами видеоимпульсов, который может быть зафиксирован в блоке 13 с необходимой для практики точностью. 40Формула изобретения Способ определения параметров дефектов, заключающийся в том, что контролируемый объект облучают равномерным потоком электромагнитного излучения, принимают отраженное от объекта излучение, преобразовывают его электронно-оптическим преобразователем в электрические сигналы и по значению последних судят о результатах контроля, отличающийся тем, что, с целью повышения производительности определения глубины залегания дефекта в объектах прямоугольного сечения, формируют изображение дефекта и его тени на мишени передающей телевизионной трубки, выделяют передние фронты видеосигналов от дефекта и его тени, фиксируют временной интервал между этими фронтами, а глубину д залегания дефекта определяют по формуле-. у п - Ип с1/ 22Ы=КЛ т - временной интервал;- угол падения излучения;п, - относительный показательломления;Й - нормирующий множитель. где преИсточники информации,принятые во внимание при экспертизе

Смотреть

Заявка

2765022, 03.05.1979

ЛЕНИНГРАДСКИЙ ОРДЕНА ТРУДОВОГО КРАС-НОГО ЗНАМЕНИ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТИМ. ЛЕНСОВЕТА

ПОТАПОВ АНАТОЛИЙ ИВАНОВИЧ, ГРЖЕХНИК-ЖУКОВСКИЙ ВЛАДИМИР МИХАЙЛОВИЧ, БАРАНОВ ГЕННАДИЙ ЛЕОНТЬЕВИЧ, БЕЛЯЕВ ВЛАДИМИР АНАТОЛЬЕВИЧ, СМИРНОВ АНДРЕЙ ЮРЬЕВИЧ, ВОЛКОВ РАДИЭЛЬ АЛЕКСЕЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 21/01

Метки: параметровдефектов

Опубликовано: 07.05.1981

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-828028-sposob-opredeleniya-parametrovdefektov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения параметровдефектов</a>

Похожие патенты